一种自校正检测精度的发爆器测试仪

申请号 CN201510928993.3 申请日 2015-12-15 公开(公告)号 CN105403110A 公开(公告)日 2016-03-16
申请人 平顶山宇恒高科电气自动化有限公司; 发明人 王宪法; 万平; 万鹏辉; 高建洋; 梁树华; 梁诗琪;
摘要 本 发明 公开一种自校正检测 精度 的发爆器测试仪,包括仪器基准机、发爆测试 电路 、粗调电路、微调电路以及显示单元,所述发爆测试电路连接仪器基准机,仪器基准机分别连接粗调电路和微调电路,显示校正前后的 电流 冲量和供电时间的显示单元连接仪器基准机,所述仪器基准机包括用于检测发爆测试电路中 电压 的 采样 电路和用于将采样电路的检测电压与基准电压进行比较,所述比较器与分配器连接,由分配器通过粗调电路和微调电路控制发爆测试电路中可调 电阻 的阻值,以便校准发爆测试电路的电压。本发明结构设计巧妙实用,提高了发爆器测试仪的检测精度,对发爆器的正常发爆具有重要意义。
权利要求

1.一种自校正检测精度的发爆器测试仪,其特征在于,包括仪器基准机、发爆测试电路、粗调电路、微调电路以及显示单元,所述发爆测试电路连接仪器基准机,仪器基准机分别连接粗调电路和微调电路,显示校正前后的电流冲量和供电时间的显示单元连接仪器基准机,所述仪器基准机包括用于检测发爆测试电路中电压采样电路和用于将采样电路的检测电压与基准电压进行比较的比较器,所述比较器与分配器连接,由分配器通过粗调电路和微调电路控制发爆测试电路中可调电阻的阻值,以便校准发爆测试电路的电压。
2.根据权利要求1所述的一种自校正检测精度的发爆器测试仪,其特征在于,所述仪器基准机还包括自检电路,自检电路分别连接采样电路、比较器和分配器。

说明书全文

一种自校正检测精度的发爆器测试仪

技术领域

[0001] 本发明涉及矿井下施工设备,尤其是一种自校正检测精度的发爆器测试仪。

背景技术

[0002] 发爆器测试仪是一台以数字形式显示的发爆器参数综合测试仪,可同时测量发爆器的供电时间、输出冲能两个电气参数。发爆器测试仪用久后,中心位置会零漂,出现测量不准确的问题,需要加以改进。

发明内容

[0003] 本发明的目的是:提供一种自校正检测精度的发爆器测试仪,解决发爆器测试仪测量不准确的问题。
[0004] 本发明的技术方案是:一种自校正检测精度的发爆器测试仪,包括仪器基准机、发爆测试电路、粗调电路、微调电路以及显示单元,所述发爆测试电路连接仪器基准机,仪器基准机分别连接粗调电路和微调电路,显示校正前后的电流冲量和供电时间的显示单元连接仪器基准机,所述仪器基准机包括用于检测发爆测试电路中电压采样电路和用于将采样电路的检测电压与基准电压进行比较的比较器,所述比较器与分配器连接,由分配器通过粗调电路和微调电路控制发爆测试电路中可调电阻的阻值,以便校准发爆测试电路的电压。
[0005] 所述仪器基准机还包括自检电路,分别连接采样电路、比较器和分配器。
[0006] 与现有技术相比,本发明的有益效果是:在现有发爆器测试仪的基础上增加了仪器基准机,分别连接发爆测试电路、粗调电路和微调电路,用于校正发爆测试电路的基准电压,使发爆测试电路的电流冲量和发爆响应时间达到标准,具体是由仪器基准机中的采样电路、比较器和分配器,并通过粗调电路和微调电路进行校正的,结构设计巧妙实用,提高了发爆器测试仪的检测精度,对发爆器的正常发爆具有重要意义。附图说明
[0007] 图1是本发明的结构框图
[0008] 图2是本发明一实施例的采样电路图。

具体实施方式

[0009] 下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0010] 图1是本发明的结构框图。参考图1,本发明设计了一种自校正检测精度的发爆器测试仪,包括仪器基准机、发爆测试电路、粗调电路、微调电路以及显示单元。所述仪器基准机分别连接发爆测试电路、粗调电路、微调电路和显示单元。仪器基准机检测发爆测试电路的电流冲量和供电时间,通过粗调电路和微调电路校正发爆测试电路的基准电压,使发爆测试电路的电流冲量和供电时间达到标准。显示单元连接仪器基准机,是用来显示校正前后的电流冲量和供电时间,方便用户了解实际情况。
[0011] 所述仪器基准机包括采样电路、比较器和分配器。所述发爆测试电路连接采样电路,采样电路检测发爆测试电路的电流冲量和供电时间,对电流冲量和供电时间进行处理,然后输出检测电压。比较器连接采样电路,接收采样电路输出的检测电压,与比较器设计的基准电压进行比较,计算出误差,输出误差信号。分配器连接比较器,同时还连接粗调电路和微调电路,分配器接收比较器输出的误差信号,根据误差大小选择采用粗调电路和/或微调电路控制发爆测试电路中可调电阻的阻值,校正发爆测试电路的基准电压,误差大时用粗调电路或者是粗调电路与微调电路结合进行校正,误差小时用微调电路进行校正。
[0012] 图2是本发明一实施例的采样电路图。为了得到抗干扰的采样电路,把主、辅采样电路输出端用电阻R3连接起来,R1、R2分别是主、辅采样电路的采样电阻。则流过R3的电流就是对消掉干扰的采样电流Isc。取R1=R2=R3=R。设原采样电路的采样比例为N,即Im/Is=N,其中,Im是流过主PMOS开关管Mp的电流,Is是主采样电路的输出值。加入电阻R3后,采样电流Isc与开关管电流Im的比例发生了变化。Isx是辅采样电路的输出值,IMX是流过辅PMOS开关管Mpx的电流。Isc很好的反应了没有干扰的电感电流,并提高了采样比例。
[0013] 所述仪器基准机还包括自检电路,分别连接采样电路、比较器和分配器。
[0014] 本发明结构设计巧妙实用,提高了发爆器测试仪的检测精度,对发爆器的正常发爆具有重要意义。
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