首页 / 专利库 / 摄影 / 增距镜 / 一种具有透镜组的硅酸钇镥闪烁晶体辐射探测器

一种具有透镜组的酸钇镥闪烁晶体辐射探测器

阅读:1041发布:2020-05-25

专利汇可以提供一种具有透镜组的酸钇镥闪烁晶体辐射探测器专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种具有透镜组的闪烁晶体 辐射 探测器,构建了相匹配的广 角 度和大景深透镜组,增加了光 传感器 对闪烁光的收集效率并提高了 能量 分辨率 ,其具体的参数设计考虑了与闪烁晶体本身的出射波段的匹配,能够增加对闪烁光进行聚焦收集后入射光传感器,提高了能量分辨率,相应提高了测量效率和测量 精度 ,尤其是在研制高性能探测器时能够进一步提高探测性能。,下面是一种具有透镜组的酸钇镥闪烁晶体辐射探测器专利的具体信息内容。

1.一种具有透镜组的闪烁晶体辐射探测器,包括闪烁晶体,光传感器,前置放大电路和多道分析仪,闪烁晶体表面设置有反光层和增透层,反光层设置在除了闪烁光出射面以外的表面,增透层设置在闪烁光出射面,所述闪烁晶体为酸钇镥晶体,闪烁晶体和光传感器设置在封装壳体中,壳体外设置有多道分析仪,其特征在于:所述闪烁光出射面与所述光传感器之间设有与硅酸钇镥晶体闪烁光的波段相匹配的透镜组。
2.如权利要求1所述的辐射探测器,其特征在于:所述透镜组的光轴与光传感器的光接受面的中心轴线重合,所述透镜组沿着闪烁光出射方向依次包括第一透镜,第二透镜,第三透镜,第四透镜,第五透镜和第六透镜,各透镜的两侧表面均为非球面,并满足以下非球面方程:
y=(x2/R)/(1+(1-(k+1) (x2/R2))1/2 +A4x4+A6x6+A8x8+A10x10+A12x12+A14x14+A16x16,其中,R是中心轴上的曲率半径(绝对值的长度单位为mm),k是圆锥系数,A4、A6、A8、A10、A12、A14、A16是非球面系数,
取值如下:
透镜面 R k A4 A6 A8 A10 A12 A14 A16
1-R 6.85 -9.21E+00 7.02E-03 -1.19E-02 1.05E-02 -5.51E-03 1.70E-03 -2.68E-04 1.50E-05
1-L 76.46 0.00E+00 -5.05E+03 -1.77E-03 1.22E-03 -7.15E+02 2.33E-04 -3.94E-05 2.31E-06
2-R 11.93 0.00E+00 -8.83E-03 -4.27E-03 4.70E-04 7.41E-04 -4.42E-04 9.51E-05 -7.07E-06
2-L 6.58 -1.10E+01 4.39E-03 -7.95E-03 3.25E-03 -7.89E-04 1.20E-04 -1.03E-05 3.41E-07
3-R 20.79 0.00E+00 3.40E-03 -1.31E-03 -1.10E+02 1.29E-04 -4.38E-05 5.72E-06 -2.23E-07
3-L 8.21 0.00E+00 -1.59E-02 1.85E-03 -1.46E-04 -1.15E+01 -3.15E-06 7.56E-07 -2.41E-08
4-R 4.13 -2.51E-01 -1.32E-02 2.81E-04 1.95E-05 -2.98E-06 -2.86E-06 5.44E-07 -2.16E-08
4-L 20.96 0.00E+00 -3.70E-03 2.84E-04 -1.43E-04 3.01E-05 -3.92E-06 3.21E-07 -8.73E-09
5-R -4.60 5.63E-01 -6.73E-03 -2.58E-04 5.81E-04 -2.17E-04 3.79E-05 -2.81E-06 6.75E-08
5-L -1.42 -1.03E+00 1.66E-02 -7.49E-03 1.88E-03 -3.29E-04 3.74E-05 -2.13E-06 4.20E-08
6-R 2.88 -1.51E+01 6.79E-03 -1.75E-03 2.17E-04 -1.89E-05 1.06E-06 -3.07E-08 3.24E-10
6-L 1.20 -3.33E+00 -8.38E-05 -1.58E-04 7.77E-06 -1.43E-07 -2.01E-10 3.06E-11 -1.63E-13其中透镜面列中N-R表示第N透镜的物侧表面,N-L表示第N透镜的像侧表面。
3.如权利要求1所述的辐射探测器,其特征在于:所述光传感器为硅光电倍增管
4. 如权利要求1所述的辐射探测器,其特征在于:所述第一至第六透镜的焦距分别为
14.35 mm,-24.29 mm,-26.51 mm,9.71 mm,3.42 mm,-4.14 mm。
5. 如权利要求1所述的辐射探测器,其特征在于:所述第一至第六透镜的厚度分别为
0.96 mm,0.33 mm,0.68 mm,0.82 mm,1.39 mm,0.87 mm。

