技术领域
[0001] 本
发明有关一种缺陷区块判定装置及方法，尤其是关于
光驱在可重复烧录光盘片烧录数据时，验证烧录数据是否错误，以判定缺陷区块的装置及方法。 [0002] 背景技术
[0003] 光盘片经常受到灰尘、污渍、刮伤、制造
质量、材料劣化或烧录质量等因素，导致部分区域的数据记号受损，形成缺陷区块。数据如烧录至缺陷区块，将无法正常读取。光盘片提供缺陷管理机制，登录缺陷区块的地址及备份，以免造成储存数据的损毁。 [0004] 如图1所示，为中国台湾公告第I302300号
专利案先前技术，揭露光盘片缺陷区块判定方法的流程。首先在步骤P1，读取烧录在光盘片的数据记号。进入步骤P2，利用错误校正码(Error Correct Code，简称ECC校正码)，进行数据记号解码。再进入步骤P3，检查是否有解码错误产生？假如未产生解码错误，则进入步骤P4，直接判定为非缺陷区块。假如产生解码错误，则进入步骤P5，利用ECC校正码进行解码错误的校正。接着进入步骤P6，检查是否解码错误校正成功？假如校正成功，则进入步骤P4，判定为非缺陷区块，假如解码错误未校正成功，则进入步骤P7，判定为缺陷区块，由缺陷管理机制登录缺陷区块的地址，并烧录备份。
[0005] 前述先前技术通过预先判定出缺陷区块的所在，虽可避免数据烧录在缺陷区块。但不管光盘片各区域受损的程度，先前技术对所有产生解码错误的数据区块，一律进行校正，以判定出缺陷区块。由于解码错误的校正需耗费不少时间，将严重降低光驱执行效能。
另有中国台湾公开第200638413号专利案的先前技术，揭露根据ECC校正码解码的错误量，判定缺陷区块的方法。利用设定错误量的临限值，将解码错误量低于临限值，直接判定为非缺陷区块。而将解码错误量高于临限值，直接判定为缺陷区块，节省校正时间，以提高光驱效能。
[0006] 然而，该判定方式的解码错误量临限值，难以精确设定。临限值设太低则造成许多缺陷区块，不仅减少光盘片有效的储存容量，且需重新烧录数据，增长烧录时间。临限值设太高则容易将数据烧录在缺陷区块，而无法读取储存的数据。此外，前述先前技术读取数据区块亦需经ECC校正码解码，才能根据解码错误量判定缺陷区块，不仅同样会增加烧录时间，且ECC校正码解码的错误量，可能是解码格式的错误，并非数据记号读取的错误，无法直接代表缺陷程度。因此，已知光盘片缺陷区块判定方法在判定的过程上，仍有问题亟待解决。
发明内容
[0007] 本发明的目的在于提供一种光盘片缺陷区块判定装置，通过比较单元直接比对再生调制量位
信号与烧录前原调制量位信号，产生的错误量，作为判定缺陷区块的基准，以提高烧录效能。
[0008] 本发明的另一目的在于提供一种光盘片缺陷区块判定方法，利用未经解码烧录前后调制量位信号的比对，直接获得数据区块缺陷状况，以
加速判定缺陷区块。 [0009] 本发明的再一目的在于提供一种光盘片缺陷区块判定方法，通过将数据区块的错误量分成高、中、低三类，对高错误量，直接判定缺陷区块，低错误量则直接判定为非缺陷区块，而对于中错误量再进行解码校正，并根据其实际解码的结果作为判定，提高判定精确性。
[0010] 为了达到前述发明的目的，本发明的光盘片缺陷区块判定装置，由处理器接收烧录数据及命令，将烧录数据储存在
存储器。将烧录数据经ECC校正码形成编码
数字信号，再经调制装置形成原调制量位信号，存回存储器。处理器控制读取头烧录或读取调制量位信号，利用比较单元比对出错误量，根据错误量判定缺陷区块。
