检查单元和用于校准检查单元的方法 |
|||||||
| 申请号 | CN201280032961.X | 申请日 | 2012-07-03 | 公开(公告)号 | CN103635799B | 公开(公告)日 | 2015-06-24 |
| 申请人 | 德国捷德有限公司; | 发明人 | M.布罗斯; W.德肯巴赫; W.海曼; H-P.埃尔; E.克斯特; | ||||
| 摘要 | 本 发明 涉及一种用于测试材料幅的测试器材和一种用于测试器材的校准方法。该测试器材配备有驱动装置，用于使校准介质传送通过测试器材，以检测校准介质的多个测量值。驱动装置布置在测试器材的壳体中，使得驱动装置免受来自周围环境的湿气或污染物的影响。为了在驱动装置布置在壳体中的情况下使校准介质传送通过测试器材，使用的驱动装置设置成与校准介质非 接触 地相互作用，并能够使校准介质非接触地传送通过测试器材。为此，优选地使用驱动装置与校准介质之间的磁相互作用。 | ||||||
| 权利要求 | 1.一种检查单元(300)，用于检查可以沿传送方向(x)传送通过检查单元的材料幅，所述检查单元包括： |
||||||
| 说明书全文 | 检查单元和用于校准检查单元的方法技术领域[0001] 本发明涉及一种用于检查材料幅(material web)的检查单元以及一种用于校准检查单元的方法。 背景技术[0002] 在制造材料幅(比如纤维材料幅)时，借助传送系统将材料幅传送通过材料幅的各加工部。为了在材料幅的制造期间检查材料幅，使用沿材料幅的传送路径装配的检查单元。在材料幅借助传送系统被传送经过牢固地装配的检查单元时，检查单元检测材料幅的测量值，以检查材料幅的一个或多个特定特性。 [0003] 为了校准沿材料幅的传送路径布置的并用于在制造材料幅时检查材料幅的检查单元，校准介质通常被带至检查单元的测量平面，以利用检查单元检测校准介质的校准测量值。为此，在材料幅检查中断期间，校准介质被手动放置在检查单元上，使得校准介质代替材料幅被暂时带至检查单元的测量平面。校准介质具有与其相关的一定目标值，在测量校准介质时，检查单元理想地检测该目标值。在校准时，确定实际测量值与该目标值的偏差。当完成校准时，检查单元调节成检查单元的测量值对应于属于校准介质的目标值。 [0004] 校准介质通常具有一定测量部分，在测量部分中，检测所述校准测量值。检查单元要在测量部分内检测的目标值通常印在测量部分外部的校准介质上。实施校准的人读取该目标值，并将其手动地输入检查单元。 [0005] 该校准方法的缺点在于，检查单元检测的校准测量值没有精确地限定并难以再现。这是因为，位于校准介质的测量部分内的检测地点(在检测地点，检查单元检测所述校准测量值)在所有三个空间方向上受到波动(因校准介质的手动插入和机械公差引起)的影响。此外，由于将校准介质放置在检查单元上的人对校准介质的不精确或错误插入，校准介质的手动插入涉及不合格校准的风险。 发明内容[0006] 本发明的目的是说明一种检查单元和一种用于检查单元的校准方法，该校准方法允许更精确地校准。 [0008] 检查单元构造成用于检查材料幅，并为此具有相应的操作模式，在操作模式中，检查单元可检查材料幅的一定特性。为了检查材料幅，检查单元检测被传送通过检查单元的材料幅的若干测量值。取决于应用，检查材料幅的例如光学、电子、机械或磁特性，例如以实施对材料幅的加工步骤的检验。还可在制造之后使用检查单元，例如以检查材料幅的质量。此外，检查单元具有另一操作模式，在该另一操作模式中，实施对检查单元的校准。在设立用于校准检查单元的操作模式中，可以通过检查单元检测与检查单元相关的校准介质的测量值来感测校准测量值。为此，当校准介质被传送通过用于校准的检查单元时，检测多个校准测量值。