说明书全文

一种具有透镜组的酸钇镥闪烁晶体辐射探测器

技术领域

[0001] 本发明涉及核辐射或X射线辐射的测量,尤其涉及X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量,具体来说是辐射强度测量中闪烁体是晶体的闪烁探测器。

背景技术

[0002] 辐射测量已在许多领域发挥着重要的作用,如核电站热电厂辐射测量,对测量地点的辐射剂量进行连续测量;工业和民用建筑,建筑装修,建筑材料生产制造,对各种建筑材料的放射性测量;地质勘探,地质找矿与矿山辐射测量;用于射线安检通道,能够为海关、机场、边境检查、重要会议场所的安全检查提供帮助;医疗中使用的辐射测量和辐射治疗(CT,PET,射线刀等)均需要通过测量辐射强度用于诊断和治疗,辐射测量已经广泛应用于放射性监测、工业无损探伤、医院的治疗和诊断、同位素应用、废料回收等放射性场所,辐射测量一方面监测辐射防止辐射产生危害,另一方面起到诊断和治疗的监测和计算作用。
[0003] 辐射探测是辐射测量最基础的研究领域,辐射探测器的基本原理是,利用辐射在气体或者液体或者固体中引起的电离激发效应或者其它物理或化学变化进行辐射探测,探测器的公知类型包括气体探测器,闪烁探测器和半导体探测器,气体探测器结构复杂而半导体探测器的探测效率不够理想,闪烁探测器是目前最常用的探测器,闪烁探测器严格意义上分为液体闪烁探测器和固体闪烁探测器,液体闪烁探测器相比与固体闪烁探测器的便携性要差很多,基本用于实验室研究,利用闪烁晶体测量辐射的固体探测器是本领域研究最多的探测器类型。
[0004] 传统的闪烁晶体辐射测量装置比较典型的结构如图1所示,使用闪烁晶体作为探测晶体,面向发射源的面和四周设置反射层,剩下一面为激发光出射面,该面通过光耦合结构与光传感器(典型的例如光电倍增管)相连接,光传感器光电倍增管分别与高压分压器、以及前置放大器相连;输入高压通过高压分压器加载在光电倍增管,输出信号依次经过前置放大器、线性放大器和多道分析器的处理形成最终的输出信号。这种使用闪烁晶体的探测器因为便于使用并且结构简单成为应用最广的探测器,也已经被本领域技术人员研究得较为透彻。
[0005] 目前,如何进一步提高探测器的能量分辨率时间分辨率是研制高性能探测器的技术瓶颈
[0006] 为了进一步提高探测器性能,本申请人的技术团队另辟蹊径创造性提出了外部光导的思路,传统的技术思路通常不会针对晶体的闪烁光出射面和光传感器之间光路进行针对性研究,通常集中在如何避免射线对于光传感器的损伤需要改变光路或者在使用光纤连接时为了光能够集中到光纤传输进而才设置相应的透镜进行光引导和聚焦,以及在需要成像时才设置相应的透镜单元,然而申请人团队在实验中发现,在如图1所示的不需要成像的计数型辐射探测器中,经过特别设计的透镜组后可以明显提高光电倍增管的探测效率,降低噪音。众所周知,多组透镜组合的透镜组的设计非常复杂,技术偏见在于,通常本领域技术人员认为在有限的空间内设计提高探测器本身相应效率的透镜组是得不偿失的,即使在少数现有技术中提高设置透镜组也仅仅停留在简单描述上,并未给出任何可实施的透镜组设计参数,申请人团队得益于核心技术团队设计的高通量线性实验方法,能够在大量无规律的实验数据中找到突破常规效果的几组可适用于探测器系统的透镜组设计方案(拟在研究成果上进行多组专利布局)并在此基础上构成了探测系统,本案是基于其中一种设计方案的探测系统,其它方案另案提出申请。
[0007] 需要说明的是,本申请人技术团队经过三年多对该领域的研究,得出了多项技术成果,为了避免在先申请可能成为在后申请的现有技术或者抵触申请,特意将技术成果同日提出申请进行不同技术之间组合形成专利布局,相应的背景技术中提到的现有技术并不一定是已经对公众公开的技术,有些是申请人技术团队研究对应技术时未公开的内部的在先技术,因此背景技术中提到的技术或者声称的现有技术均无法作为相关技术已经被公众获悉的证据,更不能成为公知常识的证据。