[0011] 本发明的一种光盘片缺陷区块判定方法，首先读取烧录的数据区块，形成再生调制量位信号；比对再生调制量位信号与烧录前原调制量位信号，以不符者计算错误量；检查错误量为低错误量、中错误量或高错误量，低错误量直接判定为非缺陷区块，高错误量直接判定为缺陷区块，对于中错误量则执行解码，解码成功判定为非缺陷区块，解码失败则判定为缺陷区块。
附图说明
[0012] 图1为先前技术光盘片缺陷区块判定方法的
流程图。
[0013] 图2为本发明光盘片缺陷区块判定装置的方块图。
[0014] 图3为本发明第一
实施例光盘片缺陷区块判定方法的流程图。
[0015] 图4为本发明第二实施例光盘片缺陷区块判定方法的流程图。
[0016] [主要元件标号说明]
[0017] 10 光驱
[0018] 11 处理器
[0019] 12 存储器
[0020] 13 ECC校正码
[0021] 14 调制装置
[0022] 15 读取头
[0023] 16 比较单元
[0024] 17 编码数字信号
[0025] 18 调制量位信号
[0026] 19 光盘片
具体实施方式
[0027] 有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其功效，兹举较佳实施例，并配合图式加以说明如下。
[0028] 请参考图2，为运用本发明光盘片缺陷区块判定装置的光驱10方块图。光驱10包含处理器11、存储器12、ECC校正码13、调制装置14、读取头15及比较单元16。主要由处理器11接收主机的烧录数据及命令，将烧录数据储存在存储器12中。再利用ECC校正码13，将烧录数据编码形成ECC校正码13特定格式的编码数字信号17，暂存在存储器12中。接着利用调制装置14，例如DVD光盘片所用的8-14码调制装置(Eight-Fourteen Modulation，简称EFM)，将暂存的编码数字信号17混插特定码形成较长单位的调制量位信号18，再存回存储器12作为烧录前的原调制量位信号18。然后读取头15将存储器12中的原调制量位信号18读出，并利用3T-11T不同单位时间长度的数据记号，形成多个单位数据区块(Sector)，烧录在光盘片19上。
[0029] 验证烧录是否正确读取数据时，由处理器11控制读取头15读取光盘片 的数据记号，形成再生的调制量位信号18，暂存在存储器12。本发明光盘片缺陷区块判定装置，在再生调制量位信号18未经ECC校正码13解码前，利用比较单元16，以数据区块为单位，直接将再生调制量位信号18与原存于回存储器12的原调制量位信号18相比对。以原调制量位信号18为准，比对再生调制量位信号18的数据记号信号不符者为一错误，并累计错误量，以快速获得每一数据区块再生调制量位信号18的错误量。由于该错误量直接代表烧录失败的状况，每一数据区块错误量的多寡，如同代表光盘片19所在数据区块的质量。因此，本发明处理器11将烧录前后调制量位信号18比对的错误量，作为评估数据区块是否为缺陷的指标。
[0030] 因此，本发明光盘片缺陷区块判定装置，即可通过比较单元，直接将读取数据记号的再生调制量位信号，与烧录前储存的原调制量位信号相比对，不需经由ECC校正码，快速获得比对不符的错误量，作为判定缺陷区块，以提高光驱烧录效能。
[0031] 本发明光盘片缺陷区块判定方法，是将读取数据区块的再生调制量位信号18，比对原调制量位信号，所产生的错误量分成高中低三类，分别代表数据区块的损坏为严重、中等或轻微程度。对于高错误量的数据区块，也就是数据记号损坏较严重的区块，因错误量多，一般经由ECC校正码的会造成解码失败，无法完成读取数据，或耗费过多解码校正时间，列为不必再执行ECC校正码的数据区块，直接判定为缺陷区块。而对于低错误量的数据区块，也就是数据记号损坏较轻微的区块，因错误量少，经ECC校正码均能成功解码完成读取数据，亦列为不必再执行ECC校正码的数据区块，直接判定为非缺陷区块。 [0032] 由于中错误量的数据区块，多为参杂可经ECC校正码解码成功或解码失败的数据区块，如全列为缺陷区块，将降低光盘片的储存容量，而如全列为非缺陷区块，将造成事后无法读取数据。本发明光盘片缺陷区块判定方法，是将中错误量的数据区块经由执行ECC校正码，再根据实际解码成功或失败的结果，判定数据区块是否为缺陷区块，即可避免中错误量的数据区块被错误判定。
