专利类型 | 发明公开 | 法律事件 | 公开; 实质审查; 驳回; |
专利有效性 | 无效专利 | 当前状态 | 驳回 |
申请号 | CN201710835007.9 | 申请日 | 2017-09-15 |
公开(公告)号 | CN107659355A | 公开(公告)日 | 2018-02-02 |
申请人 | 北京百卓网络技术有限公司; | 申请人类型 | 企业 |
发明人 | 张恭赫; | 第一发明人 | 张恭赫 |
权利人 | 北京百卓网络技术有限公司 | 权利人类型 | 企业 |
当前权利人 | 北京百卓网络技术有限公司 | 当前权利人类型 | 企业 |
省份 | 当前专利权人所在省份:北京市 | 城市 | 当前专利权人所在城市:北京市海淀区 |
具体地址 | 当前专利权人所在详细地址:北京市海淀区地锦路5号院3号楼 | 邮编 | 当前专利权人邮编:100095 |
主IPC国际分类 | H04B10/07 | 所有IPC国际分类 | H04B10/07 |
专利引用数量 | 5 | 专利被引用数量 | 0 |
专利权利要求数量 | 19 | 专利文献类型 | A |
专利代理机构 | 北京集智东方知识产权代理有限公司 | 专利代理人 | 陈亚斌; 关兆辉; |
摘要 | 本 发明 提出了一种光口测试装置,包括:固定架;PCB板,装设于所述固定架上,所述PCB板集成设有光口测试 电路 ;第一测试端口和第二测试端口,分别设置于所述PCB板,并能够分别连通于通信设备的光口上,以使所述光口测试电路对所述光口的工作状态进行测试。本发明的光口测试装置替代在传统光口测试过程中的光模 块 ,降低了测试的成本,光口测试装置通过在结构上设置可以同时测试两个光口的第一测试端口或第二测试端口,从而使光口测试变得方便,且实用性较高。另外,本发明还提出另一种光口测试装置,其应用于具有较多光口的通信设备,并可实现整体插拔,提高测试效率与人工时间成本。 | ||
权利要求 | 1.一种光口测试装置,其特征在于,包括: |
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说明书全文 | 光口测试装置技术领域[0001] 本发明涉及通讯技术领域,尤其涉及一种用于测试通信设备的光口状态与功能的测试装置。 背景技术[0002] 现有的技术中,进行光口测试时大多使用光模块与光纤线进行测试,高昂的光模块与光纤线,增加了测试时的成本。同时,由于光模块与光纤线为分离部件,当需要测试的光口数量较多时,需要人工不断做插拔动作,在此过程中耗费较多的时间,进而降低了测试效率。 [0003] 目前,一些用于通信设备的光口测试的光口测试工装,采用了取缔光模块的模拟测试方法,解决了测试需要使用光模块的问题,但由于这种光口测试工装的测试端口数量是固定的,然测试现场中所需测试的通信设备的光口数量往往不确定,因而,单一数量测试端口的测试工装无法满足对不同数量的光口测试,为实现测试,往往需要准备多个具有不同数量测试端口的测试工装,不便于光口测试。同时,准备多个具有不同数量测试端口的测试工装进一步增加了测试成本。 [0004] 举例而言,现有技术的光口测量工装中,就有一种由托架和安装在托架上的包含测试电路的PCB板构成的测试工装,其一次能测试一组光口,比如6个光口,如若想测试不同数量的光口,则需要提供新的光口测试工装,故测试效率低,使用不灵活。 发明内容[0005] 鉴于上述内容,有必要提供一种测试效率高且能够同时测试不同光口数量的光口测试装置。 [0006] 本发明提供一种光口测试装置,包括:固定架;PCB板,装设于所述固定架上,所述PCB板集成设有光口测试电路;第一测试端口和第二测试端口,分别设置于所述PCB板,并能够分别连通于通信设备的光口上,以使所述光口测试电路对所述光口的工作状态进行测试。 [0007] 优选地,所述PCB板包括:第一延伸臂和第二延伸臂,所述第一测试端口和所述第二测试端口分别对应设于所述第一延伸臂和所述第二延伸臂。 [0008] 优选地,所述第一延伸臂和所述第二延伸臂并排间隔设置,且二者之间形成有第一间隙和第二间隙。 [0009] 优选地,所述第一间隙的大于所述第二间隙。 [0010] 优选地,所述PCB板上设有第一螺丝孔、第二螺丝孔及第三螺丝孔,所述固定架对应设有第一螺柱、第二螺柱及第三螺柱,每一个螺丝孔与对应的螺柱配合,以将所述PCB板与所述固定架固定连接。 [0012] 优选地,所述PCB板收纳于两个所述侧壁之间。 [0013] 优选地,每一个所述侧壁上设有具有斜面结构的斜坡。 [0015] 优选地,每一个所述测试单元包括:I2C设备,其通过所述第一测试端口和所述第二测试端口分别连接所述通信设备的光口上的TX_FAULT、TX_DISABLE、MOD_ABS、RX_LOS、RS0、RS1信号;指示灯,连接于I2C设备,以用于指示所述光口测试装置对上述信号的测试状态。 [0016] 优选地,通过I2C总线访问所述I2C设备,查看寄存器,了解此时TX_FAULT、TX_DISABLE、MOD_ABS、RX_LOS、RS0、RS1信号的状态;或/及,通过I2C控制所述指示灯,如果所述指示灯可点亮,则所述I2C总线通讯正常,则确定所述光口测试装置可正常使用。 [0017] 优选地,所述光口测试电路还包括:两个负载单元,分别通过所述第一测试端口和所述第二测试端口与所述通信设备的光口连通,以用于模拟光模块的功耗。 [0018] 优选地,每一个负载单元由两个电阻并联而成。 [0019] 优选地,每一个负载单元采用两个15R/1W的电阻并联而成。 [0020] 优选地,在所述光口测试装置进行光口测试过程中,所述通信设备的两个光口的数据可通过TD+/-、RD+/-的差分数据线互联,达到数据交换的目的,使所述通信设备的光口处于工作状态。 [0021] 本发明还提供另一种光口测试装置,包括:连接件,固定架;PCB板,装设于所述固定架上,所述PCB板集成设有光口测试电路;第一测试端口和第二测试端口,分别设置于所述PCB板,并能够分别连通于通信设备的光口上,以使所述光口测试电路对所述光口的工作状态进行测试,所述固定架和所述PCB板为多个,每一个PCB板装设于对应的固定架上,且多个所述固定架分别装设在所述连接件上。 [0022] 优选地,所述连接件包括:连接板、第一折边和第二折边,所述第一折边和第二折边分别固定于所述连接板的两相对边。 [0023] 优选地,所述第一折边上设置有多个第四螺丝孔,每一个固定架对应所述第四螺丝孔的位置开设有第五螺丝孔。 [0024] 优选地,所述连接件的连接板上开设有多个开孔。 [0025] 本发明的光口测试装置替代在传统光口测试过程中的光模块,进一步降低了测试的成本。同时,所述光口测试装置通过在结构上设置可以同时测试两个光口的第一测试端口或第二测试端口,从而使光口测试变得方便,且实用性较高。尤其对于具有较多光口的通信设备,所述光口测试装置可实现整体插拔,提高测试效率与人工时间成本。 [0028] 本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中: [0029] 图1是本发明实施例一的光口测试装置的分解示意图。 [0030] 图2是本发明实施例一的光口测试装置与通讯设备的电路结构框图。 [0031] 图3是本发明实施例二的光口测试装置的分解示意图。 [0032] 主要元件符号说明 [0033] [0034] [0035] 如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。 具体实施方式[0036] 下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。 [0037] 需要说明的是,当组件被称为“固定于”另一个组件,它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。 [0038] 除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。 [0039] 请同时参阅图1和图2,本发明实施例一提供一种光口测试装置100,用于测试通信设备的光口A4、A5的工作状态。所述光口测试装置100包括PCB板10、固定架20、第一测试端口30和第二测试端口40。其中,PCB板10可拆卸地装设于固定架20上,第一测试端口30和第二测试端口40分别设置于PCB板10上,并能够分别连通于通信设备对应的光口A4、A5上。PCB板10上集成设有光口测试电路A1。当第一测试端口30和第二测试端口40分别插接于通信设备对应的光口A4、A5时,光口测试电路A1连通光口A4、A5以对通信设备的光口A4、A5的工作状态进行测试。 [0040] 在本实施例中,当第一测试端口30和第二测试端口40分别连通所述通信设备的光口A4和光口A5时,所述通信设备经两个光口A4、A5、第一测试端口30和第二测试端口40分别向光口测试电路A1输出所有的信号,其至少包括:电源、GND、TX_FAULT、TX_DISABLE、MOD_ABS、RX_LOS、RS0、RS1等信号。 [0041] 在本实施例中,光口测试电路A1包括两个测试单元A2和两个负载单元A3。两个测试单元A2分别通过第一测试端口30和第二测试端口40与所述通信设备的光口A4、A5连通,以用于分别对所述通信设备的光口A4、A5的信号状态进行测试。优选地,每一个测试单元A2包括PCA9534和指示灯(图未示),其中PCA9534属于一种I2C设备,其通过第一测试端口30和第二测试端口40分别连接所述通信设备的光口A4和光口A5上的TX_FAULT、TX_DISABLE、MOD_ABS、RX_LOS、RS0、RS1等信号。所述指示灯连接PCA9534,以用于指示光口测试装置对上述信号的测试状态。在本实施例中,所述指示灯为一种LED指示灯,但不限于此。 [0042] 两个负载单元A3分别通过第一测试端口30和第二测试端口40与所述通信设备的光口A4、A5连通,以用于模拟光模块的功耗。在本实施例中,每一个负载单元A3可以由两个电阻并联而成。优选地,每一负载单元A3采用两个15R/1W的电阻并联而成,但不限于此。功率电阻起到模拟光模块功耗的作用,通过所述通信设备给其供电,达到与光模块同样的效果。 [0043] 在光口测试过程中,第一测试端口30和第二测试端口40分别与所述通信设备的两个光口A4、A5连接,可以测试两个光口A4、A5的状态,与此同时,所述通信设备的两个光口A4、A5的数据还可通过TD+/-、RD+/-的差分数据线互联,达到数据交换的目的,使所述通信设备的光口A4、A5处于工作状态。 [0044] 在本实施例中,通过I2C总线访问PCA9534,查看寄存器,了解此时TX_FAULT、TX_DISABLE、MOD_ABS、RX_LOS、RS0、RS1等信号的状态。同时,还可以通过I2C控制LED指示灯,如果LED指示灯可以点亮,则I2C总线通讯正常,则确定光口测试装置100可以正常使用。 [0045] 在本实施例中,PCB板10大致呈矩形板状结构,其包括第一延伸臂11和第二延伸臂12,第一测试端口30和第二测试端口40分别位于PCB板10的第一延伸臂11和第二延伸臂12的自由端。 [0046] 第一延伸臂11和第二延伸臂12并排间隔设置,二者之间形成有第一间隙13和第二间隙14,且第一间隙13的略大于第二间隙14,这样可以在PCB板10的第一测试端口30和第二测试端口40插入所述通信设备的光口A4、A5后,对第一测试端口30和第二测试端口40插入所述通信设备光口A4、A5的位置进行一定的限位作用,避免第一测试端口30和第二测试端口40过渡插入所述通信设备的光口A4、A5。 [0047] PCB板10上设置有第一螺丝孔15、第二螺丝孔16及第三螺丝孔17,以便于对应的螺钉分别穿过第一螺丝孔15、第二螺丝孔16及第三螺丝孔17并将PCB板10固定在固定架20上。 [0048] 在本实施例中,固定架20的截面大致呈U型,其包括底板21及两个侧壁22,底板21大致呈矩形状,两个侧壁22分别固定于底板21的两个相对边,并分别向上延伸。 [0049] 底板21对应第一螺丝孔15、第二螺丝孔16及第三螺丝孔17的位置分别设置有第一螺柱211、第二螺柱212及第三螺柱212,通过三颗螺钉、第一螺丝孔15、第二螺丝孔16、第三螺丝孔17、第一螺柱211、第二螺柱212及第三螺柱212之间的配合,可使PCB板10与固定架20固定连接在一起。 [0050] 在本实施例中,两个侧壁22之间的间距略大于PCB板10的宽度,且每一个侧壁22上端略高于第一螺柱211、第二螺柱212及第三螺柱212的上端,当PCB板10固定在固定架20时,PCB板10能够收纳于两个侧壁22之间,进一步增强了PCB板10与固定架20之间的连接稳定性。 [0051] 每一个侧壁22靠近第一延伸臂11或第二延伸臂12的一端设置有斜面结构的斜坡221,斜坡221可以第一测试端口30或第二测试端口40顺利的插接于所述通信设备的光口A4、A5。同时在插接过程中,可以进一步限制第一测试端口30和第二测试端口40过渡插入所述通信设备的光口A4、A5导致信号接触不良的问题,从而起到一定的限位作用。 [0052] 同时,U型固定架20的两个侧壁22,可以避免光口测试装置100在插拔过程中,由于用力不均导致磕碰到所述通信设备光口A4、A5的笼子,起到保护所述通信设备与光口测试装置100的作用。 [0053] 当需要测试整机以及量产时批量测试老化时,可以通过结构件将多个光口测试装置100连接在一起,形成一个整体测试工装,进行大批量生产时的测试,提高光口的测试效率,降低测试的成本。 [0054] 本实施例中的光口测试装置100替代在传统光口测试过程中的光模块,进一步降低了测试的成本。同时,本实施例中的光口测试装置100通过在结构上设置可以同时测试两个光口的第一测试端口30或第二测试端口40,从而使光口测试变得方便,且实用性较高。 [0055] 负载单元A3模拟光模块的功耗,使本实施例的光口测试装置100在测试过程中更加与光模块的工作模式接近,消耗整机功耗,使其在老化测试中,提高测试的准确度。 [0056] 光口测试装置100的数据线连接是通过PCB电路板集成走线的模式,相较于导线的模式,本实施例的光口测试装置100能够降低对高速信号的干扰,从而使测试的准确度提高。 [0057] I2C总线的接入,使其测试工装可以通过软件去读取其状态,使其TX_FAULT、TX_DISABLE、MOD_ABS、RX_LOS、RS0、RS1这些信号可以通过软件的不同设置,来确认光口的状态,其功能性更强,而不仅仅局限在数据测试。 [0058] 请同时参阅图2和图3,本发明实施例二提供一种光口测试装置200,用于同时测试通信设备的多个光口(图未示)的工作状态。其包括一个连接件210、多个PCB板220、多个固定架230、多个第一测试端口(图未示)和多个第二测试端口(图未示)。其中多个PCB板220、多个固定架230、多个第一测试端口(图未示)和多个第二测试端口(图未示)分别一一对应。多个固定架230分别装设在连接件210上,并呈平行间隔设置。多个PCB板220分别可拆卸地装设于对应的固定架230上。多个所述第一测试端口和多个所述第二测试端口分别设置于对应的PCB板220上,并能够分别连通于所述通信设备对应的光口上。每一个PCB板220上集成设有光口测试电路(图未示)。当多个所述第一测试端口和多个所述第二测试端口分别插接于所述通信设备对应的光口时,每一个所述光口测试电路连通对应的光口以对通信设备的光口的工作状态进行测试。。 [0059] 连接件210的截面大致呈U型,连接件210包括连接板211、第一折边212和第二折边213,连接板211近似为矩形状,第一折边212和第二折边213分别固定于矩形连接板211的两相对边,并分别朝向多个固定架230延伸。在本实施例中,第一折边212与第二折边213相互平行,且第一折边212略大于第二折边213。 [0060] 第一折边212上设置有多个第四螺丝孔2121,每一个固定架230对应第四螺丝孔2121的位置开设有第五螺丝孔231(如图2),通过螺丝(图未示)、第四螺丝孔2121和第五螺丝孔231之间的配合,以将多个固定架230分别装设于连接件210上。 [0061] 第二折边213是为了方便测试人员进行光口测试装置200的插拔动作,并且,由于在每一个PCB板220的后端设有功率电阻,第二折边213在一定程度上起到散热的作用。 [0062] U型连接件210的连接板211上开设有多个第一开孔2111和多个第二开孔2112。在光口测试过程中,测试人员通过多个第一开孔2111和第二开孔2112,可查看PCB板220上的指示灯LED的发光状态。 [0063] 在其它实施例中,连接件210可以依据具体所测的光口数量做成不同长度,以搭配不同数量的固定架230。 [0064] 举例而言,当在连接件210上固定有两个固定架230时,则所述光口测试装置200可以实现同时为四个光口进行测试,而当在连接件210上固定有四个固定架230时,则所述光口测试装置200可以实现同时为八个光口进行测试。但不限于此。 [0065] 本发明实施例一的光口测试装置100相当于实施例二光口测试装置200的一个测试子工装,且多个实施例一的光口测试装置100通过连接件210链接起来后,则构成了一个实施例二的光口测试装置200。 [0066] 本发明实施例二的光口测试装置200除了兼具实施例一光口测试装置100的优点,此外,实施例二的光口测试装置200还将光口同时测试的数量提高到两个以上,使测试更加方便,实用性更高;尤其对于具有较多光口的通信设备,实施例二的光口测试装置200可实现整体插拔,提高测试效率与人工时间成本。 [0067] 以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。 |