一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法
专利汇可以提供一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种电容 触摸屏 装置 缺陷 检测的方法，该装置包括电容屏、电容屏控 制芯 片，先设置一个 电压 值依次驱动所有驱动线，量取每根驱动线Drive Line和感测线Sense Line之间的互电容值，得到互电容值矩阵作为基准，再改变施加在驱动线的驱动电压值，依次驱动所有驱动线，再次量取每根驱动线和感测线之间的互电容值，根据两次测量值之间的差值变化规律来判断是否有缺陷存在。，下面是一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法专利的具体信息内容。
1.一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法，所述装置包括电容屏、电容屏控制芯片，所述电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线Drive Line和感测线Sense Line，其特征在于，先设置一个驱动电压值依次驱动所有驱动线，得到对应于驱动线和感测线之间互电容值的互电容值二维矩阵，再改变驱动电压值，依次驱动所有驱动线，再次量测得到对应于每根驱动线和感测线之间互电容值的互电容值二维矩阵，根据测量矩阵之间的差值变化规律来判断相应电容是否有缺陷存在。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述缺陷为检测电容值无法正确检测到电容值的改变。
3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：将两次量测得到的互电容值二维矩阵的差值与预设的门槛值进行比较，如果差值不在门槛值范围内，说明对应电容存在缺陷。
4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述互电容值二维矩阵的量测可以为n次，n＞2。
5.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述电容屏控制芯片包括可配置驱动电压的驱动电路及检测电路，所述驱动电路具有可调整的驱动电压。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于：所述电容屏控制芯片的数目可以多于1个，以适应不同尺寸电容屏的需求。
7.如权利要求5所述的方法，其特征在于：所述电容屏控制芯片还可以与MCU集成在一起。
8.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述改变驱动电压包括升高电压或降低电压。
一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法
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