[0033] 如图3所示，为本发明第一实施例光盘片缺陷区块判定方法的流程。本发明判定烧录数据区块是否为光盘片缺陷区块的详细步骤说明如下：首先在步骤R1，开始进行判定缺陷区块。进入步骤R2，读取光盘片上烧录的数据区 块，形成再生调制量位信号。再进入步骤R3，将再生调制量位信号与烧录前原调制量位信号比对。在步骤R4，以原调制量位信号为准，核对再生调制量位信号不符者，形成错误信号并计算错误量。接着进入步骤R5，根据错误量的多寡，将错误量分类在低错误量、中错误量或高错误量。
[0034] 对轻微损坏的数据区块，进入步骤R6，分类为低错误量。再进入步骤R7，直接判定数据区块为非缺陷区块，不执行ECC校正码。对严重损坏的数据区块，进入步骤R8，分类为高错误量。再进入步骤R9，直接判定数据区块为缺陷区块，不执行ECC校正码。对中等损坏的数据区块，进入步骤R10，分类为中错误量。再进入步骤R11，直接执行ECC校正码，根据解码成功或失败的结果判定缺陷区块状态。在步骤R7、步骤R9及步骤R11判定完成后，最后进入步骤R12，结束判定。
[0035] 如图4所示，为本发明第二实施例光盘片缺陷区块判定方法的流程。本实施例为本发明实际运用于验证烧录数据区块是否烧录正确的过程，详细步骤说明如下：首先在步骤S1，光驱接收主机命令验证所烧录数据是否烧录正确。进入步骤S2，读取验证所要求的烧录数据区块，形成再生调制量位信号。再进入步骤S3，将再生调制量位信号与烧录前原调制量位信号比对。在步骤S4，以原调制量位信号为准，核对再生调制量位信号不符者，形成错误信号并计算错误量。接着进入步骤S5，根据错误量的多寡，分类成低错误量、中错误量及高错误量等三类数据区块。
[0036] 接着，进入步骤S6检查步骤S5中的分类是否为中错误量的数据区块？假如非中错误量的数据区块，则进入步骤S7，不执行ECC校正码解码，直接根据错误量分类的高低，依设定判定缺陷区块状态，即低错误量直接判定为非缺陷区块，高错误量直接判定为缺陷区块。假如分类为中错误量的数据区块，则进入步骤S8，将中错误量的数据区块执行ECC校正码解码，再进入步骤S9检查解码是否成功？根据解码的结果，假如解码成功，就进入步骤S10判定为非缺陷区块，假如解码失败，就进入步骤S11判定为缺陷区块。在步骤S7、步骤S10或步骤S11判定完成后，进入步骤S12检查验证所要求的烧录数据是否读取完成？假如尚未读取完成，回至步骤S2继续读取烧录数据，假如读取完成，则进入步骤S13，结束烧录验证。
[0037] 因此，本发明光盘片缺陷区块判定方法，就可利用烧录前后未经解码的调制量位信号，进行比对，直接获得数据区块错误量所显示缺陷程度，加速 判定缺陷区块。并通过将数据的错误量分成三类，对高错误量，直接判定缺陷区块，低错误量则直接判定为非缺陷区块，而对于中错误量再进行较花时间的解码校正，根据实际解码成功或失败的结果，正确判定缺陷区块，达到提高判定精确性的目的。
[0038] 以上所述者，仅用以方便说明本发明的较佳实施例，本发明的范围不限于该等较佳实施例，凡依本发明所做的任何变更，于不脱离本发明的精神下，皆属本发明
权利要求的范围。