发明内容

[0008] 针对上述现有技术中存在的问题和瓶颈,本发明提供了一种具有透镜组的闪烁晶体辐射探测器,主要目的是提供一种在研制高性能辐射探测器时可以进一步提升光收集率的结构,以提升探测效率和精度
[0009] 为实现上述目的,本发明通过如下技术方案实现:一种具有透镜组的闪烁晶体辐射探测器,包括闪烁晶体,光传感器,前置放大电路和多道分析仪,闪烁晶体表面设置有反光层和增透层,反光层设置在除了闪烁光出射面以外的表面,增透层设置在闪烁光出射面,所述闪烁晶体为硅酸钇镥晶体,闪烁晶体和光传感器设置在封装壳体中,壳体外设置有多道分析仪,其特征在于:所述闪烁光出射面与所述光传感器之间设有与硅酸钇镥晶体闪烁光的波段相匹配的透镜组;
进一步地,所述透镜组的光轴与光传感器的光接受面的中心轴线重合,所述透镜组沿着闪烁光出射方向依次包括第一透镜,第二透镜,第三透镜,第四透镜,第五透镜和第六透镜,各透镜的两侧表面均为非球面,并满足以下非球面方程:
y=(x2/R)/(1+(1-(k+1) (x2/R2))1/2 +A4x4+A6x6+A8x8+A10x10+A12x12+A14x14+A16x16,
其中,R是中心轴上的曲率半径(绝对值的长度单位为mm),k是圆锥系数,A4、A6、A8、A10、A12、A14、A16是非球面系数,
取值如下:
透镜面 R k A4 A6 A8 A10 A12 A14 A16
1-R 6.85 -9.21E+00 7.02E-03 -1.19E-02 1.05E-02 -5.51E-03 1.70E-03 -2.68E-04 1.50E-05
1-L 76.46 0.00E+00 -5.05E+03 -1.77E-03 1.22E-03 -7.15E+02 2.33E-04 -3.94E-05 2.31E-06
2-R 11.93 0.00E+00 -8.83E-03 -4.27E-03 4.70E-04 7.41E-04 -4.42E-04 9.51E-05 -7.07E-06
2-L 6.58 -1.10E+01 4.39E-03 -7.95E-03 3.25E-03 -7.89E-04 1.20E-04 -1.03E-05 3.41E-07
3-R 20.79 0.00E+00 3.40E-03 -1.31E-03 -1.10E+02 1.29E-04 -4.38E-05 5.72E-06 -2.23E-07
3-L 8.21 0.00E+00 -1.59E-02 1.85E-03 -1.46E-04 -1.15E+01 -3.15E-06 7.56E-07 -2.41E-08
