专利类型 | 发明授权 | 法律事件 | 公开; 实质审查; 授权; 未缴年费; |
专利有效性 | 失效专利 | 当前状态 | 权利终止 |
申请号 | CN200410073801.7 | 申请日 | 2004-09-01 |
公开(公告)号 | CN100483255C | 公开(公告)日 | 2009-04-29 |
申请人 | 中国科学院电子学研究所; | 申请人类型 | 科研院所 |
发明人 | 高晓光; 李建平; 何秀丽; | 第一发明人 | 高晓光 |
权利人 | 中国科学院电子学研究所 | 权利人类型 | 科研院所 |
当前权利人 | 中国科学院电子学研究所 | 当前权利人类型 | 科研院所 |
省份 | 当前专利权人所在省份:北京市 | 城市 | 当前专利权人所在城市:北京市海淀区 |
具体地址 | 当前专利权人所在详细地址:北京市海淀区北四环西路19号 | 邮编 | 当前专利权人邮编: |
主IPC国际分类 | G03F7/20 | 所有IPC国际分类 | G03F7/20 ; B81B7/00 ; H05B41/00 |
专利引用数量 | 2 | 专利被引用数量 | 0 |
专利权利要求数量 | 7 | 专利文献类型 | C |
专利代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 专利代理人 | 周国城; |
摘要 | 本 发明 基于微 电子 机械系统技术的红外 光源 及制备方法,属于红外技术领域,具体而言是一种基于微电子机械系统技术的红外光源及制备方法。该红外光源芯片包括 框架 、加热 电极 、加热电极的压焊 块 和红外 辐射 膜;在框架上表面固接 支撑 膜 ,支撑膜上表面固接加热电极,电极两侧有电极压焊块;支撑膜和电极的上表面,覆有一层 钝化 膜;电极压焊块凸露于钝化膜的外表面;在钝化膜的外表面正中部位,固接红外辐射膜。芯片还包括测温电极和红外反射镜。其制备方法是:第一步,制备红外发光部分;第二步,制备红外反射镜;第三步,将两部分键合到一起。本发明功耗低、调制 频率 高、易阵列化,输出为准平行红外光束。本发明的方法实现低成本、大批量制备。 | ||
权利要求 | 1.一种基于微电子机械系统技术的红外光源,其特征在于:芯片包 括框架、加热电极、加热电极的压焊块和红外辐射膜;在框架上表面固接 有支撑膜,支撑膜上表面固接有加热电极,电极两侧设有加热电极的压焊 块;支撑膜和加热电极的上表面覆有一层钝化膜;加热电极的压焊块凸露 于钝化膜的外表面;在钝化膜的外表面正中央部分固接有一片红外辐射 膜;红外光源芯片还包括于红外辐射膜四周,在钝化膜的外表面周边缘部 固结有一用于聚光的红外反射镜;红外反射镜与钝化膜的外表面键合或粘 结到一起。 |
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说明书全文 | 技术领域:本发明属于红外技术领域,具体而言是一种基于微电子机械系统 (MEMS)技术的红外宽带光源结构及制备方法。 背景技术: 红外传感技术已经广泛应用于火灾报警,车辆、人员探测,CO2、CH4 等气体检测以及测温等方面。目前广泛应用的宽带红外光源是利用加热后 的螺旋状金属灯丝(多为镍铬丝)发射红外光。这种光源功耗大,而且发 射出的红外光不均匀,光束发散。在螺旋状灯丝外增加陶瓷等红外辐射材 料可以提高光源的发光均匀性,但其性能仍不能令人满意。特别是这些传 统的红外光源由于发热体(灯丝)热容量比较大,调制频率很低,在很多 应用场合中不得不使用比较复杂的机械斩波装置,使得系统可靠性降低, 成本提高。 微电子机械系统(MEMS)技术的发展使得制备高调制频率、低功耗的 宽带红外光源成为可能。美国专利“High frequency infrared emitter” (US6297511)介绍了一种基于微电子机械系统(MEMS)技术的高调制频率 红外光源。 