1.一种配置电子水平计ELG的方法（100），包括：
提供（101）ELG配置和模拟工具，ELG配置工具，所述ELG配置和模拟工具包括具有用户界面的图形用户界面GUI（200），所述ELG配置工具包括处理器（325），其实施下述各项：存储的增强算法；模拟器（125）；提供多个罐形状的罐库（110）；以及障碍物库（130），所述障碍物库（130）包括多个罐障碍物；
所述用户界面接收（102）应用配置信息，包括：i）所述多个罐形状中的一个的选择，ii）用于定位所述ELG的安装位置的标识，以及iii）至少一个过程细节；
所述模拟器产生（103）针对至少一个水平从所述罐库中的材料的表面反射的测量信号的所计算的强度，
其中如果所述所计算的强度大于或等于“≥”预定强度，则指示（104）所述GUI上的所述ELG的适当性能，以及
其中如果所述所计算的强度小于“<”所述预定强度，则所述ELG配置工具提示（104）要在所述用户界面上录入的所述应用配置信息中的至少一个的改变，并且所述模拟器然后重新计算所述所计算的强度，
其中所述应用配置信息进一步包括：iv）从所述多个罐障碍物对至少第一障碍物的选择，以及v）罐中所述第一障碍物的位置，第一障碍物位置，以及
其中所述ELG配置工具提示至少所述第一障碍物、所述第一障碍物位置和所述安装位置的所述改变。
2.如权利要求1所述的方法，其中所述预定强度是从所述第一障碍物反射的测量信号的强度加上预定量。
3.如权利要求2所述的方法，其中所述预定强度是最小信号强度。
4.如权利要求1所述的方法，其中在发起所述增强算法时，所述ELG配置工具自动提出对所述ELG的配置方面的改变或所述安装位置的新的位置，所述配置方面选自探针的类型、所述探针的长度、所述探针的材料、以及连接类型。
5.一种电子水平计ELG配置和模拟工具，ELG配置工具，（300），包括：
处理器（325），所述处理器（325）实施下述各项：存储的增强算法（115）；模拟器（125）；
罐库（110），所述罐库（110）包括多个罐形状；以及障碍物库（130），所述障碍物库（130）包括多个罐障碍物；
具有用户界面的图形用户界面GUI（200），
所述用户界面接收应用配置信息，包括：i）所述多个罐形状中的一个的选择，ii）用于定位所述ELG的安装位置的标识，以及iii）至少一个过程细节；
所述模拟器（125）产生针对至少一个水平从所述罐库（110）中的材料的表面反射的测量信号的所计算的强度，
其中如果所述所计算的强度大于或等于“≥”预定强度，则指示所述GUI上的所述ELG的适当性能，以及
其中如果所述所计算的强度“<”所述预定强度，则所述ELG配置工具提示要在所述用户界面上录入的所述应用配置信息中的至少一个的改变，并且所述模拟器然后重新计算所述所计算的强度，
其中所述应用配置信息进一步包括：iv）从所述多个罐障碍物对至少第一障碍物的选择，以及v）罐中所述第一障碍物的位置，第一障碍物位置，以及
其中所述ELG配置工具（300）提示至少所述第一障碍物、所述第一障碍物位置和所述安装位置的所述改变。
6.如权利要求5所述的ELG配置和模拟 工具，其中所述预定强度是从所述第一障碍物反射的测量信号的强度加上预定量。
7.如权利要求5所述的ELG配置和模拟 工具，其中所述过程细节选自过程压强、温度和所述罐库（110）中的材料的类型。
8.如权利要求5所述的ELG配置和模拟 工具，其中在发起所述增强算法（115）时，所述ELG配置工具（300）自动提出对所述ELG的配置方面的改变或所述安装位置的新的位置，所述配置方面选自探针的类型、所述探针的长度、所述探针的材料、以及连接类型。