4-R 4.13 -2.51E-01 -1.32E-02 2.81E-04 1.95E-05 -2.98E-06 -2.86E-06 5.44E-07 -2.16E-08
4-L 20.96 0.00E+00 -3.70E-03 2.84E-04 -1.43E-04 3.01E-05 -3.92E-06 3.21E-07 -8.73E-09
5-R -4.60 5.63E-01 -6.73E-03 -2.58E-04 5.81E-04 -2.17E-04 3.79E-05 -2.81E-06 6.75E-08
5-L -1.42 -1.03E+00 1.66E-02 -7.49E-03 1.88E-03 -3.29E-04 3.74E-05 -2.13E-06 4.20E-08
6-R 2.88 -1.51E+01 6.79E-03 -1.75E-03 2.17E-04 -1.89E-05 1.06E-06 -3.07E-08 3.24E-10
6-L 1.20 -3.33E+00 -8.38E-05 -1.58E-04 7.77E-06 -1.43E-07 -2.01E-10 3.06E-11 -1.63E-13其中透镜面列中N-R列表示第N透镜的物侧表面,N-L表示第N透镜的像侧表面;
进一步地,所述光传感器为硅光电倍增管;
进一步地,所述第一至第六透镜的焦距分别为14.35 mm,-24.29 mm,-26.51 mm,9.71 mm,3.42 mm,-4.14 mm;
进一步地,所述第一至第六透镜的厚度分别为0.96 mm,0.33 mm,0.68 mm,0.82 mm,
1.39 mm,0.87 mm。
[0010] 本发明同现有技术相比,其优点在于:本发明突破了传统技术思路,针对闪烁晶体本身的主要出射波段,克服了透镜组设计时的数据量过大难以选择和优化的固有缺陷,构建了相匹配的广度和大景深透镜组,增加了光传感器对闪烁光的收集效率并提高了能量分辨率,其具体的参数设计考虑了与闪烁晶体本身的出射波段的匹配,能够增加对闪烁光进行聚焦收集后入射光传感器,提高了能量分辨率,相应提高了测量效率和测量精度,尤其是在研制高性能探测器时能够进一步提高探测性能。
附图说明
[0011] 图1为现有技术中的辐射探测器结构示意图;图2为本发明的辐射探测器结构示意图;
图3为本发明的透镜组几何形状示意图;
图中:R:放射源 L:透镜组 S1:闪烁晶体光出射面 S2:闪烁晶体光反射面 S3:光电倍增管的受光面 1:闪烁晶体 2:光传感器 3:内部电路 4:探测器封装壳体 5:外部电源和电路,L1-L6:第一至第六透镜。