操作模式例如在检查单元的控制装置中进行程序控制。 [0009] 检查单元具有壳体，壳体接收测量元件，测量元件构造成检测材料幅的测量值和检测校准介质的校准测量值(提供用于校准检查单元)。此外，检查单元的壳体中布置有驱动装置，驱动装置构造成经由与校准介质的非接触式相互作用传送校准介质通过检查单元，校准介质设置成非接触地传送通过检查单元。 [0010] 而在先前校准中，校准介质被静止地带至检查单元的测量平面，因此，仅能检测校准介质的单个校准测量值，根据本发明，校准介质被传送通过用于校准的检查单元。经由这种传送通过，在校准时，不仅可检测一个，而且可在沿校准介质的多个位置处检测校准介质的多个校准测量值。与利用单个校准测量值(受到不可避免的波动)可获得的校准精度相比，由于多个校准测量值，可获得更高的校准精度。从多个校准测量值中，可以确立仅受到小的波动影响的所得到的校准测量值。例如，通过形成多个校准测量值的平均值，可消除单独校准测量值的波动。这可更精确地校准检查单元。 [0011] 然而，校准介质不是经由传送系统(用于使材料幅传送通过)被传送通过检查单元的，而是，根据本发明的检查单元经由其驱动装置提供独立地传送校准介质的可能性。校准介质经由检查单元的驱动装置被传送通过检查单元。然而，检查单元的驱动装置不是简单地经由额外的部件提供的，例如经由布置在检查单元外部且与检查单元独立的传送部件提供，确切地说，驱动装置结合进检查单元本身。如果采用用于校准介质的额外的传送部件，则它们必须相对于检查单元装配并根据检查单元调节，以能够实施对检查单元的足够精确校准。通过将驱动装置结合进检查单元中，可以更简单地实施校准，因为不再需要相对于检查单元调节任何额外的传送部件。 [0012] 用于使校准介质传送通过的驱动装置因此没有布置在检查单元外部，例如紧固到检查单元的壳体，而是，驱动装置容纳在检查单元的壳体内。因此，实现了驱动装置免受环境(检查单元在所述环境中用于检查材料幅)的影响。因为驱动装置布置在与检查单元的测量元件相同的壳体中，所以获得检查单元的紧凑结构。在磁性驱动装置的情况下，检查单元的壳体是非磁性的。 [0013] 在材料幅的加工环境中，例如经由湿气或污染物会发生外部影响，这可损坏驱动装置的功能。通过将驱动装置封装在检查单元的壳体中，使驱动装置免受来自该环境的湿气或污染物的影响，例如免受污染、灰尘、液体、水的影响，避免了该环境与驱动装置的接触。为此，检查单元的壳体密封成例如防溅水的，以避免来自环境的液体穿入壳体。 [0014] 为了在驱动装置布置在壳体中的情况下实现校准介质传送通过检查单元，使用构造成与校准介质非接触地相互作用并能够将校准介质非接触地传送通过检查单元的驱动装置。为此，优选地使用驱动装置和校准介质之间的磁相互作用。使校准介质传送通过所需的驱动力由校准介质与检查单元的驱动装置之间的非接触的相互作用产生。为此，驱动装置布置在检查单元的壳体内，直接邻近检查单元的面向待传送通过的材料幅或待传送通过的校准介质的一侧。 [0015] 布置在检查单元的壳体中的驱动装置具有例如若干磁体。这些磁体可以是永久磁体或者还可以是电磁体。所述磁体布置成同样具有磁元件的校准介质可借助驱动装置的磁体传送通过检查单元。所述传送通过经由驱动装置(布置在检查单元的壳体内)的磁体与校准介质(布置在检查单元外部)的磁元件之间的磁相互作用而实现。驱动装置移动以使校准介质传送通过。驱动装置的运动导致驱动装置的磁体移动，使得具有磁元件且被带至驱动装置的捕获区域的校准介质可经由与驱动装置的移动的磁体的相互作用而被捕获，并可传送通过检查单元。驱动装置的磁体的布置与校准介质上的磁元件的布置配合，使得当驱动装置的磁体移动时，校准介质可与磁体的运动同步地传送通过检查单元。