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新型叶片总长检测量具

阅读:418发布:2020-05-13

专利汇可以提供新型叶片总长检测量具专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供了新型 叶片 总长检测量具,其能有效解决现有叶片总长测具测量 精度 低、测量效果差的问题,结构简单,测量操作方便,测量结果准确、稳定,其测量结果不受操作人员操作 水 平的影响。其包括 框架 测具,其特征在于:其还包括测量座与导 块 ,所述导块安装于所述框架测具,所述测量座两端通过 滚动 轴承 安装于所述导块,在所述测量座中心上部安装有压紧座、下部安装有测量板,所述测量板上端连接有顶杆,所述顶杆安装于所述测量座中心的轴向台阶孔内,所述压紧座上安装有千分表,在测量过程中所述顶杆上端部与千分表表头 接触 。,下面是新型叶片总长检测量具专利的具体信息内容。

1.新型叶片总长检测量具,其包括框架测具,其特征在于:其还包括测量座与导,所述导块安装于所述框架测具,所述测量座两端通过滚动轴承安装于所述导块,在所述测量座中心上部安装有压紧座、下部安装有测量板,所述测量板上端连接有顶杆,所述顶杆安装于所述测量座中心的轴向台阶孔内,所述压紧座上安装有千分表,在测量过程中所述顶杆上端部与千分表表头接触;所述测量板通过螺钉安装于连接板,所述顶杆安装于所述连接板;所述测量板下端面呈圆弧状,其在测量过程中始终保持与叶片总长面线接触。
2.根据权利要求1所述的新型叶片总长检测量具,其特征在于:所述导块根据叶片总长圆弧设置圆弧状、并通过键槽与所述框架测具相连接。

说明书全文

新型叶片总长检测量具

技术领域

[0001] 本发明涉及叶片检测工具领域,具体为新型叶片总长检测量具。

背景技术

[0002] 现有的叶片总长测具(见图1、图2),其用定位卡板19置于框架测具检测叶片总长的档位上,两排圆柱销与测量18槽宽间隙配合。检测时,测量块以销定位,滑动至叶片总长上,使用塞尺检测总长面漏光间隙值。其缺点在于:由于采用原始的塞尺测量法,其测量精度极低,且测量效率较低;另外,操作时需要始终保证测量块A面与定位卡板贴合无漏光,为避免塞尺过量将测量块撑起,需要用手施加适度的于测量块背面,若作用力过大,则会压弯定位卡板,导致测量数据不准确,因此现有的总长测具对操作人员的操作平要求较高。

发明内容

[0003] 针对上述问题,本发明提供了新型叶片总长检测量具,其能有效解决现有叶片总长测具测量精度低、测量效果差的问题,结构简单,测量操作方便,测量结果准确、稳定,其测量结果不受操作人员操作水平的影响。
[0004] 其技术方案是这样的,其包括框架测具,其特征在于:其还包括测量座与导块,所述导块安装于所述框架测具,所述测量座两端通过滚动轴承安装于所述导块,在所述测量座中心上部安装有压紧座、下部安装有测量板,所述测量板上端连接有顶杆,所述顶杆安装于所述测量座中心的轴向台阶孔内,所述压紧座上安装有千分表,在测量过程中所述顶杆上端部与千分表表头接触
[0005] 其进一步特征在于:所述测量板通过螺钉安装于连接板,所述顶杆安装于所述连接板;所述测量板下端面呈圆弧状,其在测量过程中始终保持与叶片总长面线接触;所述导块根据叶片总长圆弧设置圆弧状、并通过键槽与所述框架测具相连接。
[0006] 本发明的新型叶片总长检测量具,其结构简单,使用方便,其测量过程和测量结果较少受到人为操作影响,测量准确。附图说明
[0007] 图1为本发明的静叶片用型面三坐标检测量具主视结构示意图;
[0008] 图2为图1的俯视结构示意图;
[0009] 图3为本发明主视的结构示意图;
[0010] 图4为图3俯视的结构示意图;
[0011] 图5为图4左视的结构示意图。

具体实施方式

[0012] 见图3、图4和图5,本发明包括框架测具15、测量座5与导块13,导块13安装于框架测具15,测量座5两端通过滚动轴承12安装于导块13,在测量座5中心上部安装有压紧座2、下部安装有测量板6,测量板6上端连接有顶杆8,顶杆8安装于测量座5中心的轴向台阶孔内16,压紧座上2安装有千分表14,在测量过程中顶杆8上端部与千分表14表头接触。测量板6通过螺钉7安装于连接板16,顶杆8安装于连接板16;测量板6下端面呈圆弧状,其在测量过程中始终保持与叶片总长面线接触;导块13根据叶片总长圆弧设置为圆弧状、并通过键槽17与框架测具15相连接。图3中,9为螺帽,10为台阶销,17为10mm标准块;图4中,1、4均为螺钉,3为夹簧,11为圆柱销。
[0013] 下面具体描述一下运用本发明检测叶片总长的过程:将导块13固定于框架测具15上,测量座5置于导块13上,放置10mm标准块18于测量座5与测量板6之间,对千分表
14归零,然后取出10mm标准块18,沿叶片内背方面滑动测量座5,同时读取千分表读数,完成测量工作。
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