具体实施方式

[0012] 下面结合附图对本发明作进一步说明,如图2所示,一种具有透镜组的闪烁晶体辐射探测器,包括闪烁晶体1,光传感器2,前置放大电路和多道分析仪3和5,闪烁晶体表面设置有反光层和增透层,反光层设置在除了闪烁光出射面以外的表面S2上,增透层设置在闪烁光出射面S1上,所述闪烁晶体为硅酸钇镥晶体,闪烁晶体1和光传感器3设置在封装壳体4中,多道分析仪设置在壳体外部,闪烁光出射面S2与所述光传感器3之间设有与硅酸钇镥晶体闪烁光的波段相匹配的透镜组L。
[0013] 硅酸钇镥为现有技术中公知的常规闪烁晶体之一,晶体内部产生的低能可见光子成各向同性分布,晶体内部产生的可见光子到达末端闪烁光出射面S1时,出射角度范围较大,影响探测器的能量分辨率,为了提升探测器的大角度光子的收集率,同时提升探测器的能量分辨率,围绕硅酸钇镥闪烁光的波长进行了大量数据的透镜组设计,经过实际试验和性能对比,得到如图3所述的非球面形状透镜组,当然图3也仅是示意图,实际的参数满足如下关系:所述透镜组的光轴与光传感器的光接受面的中心轴线重合,所述透镜组沿着闪烁光出射方向依次包括第一透镜L1,第二透镜L2,第三透镜L3,第四透镜L4,第五透镜L5和第六透镜L6,各透镜的两侧表面均为非球面,并满足以下非球面方程:
y=(x2/R)/(1+(1-(k+1) (x2/R2))1/2 +A4x4+A6x6+A8x8+A10x10+A12x12+A14x14+A16x16,
其中,R是中心轴上的曲率半径(绝对值的长度单位为mm),k是圆锥系数,A4、A6、A8、A10、A12、A14、A16是非球面系数,
取值如下:
透镜面 R k A4 A6 A8 A10 A12 A14 A16
1-R 6.85 -9.21E+00 7.02E-03 -1.19E-02 1.05E-02 -5.51E-03 1.70E-03 -2.68E-04 1.50E-05
1-L 76.46 0.00E+00 -5.05E+03 -1.77E-03 1.22E-03 -7.15E+02 2.33E-04 -3.94E-05 2.31E-06
2-R 11.93 0.00E+00 -8.83E-03 -4.27E-03 4.70E-04 7.41E-04 -4.42E-04 9.51E-05 -7.07E-06
2-L 6.58 -1.10E+01 4.39E-03 -7.95E-03 3.25E-03 -7.89E-04 1.20E-04 -1.03E-05 3.41E-07
3-R 20.79 0.00E+00 3.40E-03 -1.31E-03 -1.10E+02 1.29E-04 -4.38E-05 5.72E-06 -2.23E-07
3-L 8.21 0.00E+00 -1.59E-02 1.85E-03 -1.46E-04 -1.15E+01 -3.15E-06 7.56E-07 -2.41E-08
4-R 4.13 -2.51E-01 -1.32E-02 2.81E-04 1.95E-05 -2.98E-06 -2.86E-06 5.44E-07 -2.16E-08
4-L 20.96 0.00E+00 -3.70E-03 2.84E-04 -1.43E-04 3.01E-05 -3.92E-06 3.21E-07 -8.73E-09
5-R -4.60 5.63E-01 -6.73E-03 -2.58E-04 5.81E-04 -2.17E-04 3.79E-05 -2.81E-06 6.75E-08
5-L -1.42 -1.03E+00 1.66E-02 -7.49E-03 1.88E-03 -3.29E-04 3.74E-05 -2.13E-06 4.20E-08
6-R 2.88 -1.51E+01 6.79E-03 -1.75E-03 2.17E-04 -1.89E-05 1.06E-06 -3.07E-08 3.24E-10
6-L 1.20 -3.33E+00 -8.38E-05 -1.58E-04 7.77E-06 -1.43E-07 -2.01E-10 3.06E-11 -1.63E-13其中透镜面列中N-R列表示第N透镜的物侧表面,N-L表示第N透镜的像侧表面;
第一至第六透镜的焦距分别为14.35 mm,-24.29 mm,-26.51 mm,9.71 mm,3.42 mm,-
4.14 mm,厚度分别为:0.96 mm,0.33 mm,0.68 mm,0.82 mm,1.39 mm,0.87 mm。
[0014] 本次实验采用的光传感器为光电倍增管,但本领域技术人员熟知的其它光传感器亦可采用。
[0015] 需要说明的是,非球面公式为透镜设计的公知公式,难点在于具体的非球面参数设计,在公开了非球面公式的参数以后,现有技术中的常规制造技术能够轻易实现该非球面的加工,具体的加工方式不再赘述。
[0016] 经过大量实验数据的对比,本发明的设计对比实验的平均数据如下,其它条件相同时,不采取本发明的透镜组设计,符合事件的被检测数量下降超过8%,可见透镜组的设置可以有效提升系统的能量分辨率。
[0017] 以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
高效检索全球专利

专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。

我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。

申请试用

分析报告

专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。

申请试用

QQ群二维码
意见反馈