发明内容: 本发明的目的是提供一种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光 源结构及其制备方法,该结构的红外光源具有功耗低、调制频率高、易阵 列化的优点,而且本发明集成了用于聚光的红外反射镜,输出为准平行红 外光束。这种结构的红外光源可以采用本发明的方法实现低成本、大批量 制备。 为达到上述目的,本发明的技术解决方案是提供: 一种基于微电子机械系统技术的红外光源,其芯片包括框架、加热电 极、加热电极的压焊块和红外辐射膜;在框架上表面固接有支撑膜,支撑 膜上表面固接有加热电极,电极两侧设有加热加热电极的压焊块;支撑膜 和加热电极的上表面覆有一层钝化膜;加热加热电极的压焊块凸露于钝化 膜的外表面;在钝化膜的外表面正中部位,固接有一片红外辐射膜。 所述的红外光源,其所述芯片还包括测温电极,测温电极与加热电极 位于同一层,测温电极两侧设有测温加热电极的压焊块,测温加热电极的 压焊块凸露于钝化膜的外表面。 所述的红外光源,其所述红外辐射膜为红外发光体,其上表面覆有一 层类金刚石膜或碳化硅膜;其面积在0.1mm×0.1mm到5mm×5mm之间。 所述的红外光源,其所述框架,为筒形框架,其中部有通孔;或在框 架上表面中部有一凹槽,支撑膜、电极和钝化膜组成的层面上,有孔与凹 槽相通。 所述的红外光源,其所述框架为硅材料,电极为金属材料,支撑膜为 氧化硅/氮化硅材料,钝化膜为氮化硅、氧化硅或者氮氧硅材料。 所述的红外光源,其所述芯片还包括红外反射镜,于红外辐射膜四周, 在钝化膜的外表面周边缘部固接有一用于聚光的红外反射镜;红外反射镜 与钝化膜的外表面键合或粘结到一起。 所述的红外光源,其所述红外反射镜,在其反射表面沉积一层金膜以 增大红外反射率。 所述的红外光源,其所述红外反射镜,是以聚碳酸酯(PC)、聚甲醛 (POM)、聚酰亚胺(Polyurethane)、聚二甲基硅氧烷(PDMS)、SU8胶、聚 甲基丙烯酸甲酯(PMk4A)、聚氯乙烯(PVC)、聚苯乙烯(PS)材料中的一种制 作。 所述的红外光源,其可组成红外光源阵列。 一种如所述的红外光源的制备方法,包括下列两种步骤。 第一种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源制备工艺流程如 下: (一)制备微电子机械系统(MEMS)红外发光部分: 1)准备硅片; 2)热氧化; 3)淀积氮化硅; 4)第一次光刻,制备金属加热电极及测温电极; 5)淀积氮化硅、氧化硅或氮氧硅钝化膜; 6)第二次光刻,刻蚀电极压焊块通孔; 7)淀积电极压焊块; 8)淀积红外辐射层,第三次光刻,刻蚀红外辐射层图形; 9)第四次光刻:光刻背面; 10)背面刻蚀氮化硅、腐蚀氧化硅,利用硅各向异性腐蚀技术形成 膜片结构。 (二)制备微电子机械系统(MEMS)红外反射镜: 1)制备微电子机械系统(MEMS)红外反射镜模具,模具为金属、 陶瓷或硅材料; 2)利用模压技术或注塑技术制备红外反射镜结构,所用材料为塑 料,特别是所用材料可以是聚碳酸酯(PC)、聚甲醛(POM)、聚酰亚 胺(Polyurethane)、聚二甲基硅氧烷(PDMS)、SU8胶、聚甲基丙 烯酸甲酯(PMk4A)、聚氯乙烯(PVC)、聚苯乙烯(PS)等; 3)在红外反射镜结构表面沉积金属层以提高红外反射率。 (三)将微电子机械系统(MEMS)红外发光部分与红外反射镜键合 到一起,裂片、封装。 第二种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源制备工艺流程如 下: (一)制备微电子机械系统(MEMS)红外发光部分: 1)准备硅片; 2)热氧化; 3)淀积氮化硅; 4)第一次光刻,制备金属加热电极及测温电极并形成电极压焊 块; 5)淀积氮化硅、氧化硅或氮氧硅钝化膜; 6)第二次光刻,刻蚀电极压焊块通孔; 7)淀积电极压焊块; 8)淀积红外辐射层,第三次光刻,刻蚀红外辐射层图形; 9)第四次光刻:光刻正面进行; 10)正面刻蚀氮化硅、腐蚀氧化硅,利用硅各向异性腐蚀技术形 成膜片结构。 (二)制备微电子机械系统(MEMS)红外反射镜: 1)制备微电子机械系统(MEMS)红外反射镜模具,模具为金属、 陶瓷或硅材料; 2)利用模压技术或注塑技术制备红外反射镜结构,所用材料为塑 料,特别是所用材料可以是聚碳酸酯(PC)、聚甲醛(POM)、聚酰亚 胺(Polyurethane)、聚二甲基硅氧烷(PDMS)、SU8胶、聚甲基丙 烯酸甲酯(PMk4A)、聚氯乙烯(PVC)、聚苯乙烯(PS)等; 3)在红外反射镜结构表面沉积金属层以提高红外反射率。 (三)将MEMS红外发光部分与红外反射镜键合到一起,裂片、封 装。 本发明的优点与积极效果:本发明提供了一种基于微电子机械系统 (MEMS)技术的红外光源及其加工方法,实现了用微电子机械系统技术低 成本大批量生产宽带红外光源。与传统的白炽灯型红外光源相比,本发明 可以降低红外光源的功耗,提高红外光的均匀性,延长光源寿命,更为重 要的是本发明的发热体热容量很小,调制频率很高(可达到100赫兹)。 与其它基于基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源相比,本发明的 红外光源集成了用于聚光的红外反射镜,输出为红外准平行光束。此外, 本发明的基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源很容易实现阵列化。 附图说明: 图1是本发明的两种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源芯 片结构剖面示意图,其中:图1(1)所示为一种红外光源芯片结构;图1 (2)所示为另一种红外光源芯片结构; 图2是本发明的第一种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源 制备工艺示意图,其中:图2(1)为制备MEMS红外发光部分的工艺示意 图;图2(2)为制备MEMS红外反射镜的工艺示意图;图2(3)为将MEMS 红外发光部分与红外反射镜键合到一起形成MEMS红外光源芯片; 图3是本发明的第二种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源 制备工艺的示意图,其中: 图3(1)为一种制备MEMS红外发光部分的工艺示意图,其中:(a) 为热氧化氧化硅、淀积氮化硅;(b)为第一次光刻,淀积金属形成加热电 极和测温电极;(c)为淀积氮化硅、氧化硅或者氮氧硅钝化膜;(d)为第 二次光刻,在钝化膜上刻蚀电极压焊块通孔;(e)为淀积电极压焊块;(f) 为淀积红外辐射层,光刻并刻蚀红外辐射层图形;(g)为第四次(正面) 光刻,正面刻蚀氮化硅、腐蚀氧化硅形成硅腐蚀窗口;(h)为利用硅各向 异性腐蚀与各向同性腐蚀技术,正面腐蚀硅形成膜片结构; 图3(2)为制备MEMS红外反射镜的工艺示意图,其中:(a)为制备 MEMS红外反射镜模具;(b)为利用模压技术或注塑技术制备红外反射镜 结构;(c)为脱模并在反射镜表面制备红外反射层; 图3(3)为将MEMS红外发光部分与红外反射镜键合到一起形成MEMS 红外光源芯片。 具体实施方法: 结合附图说明本发明的具体实施方法。 图1是本发明的两种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源芯 片结构剖面示意图。其中,1为硅框架,2为氧化硅/氮化硅支撑膜,3为 金属加热电极及测温电极,4为钝化膜(氮化硅、氧化硅或者氮氧硅),5 为加热电极及测温加热电极的压焊块,6为红外辐射膜,7为用于聚光的 红外反射镜。 图1(1)所示,一种红外光源芯片结构是:硅框架1为筒形框架, 其中部有通孔8。