该申请人涉及专利文献:517,涉及专利:5042件
覆盖主要的IPC大类包括:H01(2487)、G01(896)、H04(373)、H03(367)、G06(310)、A61(293)、G02(245)、G03(233)、G11(203)、B01(166)
专利类型分布状况:发明公开(2283)、发明申请(1706)、发明专利(1048)、发明授权(4)、外观设计(1)
专利不同法律状态数据分布状况:公开(2734)、有效专利(1230)、未知(873)、实质审查(90)、失效专利(58)、无效专利(57)
该领域主要的发明人有:Boon Teik Chan(74)、Beyne, Eric(33)、曾文德(33)、Francky Catthoor(31)、Gaspard Hiblot(30)、PEUMANS, Peter(28)、MERTENS PAUL(24)、Peter Peumans(24)、Jan Van Houdt(23)、VAN HOUDT JAN(23)
详细地址:比利时 比利时勒芬
专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
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发明公开 | 模数转换器ADC电路和用于控制所述ADC电路的方法 | CN118157673A |
发明授权 | 半导体器件以及用于制造此类半导体器件的方法 | CN111384178B |
发明公开 | 用于产生紧密间隔开的特征的图案的方法 | CN118053740A |
发明公开 | 用于将埋入式接线与源极/漏极体互连的方法 | CN117936383A |
发明授权 | 在Si基材上集成III-V器件 | CN110896049B |
发明授权 | 快速且稳健的基于傅立叶域的细胞区分 | CN111512140B |
发明授权 | 一种用于通过转印将半导体组件耦合到目标衬底的方法 | CN110349912B |
发明公开 | 用于生长二维材料晶体的模板 | CN117403324A |
发明授权 | 包括边缘终端结构的III-V半导体器件及其形成方法 | CN110931546B |
发明公开 | 自动化缺陷分类和检测 | CN116935092A |
排名 | 企业名称 | 专利 |
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1 | IMEC VZW | 2239 |
2 | IMEC | 1814 |
3 | IMEC vzw | 763 |
4 | IMEC INTER UNI MICRO ELECTR | 541 |
5 | Stichting IMEC Nederland | 505 |
6 | Imec VZW | 301 |
7 | Imec | 162 |
8 | INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) | 105 |
9 | IMEC公司 | 76 |
10 | Interuniversitair Microelektronica Centrum (IMEC) | 62 |
排名 | 发明人 | 专利 |
---|---|---|
1 | Boon Teik Chan | 74 |
2 | Beyne, Eric | 33 |
3 | 曾文德 | 33 |
4 | Francky Catthoor | 31 |
5 | Gaspard Hiblot | 30 |
6 | PEUMANS, Peter | 28 |
7 | MERTENS PAUL | 24 |
8 | Peter Peumans | 24 |
9 | Jan Van Houdt | 23 |
10 | VAN HOUDT JAN | 23 |
排名 | 企业名称 | 专利 |
---|---|---|
1 | 上海专利商标事务所有限公司 | 504 |
2 | McDonnell Boehnen Hulbert & Berghoff LLP | 503 |
3 | AWA Sweden AB | 403 |
4 | DenK iP | 305 |
5 | Patent Department IMEC | 280 |
6 | Sarlet, Steven Renaat Irène | 151 |
7 | Hertoghe, Kris Angèle Louisa | 137 |
8 | Bird, William Edward | 135 |
9 | pronovem | 122 |
10 | Clerix, André | 121 |
排名 | 代理人 | 专利 |
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1 | 杨洁 | 174 |
2 | 蔡悦 | 127 |
3 | 陈斌 | 79 |
4 | 蔡文清 | 60 |
5 | 江磊 | 55 |
6 | 王颖 | 52 |
7 | 郭辉 | 40 |
8 | 沙永生 | 28 |
9 | 亓云 | 20 |
10 | 张欣 | 18 |