或者，还可不移动驱动装置，而是采用静止的驱动装置，例如固定位置的电磁体，静止的驱动装置沿校准介质的传送方向布置在检查单元的壳体内，并以相移激励，以经由磁相互使用使校准介质传送通过检查单元。 [0016] 通过将驱动装置的磁体布置在检查单元的壳体中，校准介质可以空间上限定的方式传送通过检查单元，并且校准介质的横向位置可以再现。因此，保证了校准介质上可再现的检测地点以及可再现的校准。 [0017] 驱动装置的磁体和校准介质的磁元件优选地彼此配合，使得在尽可能连续地传送通过期间、至少在检测校准介质的测量值期间，在驱动装置的磁体与校准介质的磁元件之间产生相互吸引。驱动装置的磁体布置在检查单元中，并选择它们的磁场强度，使得在检测校准介质的测量值时，获得对校准介质的连续横向引导。但是相互吸引还导致校准介质吸引至检查单元。为了抵消该吸引，提供了至少一个引导元件，其对校准介质施加相反力，使得校准介质与检查单元相距一固定距离而传送通过检查单元。引导元件例如由非磁性引导板形成，该非磁性引导板作为间隔件布置在检查单元的面向待传送通过的校准介质的一侧上，使得其位于检查单元和传送通过的校准介质之间。为此，引导板可紧固到检查单元的壳体侧。 [0018] 在优选的示例性实施例中，检查单元具有至少两个驱动装置，至少两个驱动装置分别构造成与校准介质非接触地相互作用，并在校准介质传送方向的横向方向上彼此偏移地布置。此外，这些驱动装置优选地构造并布置成它们可以与校准介质彼此同步地相互作用。例如，这些驱动装置的磁体可以彼此同步地移动。特别地，彼此偏移的驱动装置可彼此平行地布置，并以类似的方式构造。例如，两个或若干驱动轮由此安装在同一轴上，驱动轮的相位关系选择成它们的磁体彼此适合地安装。经由至少两个驱动装置在传送方向的横向方向上偏移，可很好地限定校准介质的传送位置和传送方向，并保证校准介质的完全笔直运动。而且，这增加了传送通过的横向稳定性，这特别便于校准介质开始传送而被带至驱动装置的捕获区域。 [0019] 特别地，驱动装置的磁体布置成彼此相邻的磁体的磁极彼此相反地交替取向，以便驱动装置的磁体的运动使得在驱动装置的捕获区域中交替地提供磁北极和磁南极的力。在彼此平行延伸的两个或若干驱动装置的情况下，当也配备有交替极化磁体的校准介质被倾斜地无意带至驱动装置的捕获区域时，由此避免了校准介质在校准介质的倾斜位置传送通过。彼此相邻的磁体(在校准介质以及驱动装置中)同极性的情况下，当校准介质倾斜地插入，使得其由沿传送方向彼此偏移的两个驱动装置的磁体捕获时，易于发生倾斜的传送通过。 [0020] 例如，驱动装置具有至少一个驱动轮，驱动装置的磁体可经由驱动轮绕其旋转轴的旋转而移动。为此，磁体可直接紧固到驱动轮或载体元件(磁体紧固到载体元件)，载体元件经由驱动轮的旋转而移动。载体元件是例如绕驱动轮延伸的带(尤其是齿形带)，或者是绕驱动轮延伸的链。 [0021] 驱动装置，尤其是一个或多个驱动轮，优选地具有磁性主体或可磁化主体，驱动装置的磁体紧固到磁性主体或可磁化主体。这增加了驱动装置的至少两个磁体之间的磁通量，所述磁体的磁极彼此相反地沿径向取向。与单个磁体或将磁体紧固到非磁性主体相比，这获得了较大的磁体磁力，使得在较大的距离范围内可存在磁相互作用。因此，即使当驱动装置和校准介质之间存在相对大距离时，校准介质也能可靠并确定地传送通过。磁性主体或可磁化主体由例如磁性/可磁化驱动轮或磁性/可磁化载体元件形成，尤其由磁性/可磁化带或磁性/可磁化链形成。 [0022] 在一些示例性实施例中，采用至少一个驱动轮，磁体沿至少一个驱动轮的周边布置，使得各磁体的磁场线相对于驱动轮的旋转轴沿径向向外指向。例如，在各情况下，各磁体的磁极之一相对于驱动轮的旋转轴精确地沿径向向外指向。