在硅框架1上表面固接有氧化硅/氮化硅支撑膜2,支撑 膜2上表面固接有金属加热电极及测温电极3,电极3两侧设有加热电极 及测温加热电极的压焊块5。支撑膜2和金属加热电极及测温电极3的上 表面,覆有一层钝化膜4,钝化膜4为氮化硅、氧化硅或者氮氧硅材料。 加热电极的压焊块5凸露于钝化膜4的外表面。在钝化膜4的外表面正中 部位,固接有一片红外辐射膜6,红外辐射膜6四周,在钝化膜4的外表 面周边缘部固接有一用于聚光的红外反射镜7。 图1(2)所示,另一种红外光源芯片结构是:在硅框架1上表面中 部有一凹槽9。硅框架1上表面固接有氧化硅/氮化硅支撑膜2,支撑膜2 上表面固接有金属加热电极及测温电极3,周边设有加热电极及测温加热 电极的压焊块5。支撑膜2和金属加热电极及测温电极3的上表面,覆有 一层钝化膜4,钝化膜4为氮化硅、氧化硅或者氮氧硅材料。加热电极的 压焊块5凸露于钝化膜4的外表面。在钝化膜4的外表面正中部位,固接 有一片红外辐射膜6,红外辐射膜6四周,在钝化膜4的外表面周边固接 有一用于聚光的红外反射镜7。 支撑膜2、电极3和钝化膜4组成的层面上,有孔与凹槽9相通。 所述红外反射镜7,可以是由聚碳酸酯(PC)、聚甲醛(POM)、聚酰亚 胺(Polyurethane)、聚二甲基硅氧烷(PDMS)、SU8胶、聚甲基丙烯酸甲 酯(PMk4A)、聚氯乙烯(PVC)、聚苯乙烯(PS)等材料中的一种制作。 图1中红外准平行光束向上发射。本发明的MEMS红外光源芯片采用 膜片结构,红外辐射膜6膜片为红外发光体,膜片周围下方为起支撑作用 的硅框架1,在红外辐射膜6的膜片上表面有一层类金刚石膜或碳化硅膜 以增大膜片的红外辐射能力。图1(1)、图1(2)的红外反射镜7由聚碳 酸酯(PC)塑料模压而成,在红外反射镜7表面沉积金膜以增大红外反射 率。 本发明的红外辐射膜6的膜片为一个平面,红外光束的均匀性得到提 高;本发明的红外辐射膜片6热容量很小,使得光源可以快速调制(可达 到100赫兹);本发明的红外发光膜片6面积很小(在0.1mm×0.1mm到 5mm×5mm之间,典型值为1mm×1mm),使得红外光源的功耗大大降低;本 发明集成了红外反射镜7,输出为红外准平行光束。 图2是本发明的第一种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源 制备工艺示意图。图2(1)为制备MEMS红外发光部分的工艺示意图,(2) 为制备MEMS红外反射镜的工艺示意图,(3)为将MEMS红外发光部分与红 外反射镜键合到一起形成MEMS红外光源芯片。 图2(1):(a)为热氧化氧化硅、淀积氮化硅;(b)为第一次光刻, 淀积金属形成加热电极和测温电极;(c)为淀积氮化硅、氧化硅或者氮氧 硅钝化膜;(d)为第二次光刻,在钝化膜上刻蚀电极压焊块通孔;(e)为 淀积电极压焊块;(f)为淀积红外辐射层,第三次光刻并刻蚀红外辐射层 图形;(g)为第四次(背面)光刻,背面刻蚀氮化硅、腐蚀氧化硅;(h) 为利用硅各向异性腐蚀技术,背面腐蚀硅形成膜片结构。 图2(2):(a)为制备MEMS红外反射镜模具;(b)为利用模压技术 或注塑技术制备红外反射镜结构;(c)为脱模并在反射镜表面制备红外反 射层。 图2(3):将MEMS红外发光部分与反射镜部分键合或粘到一起并裂 片形成MEMS红外光源芯片。 