中国科学院微电子研究所
该申请人涉及专利文献：13667，涉及专利：10005件
覆盖主要的IPC大类包括：H01(5233)、G01(1047)、G06(1025)、H03(758)、G11(511)、G03(419)、G02(339)、H04(333)、H10(306)、C23(273)
专利类型分布状况：发明公开(8994)、发明申请(716)、实用新型(282)、外观设计(13)
专利不同法律状态数据分布状况：有效专利(4164)、实质审查(2375)、无效专利(2084)、公开(794)、失效专利(588)
该领域主要的发明人有：朱慧珑(817)、尹海洲(343)、殷华湘(334)、钟汇才(183)、李永亮(172)、吴玉平(168)、刘明(147)、梁擎擎(121)、罗军(114)、王桂磊(97)
详细地址：中国 北京市 朝阳区 北京市朝阳区北土城西路3号 100029
相关专利文献 (13667件)
| 专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
|---|---|---|
| 发明公开 | 一种应用于半导体器件仿真中的边界条件处理方法及装置 | CN120893218A |
| 发明公开 | 一种硅基液晶器件的液晶盒厚控制装置及盒厚控制方法 | CN120891665A |
| 发明授权 | 一种具有横向结构的垂直腔表面发射激光器及其制造方法 | CN117791305B |
| 发明授权 | 一种自毁器件及芯片 | CN115692323B |
| 发明授权 | 辐射效应测试方法及系统 | CN115112966B |
| 发明授权 | 一种单粒子翻转加固锁存器电路 | CN114531147B |
| 发明授权 | 一种新型单粒子加固触发器电路 | CN114531145B |
| 发明公开 | 一种硅基液晶的数字驱动方法和装置 | CN120877674A |
| 发明授权 | 一种评估芯片质量分析模型准确率的方法和系统 | CN115600115B |
| 发明授权 | 一种具有老化检测和自毁功能的ATD电路模块 | CN114860626B |
近10年该领域专利申请趋势
专利分类情况
IPC分类
核心专利文献
相关企业
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 中国科学院微电子研究所 | 14380 |
| 2 | 中国科学院微电子研究所嘉兴微电子仪器与设备工程中心 | 3 |
相关发明人
| 排名 | 发明人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 朱慧珑 | 817 |
| 2 | 尹海洲 | 343 |
| 3 | 殷华湘 | 334 |
| 4 | 钟汇才 | 183 |
| 5 | 李永亮 | 172 |
| 6 | 吴玉平 | 168 |
| 7 | 刘明 | 147 |
| 8 | 梁擎擎 | 121 |
| 9 | 罗军 | 114 |
| 10 | 王桂磊 | 97 |
相关代理机构
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 4246 |
| 2 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 1863 |
| 3 | 北京华沛德权律师事务所 | 1723 |
| 4 | 北京辰权知识产权代理有限公司 | 1030 |
| 5 | 北京知迪知识产权代理有限公司 | 1022 |
| 6 | 北京市德权律师事务所 | 768 |
| 7 | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所 | 691 |
| 8 | 北京汉昊知识产权代理事务所 | 466 |
| 9 | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 | 342 |
| 10 | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 | 324 |
相关代理人
| 排名 | 代理人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 周国城 | 1217 |
| 2 | 房德权 | 999 |
| 3 | 王宝筠 | 965 |
| 4 | 任岩 | 762 |
| 5 | 王胜利 | 700 |
| 6 | 陈红 | 690 |
| 7 | 王建国 | 564 |
| 8 | 倪斌 | 548 |
| 9 | 刘丽君 | 537 |
| 10 | 朱海波 | 464 |
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