优选地，沿驱动轮的周边布置有磁北极沿径向向外指向的若干磁体和磁南极沿径向向外指向的若干磁体。在该情况下，相邻的磁体优选地沿驱动轮的周边布置，使得磁北极和磁南极沿径向向外交替取向。或者，驱动轮的所有磁体还可取向为它们的磁北极沿径向向外取向，或者它们的磁南极均沿径向向外取向。为了连续地获得相互吸引，校准介质的磁体在第一情况下布置成所有磁南极指向驱动轮，在第二情况下布置成所有磁北极指向驱动轮。 [0023] 例如，至少一个驱动轮的旋转轴平行于校准介质的传送平面取向，且垂直于校准介质的传送方向取向，校准介质在传送平面中传送通过用于校准的检查单元。但是至少一个驱动轮的旋转轴还可垂直于校准介质的传送平面取向。在另一示例性实施例中，驱动装置具有至少两个驱动轮和载体元件，磁体紧固到载体元件，驱动装置的磁体沿载体元件布置在载体元件的背离驱动轮的一侧。 [0024] 本发明还涉及一种包括两个检查单元的设备，两个检查单元相对于材料幅或校准介质的传送路径彼此相对。优选地，相对的检查单元中仅一个配备有根据本发明的驱动装置，而相对的检查单元中的另一个没有配备驱动装置。与给检查单元配备用于校准介质的驱动装置相比，这是有利的，因为不必使若干驱动装置例如在磁体的相位关系方面彼此配合。此外，由此可避免校准介质无意地在反向位置插入。 [0025] 为了校准，检查单元从材料幅移除(暂时)，检查单元切换到校准操作模式。在该操作模式，检查单元的驱动装置开始运动。随后，校准介质(例如手动地)布置在检查单元的意在感测测量值的一侧，并被带至驱动装置的捕获区域，在该捕获区域，可以实现驱动装置的非接触式相互作用，例如它们的磁力是可用的。经由与检查单元的驱动装置的非接触式相互作用，尤其经由非接触式磁相互作用，校准介质随后沿传送方向传送通过检查单元。在校准介质传送通过时，检查单元借助其测量元件在校准介质的测量部分内的不同位置处检测多个校准测量值。检测到的多个测量值随后用于校准检查单元。 [0026] 优选地，在驱动装置开始运动后，校准介质仅被带至驱动装置的捕获区域。与当驱动装置静止时引进校准介质相比，这使得易于将校准介质手动带至驱动装置的捕获区域。对于驱动装置的磁体的交替相反极性，当驱动装置静止时，会出现排斥位置，在排斥位置，驱动装置的磁体和待引入的校准介质的磁体彼此排斥。然而，当驱动装置移动时，排斥位置和吸引位置因交替的磁极性而交替。当手动引入校准介质时，因此，在任一情况下获得驱动装置(对校准介质施加吸引力)的磁体的位置。而且，这使得在人体工学方面更顺利地引入校准介质。对于当移动的驱动装置的力作用在校准介质上(当已手动引入校准介质时)时，操作者在引入校准介质时可感觉到该情况，并由此得到校准介质已到达驱动装置的捕获区域的直接反馈。 [0027] 校准介质构造成经由与驱动装置的非接触式相互作用、尤其经由驱动装置的运动可导致传送通过检查单元。为此，校准介质优选地具有与驱动装置的磁体配合的磁元件，使得校准介质可经由与驱动装置的磁相互作用传送通过检查单元。当驱动装置的磁体移动时，校准介质可由此与驱动装置的磁体的运动同步地传送通过检查单元。 [0028] 为了避免错误地插入校准介质，校准介质优选地仅在一侧上具有磁元件。因此，校准介质还可由驱动装置捕获，并仅在正确位置传送。校准介质的磁元件可以是永久磁体或校准介质的可磁化部分，例如一个或多个铁磁区域。 [0029] 校准介质优选地具有测量部分，在校准介质传送通过检查单元时，检测测量部分中的多个测量值。测量部分构造成从该测量部分的测量值可以确立多个校准测量值和用于校准检查单元所需的至少目标值。由此，检查单元的测量元件同时检测多个校准测量值以及检查单元理想地检测的目标值，从多个校准测量值中确立所得到的校准介质测量值，在校准之后，检查单元被调节至该目标值。