第一种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源的具体工艺流程 为: 第一步,制备红外发光部分: 1)准备硅片(500微米厚,100晶向的双面抛光片); 2)热氧化300nm的氧化硅; 3)LPCVD淀积500nm的低应力氮化硅; 4)第一次光刻加热电极(正性光刻胶,胶膜厚度在1微米到5微米 之间,典型值为2微米); 5)溅射铂/钽薄膜(500nm),剥离制备加热电极及测温电极; 6)PECVD淀积500nm低应力氮化硅作为钝化膜; 7)第二次光刻加热电极通孔(正性光刻胶,胶膜厚度在1微米到5 微米之间,典型值为2微米),用SF6反应离子刻蚀(RIE)钝化膜露 出加热加热电极的压焊块孔; 8)利用电镀方法在加热电极压焊块孔内淀积金形成加热电极的压 焊块(厚度在10微米到50微米之间,典型值为30微米); 9)PECVD淀积SiC或者类金刚石薄膜作为红外辐射材料,光刻、刻 蚀形成红外辐射层图形; 10)第四次(背面)光刻(正性光刻胶,胶膜厚度在2微米到5微 米之间,典型值为4微米)用SF6反应离子刻蚀(RIE)氮化硅膜,用 HF缓冲液腐蚀氧化硅; 11)用KOH溶液或者四甲基氢氧化铵(TMAH)溶液各向异性腐蚀硅 形成膜片结构,或者深刻蚀(ICP)硅形成膜片结构。 第二步,制备MEMS红外反射镜: 12)制备MEMS红外反射镜模具,模具为金属、陶瓷或硅材料; 13)利用模压技术或注塑技术制备红外反射镜结构,所用材料为聚 碳酸酯(PC)或SU8胶; 14)在红外反射镜结构表面沉积金膜作为红外反射膜。 第三步,将MEMS红外发光部分与红外反射镜键合到一起,裂片、封 装。 图3是本发明的第二种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源 制备工艺的示意图。图中(1)为一种制备MEMS红外发光部分的工艺示意 图,(2)为制备MEMS红外反射镜的工艺示意图,(3)为将MEMS红外发光 部分与红外反射镜键合到一起形成MEMS红外光源芯片。 图3(1):(a)为热氧化氧化硅、淀积氮化硅;(b)为第一次光刻, 淀积金属形成加热电极和测温电极;(c)为淀积氮化硅、氧化硅或者氮氧 硅钝化膜;(d)为第二次光刻,在钝化膜上刻蚀电极压焊块通孔;(e)为 淀积电极压焊块;(f)为淀积红外辐射层,光刻并刻蚀红外辐射层图形; (g)为第四次(正面)光刻,正面刻蚀氮化硅、腐蚀氧化硅形成硅腐蚀 窗口;(h)为利用硅各向异性腐蚀与各向同性腐蚀技术,正面腐蚀硅形成 膜片结构。 图3(2):(a)为制备MEMS红外反射镜模具;(b)为利用模压技术 或注塑技术制备红外反射镜结构;(c)为脱模并在反射镜表面制备红外反 射层。 图3(3):将MEMS红外发光部分与反射镜部分键合或粘到一起并裂 片形成MEMS红外光源芯片。 第二种基于微电子机械系统(MEMS)技术的红外光源的具体工艺流程 为: 第一步,制备红外发光部分: 1)准备硅片(500微米厚,100晶向的双面抛光片); 2)热氧化300nm的氧化硅; 3)LPCVD淀积500nm的低应力氮化硅; 4)一次光刻加热电极(正性光刻胶,胶膜厚度在1微米到5微米之 间,典型值为2微米); 5)溅射铂/钽薄膜(500nm),剥离制备加热电极及测温电极; 6)PECVD淀积500nm低应力氮化硅作为钝化膜; 7)二次光刻加热电极通孔(正性光刻胶,胶膜厚度在1微米到5微 米之间,典型值为2微米),用SF6反应离子刻蚀(RIE)钝化膜露出 加热加热电极的压焊块孔; 8)利用电镀方法在加热电极压焊块孔内淀积金形成加热电极的压 焊块(厚度在10微米到50微米之间,典型值为30微米); 9)PECVD淀积SiC或者类金刚石薄膜作为红外辐射材料,光刻、刻 蚀形成红外辐射层图形; 10)四次(正面)光刻(正性光刻胶,胶膜厚度在2微米到5微米 之间,典型值为4微米)用SF6反应离子刻蚀(RIE)氮化硅膜,用HF 缓冲液腐蚀氧化硅在正面形成硅腐蚀窗口; 11)用KOH溶液或者四甲基氢氧化铵(TMAH)溶液各向异性腐蚀硅 形成膜片结构。 第二步,制备MEMS红外反射镜: 12)制备MEMS红外反射镜模具,模具为金属、陶瓷或硅材料; 13)利用模压技术或注塑技术制备红外反射镜结构,所用材料为聚 碳酸酯(PC)或SU8胶; 14)在红外反射镜结构表面沉积金膜作为红外反射膜; 第三步,将MEMS红外发光部分与红外反射镜键合到一起,裂片、封装。 |