因此，现今必须手动输入从校准介质读取的目标值不再是必需的。与先前校准介质(常规光学条形码简单地施加到与校准样本分离的校准介质)相比，测量部分输送信息项、目标值和校准测量值是有利的。对于额外的条形码，例如固定在测量部分旁边的条形码，通常不被检查单元的测量元件检测，尤其在非光学检查或当检查单元的光学分辨率不足时更如此。为了读取额外的条形码，条形码读取器因此必须特定设置在检查单元中或检查单元上。在测量部分输送目标值和校准测量值的情况下，这是不必要的。 [0030] 例如，校准介质的测量部分中具有校准样本和条形码，条形码叠置在校准样本上，并表示校准检查单元所需的至少一个目标值，检查单元被调节到该目标值。条形码布置在校准样本上，使得校准样本在特定部分中被条形码的条元(strip element)覆盖。在传送通过期间，通过检测测量值而(逐步或连续)扫描测量部分。在条形码的条元之间的空隙中检测的测量值用作校准测量值，校准所需的目标值从条形码的条元的顺序中确立。检查单元的至少一个得到的测量值由校准测量值形成，例如通过计算多个测量值的平均值形成。条形码是例如光学条形码、磁性条形码或多宽度条形码，这取决于检查单元的测量原理。 [0031] 检查单元优选地还具有这样的操作模式，其中，检查单元(可以是离线的)用作实验室设备，从而还可在材料幅的加工环境之外检测材料幅的材料样本。如果材料样本紧固到为此构造的样本载体，则检查单元经由其驱动装置能够检查材料样本(不是校准介质)。样本载体由此与上述校准介质类似地构造，并配备有例如相应的磁体。 [0032] 为了使用用于检查材料幅样本的检查单元，实施以下步骤： [0033] -将材料幅样本紧固在样本载体的测量部分中； [0034] -将样本载体布置在检查单元的意在感测测量值的一侧，使得样本载体到达检查单元的驱动装置的捕获区域(如适用，预先设定在运动中)； [0035] -借助驱动装置使样本载体沿传送方向传送通过检查单元； [0036] -在样本载体传送通过检查单元时，借助检查单元的测量元件在材料幅样本的测量部分内的不同位置处检测多个测量值； [0038] 在下文中，参考附图以示例的方式说明本发明。附图中： [0039] 图1是包括用于检查材料幅的两个相对检查单元的设备； [0040] 图2示出校准样本(图2a)、校准介质(图2b)和校准介质配备的两个磁体(图2c)； [0041] 图3是两个相对检查单元和传送通过两个相对检查单元之间的校准介质的侧视图(图3a)以及下部检查单元的俯视图(图3b)； [0042] 图4示出用于使校准介质传送通过的驱动装置的第一示例性实施例； [0043] 图5示出用于使校准介质传送通过的驱动装置的第二示例性实施例； [0044] 图6示出用于使校准介质传送通过的驱动装置的第三示例性实施例。 具体实施方式[0045] 在材料幅传送通过根据本发明的检查单元时，检查单元检测材料幅的测量值，以根据这些测量值推断材料幅的特性。该特性可以是例如光反射、传输、发光或者例如磁性印刷图像或防伪线的磁特性，或者机械特性，例如材料幅的厚度或其表面状况等。特别地，根据本发明的检查单元构造成用于测试材料幅的发光特性，在材料幅制造时，发光物质被施加到材料幅或被结合进材料幅中。例如，检查单元用于检查造纸机中的纸幅，并由此布置在造纸机内，使得其可用于在制造纸幅期间在纸幅传送通过造纸机时检查纸幅的光学特性。对于校准，通常从检查材料幅的测量位置暂时移除常常沿材料幅的传送路径装配的检查单元，并在该移除位置进行校准。或者，例如当中断制造材料幅时，检查单元可在校准期间布置在沿材料幅的传送路径的那个位置，在该位置，检查单元还检查材料幅。 [0046] 图1示出包括用于检查材料幅的两个彼此相对的检查单元200、300的配置，将校准介质10沿传送方向x传送通过两个彼此相对的检查单元之间，以扫描校准介质的两侧。为了检查材料幅，材料幅(而不是校准介质10)传送通过两个检查单元200、300之间。在两个检查单元的前侧，两个检查单元配备有引导板28、38，引导板引导材料幅或校准介质10在它们的传送平面T中通过检查单元之间。两个检查单元200、300电互连(未示出)，以交换控制命令或数据。检查单元300具有显示屏5，用于输出材料幅检查的结果。除了图1的设备，同样可仅采用检查单元300，例如进行材料幅的一侧检查。 [0047] 图2b示出校准介质10的详细视图，校准介质配备有校准样本3，条形码2叠置在校准样本上。条形码2施加在例如透明箔上，并固定到校准样本3，以确保它们的固定相互联系，参考图2a。配备有条形码2的校准样本3夹在校准介质的两个板11、12之间，使得可经由上部板12的间隙13看见条形码。上部板12的另外间隙具有插入其中的多个磁体14、15。磁体通过与下部板11的磁相互作用而固定，为此，下部板是磁性的。上部板12是非磁性的。或者，磁体14、15当然还可以不同方式紧固，例如通过粘合或夹紧。磁体14和 15位于两个平行排16、17中，在两个平行排内，磁体14和15分别交替排列。磁体14的磁北极向上布置，而磁体15是相反的，磁南极向上布置，参考图2c。 [0048] 在条形码2的透明部分(条形码空隙)中(在该透明部分中可看见校准样本3)，检查单元在扫描校准样本3时检测多个校准测量值。校准测量值是例如校准样本的光学测量值，其可用于校准检查单元。在扫描校准介质时，条形码提供由检查单元检测的测量值的调制，因为条形码带是吸收光的。该调制由检查单元解码，以确立校准所需的与校准样本3相关的一个或多个目标值。 [0049] 图3a示出两个检查单元200、300的侧视图，为了说明，分别在图3a中省略了壳体20、30的面向观察者的侧壁。在该示例中，仅检查单元300是根据本发明的检查单元。检查单元200有利地用于使材料幅的双侧扫描成为可能，但是对于本发明并非必需。在检查单元200中，提供了控制设备21，其控制通过测量元件22对测量值的检测。然而，为了避免校准介质10的无意错误插入，检查单元200不具有根据本发明的驱动装置。然后，当(虚线)磁体14、15朝下时，校准介质10可仅在所示方位上被检查单元300的驱动装置捕获，参考图3a。检查单元200借助其测量元件22(仅示意性示出)检测来自校准介质10的校准样本3上侧的测量值。校准样本3的上侧可配备有另一条形码，以同样给检查单元200供给目标值，用于检查单元200的校准，该另一条形码与位于校准样本下侧的条形码2(由检查单元300检测)大致不同。另一条形码由例如固定到校准样本上侧的另一箔片提供。 [0050] 检查单元300具有壳体30，该壳体封装有测量元件32(仅示意性示出)和用于传送校准介质10的驱动装置34、35、37。壳体30完全关闭，以使来自环境的污染和湿气远离检查单元300的驱动装置和测量元件32。控制设备31控制测量元件32，并处理检测到的测量值。控制设备31中设立有用于检测材料幅和用于校准检查单元300(如适用，检查单元200)的操作模式。在该示例中，测量元件32构造成用于检查材料幅的光学特性，并经由一窗口33在检测地点25处检测材料幅或校准介质的测量值，所述窗口位于壳体30的面向传送平面T的一侧39上。在光学测量元件32的情况下，这些包括例如至少一个光源和检测器。图3b示出根据图3a发明的检查单元300的俯视图。校准介质10沿传送方向x的运动导致校准介质的测量部分24移动通过检测地点25，由此，测量元件32检测测量部分24的多个测量值。 [0051] 此外，控制设备31控制电机36，通过电机，驱动轮37可设定成绕旋转轴A旋转。驱动轮37的旋转导致沿驱动轮37的周边交替布置的磁体34、35移动。磁体34布置成它们的磁北极沿径向向外，而磁体35布置成它们的磁南极沿径向向外。驱动轮37的旋转导致磁体34和磁体35的磁力交替地作用在驱动装置的捕获区域B中，参见图3a。 [0052] 为了校准，驱动轮37首先开始旋转，随后校准介质10插入两个检查单元200、300之间，直到检查单元的磁体14、15之一进入驱动轮的磁体34、35的捕获区域B中。一旦驱动轮37的旋转导致驱动轮的磁体34之一成为直接邻近壳体侧39，驱动轮的磁体之一的磁力在捕获区域B有吸引力地作用在插入的校准介质10的第一磁体15上(图3a所示位置)。磁体15和34之间有吸引力的磁相互作用导致校准介质10沿传送方向x与驱动轮37的旋转同步地移动。传送校准介质通过检查单元300的进给力由磁体14和35之间有吸引力的磁相互作用与磁体15和34之间有吸引力的磁相互作用交替产生。引导元件38像间隔件那样作用在校准介质10上，以使校准介质10不会朝向壳体侧39移动。校准介质的最后磁体一通过捕获区域B，便不再存在任何作用在校准介质10上的进给力。 [0053] 图4a示出用于图3a和图3b示例的驱动装置的第一实施例。驱动装置34、35、37和电机36均布置在检查单元的壳体中，校准介质10外部。在图示中，省略了检查单元的壳体和检查单元的剩余部分，然而，仅示出引导元件28、38。引导元件38具有开口，检查单元的测量元件经由该开口被引导至检测地点25。在传送方向的横向方向上偏移的两个驱动轮37在该示例中用作驱动装置，驱动轮紧固到相同的旋转轴A，并由电机36驱动。如上所述，具有交替磁极性的磁体34、35沿驱动轮的周边布置。两个驱动轮37的磁体34、35以它们的磁极性彼此均匀的方式沿周边布置。在图4a、4b中，仅示意性示出在校准介质10中，沿两个排16、17的磁体14、15的位置，省略了要布置在间隙13中的校准样本。图4b示出图 4a的不具有引导元件38、28的配置。 [0054] 图5示出根据本发明的驱动装置的第二示例性实施例。驱动装置34、35、37、40和电机36均布置在检查单元的壳体中，校准介质10外部。电机36经由其旋转轴A驱动在传送方向x的横向方向上彼此偏移的两个驱动轮37。两个驱动轮经由带40分别连接到沿传送方向偏移的另一驱动轮，以便也驱动该另一驱动轮。两个带40上分别布置有磁体34、35，磁体34、35具有交替的磁极性。在该示例性实施例中，校准介质10在传送刚开始时仅经由与两个磁体的相互作用而沿传送方向x移动，但是在传送过程中，校准介质与布置在带的面向校准介质10一侧的所有磁体一起移动。 [0055] 图6示出根据本发明的驱动装置的第三示例性实施例。驱动装置34、35、37和电机36均布置在检查单元的壳体中，校准介质10外部。电机36驱动该驱动轮37，这还通过借助带的联接来驱动第二驱动轮。如图3和4中的示例，这些驱动轮37还具有沿周边交替布置的磁体34、35，磁体34、35的磁极性交替地沿径向向外和沿径向向内指向。然而，与先前示例相比，在此采用了旋转轴A垂直于校准介质10的传送平面T取向的驱动轮37。两个驱动轮插入板41的相应凹部中，板41布置在检查单元的壳体内，或者形成壳体壁的一部分。除了图6所示的两个驱动轮，还可采用单个驱动轮37。图4的驱动装置或图5的驱动装置还可类似地在相同方位上使用，即旋转轴A垂直于传送板T。在旋转轴A的该方位的情况下，与图2b和3b的校准介质相比，校准介质10的边缘配备有磁体14、15排16，参见图6。因此，它们与驱动轮37的磁体34、35一起产生具有足够强度的磁相互使用。 |
||||||
