该申请人涉及专利文献:7425,涉及专利:5024件
覆盖主要的IPC大类包括:H01(3461)、G01(491)、G03(467)、G06(330)、B24(129)、C23(124)、B08(112)、G11(75)、G05(71)、H03(67)
专利类型分布状况:发明公开(4609)、实用新型(414)、外观设计(1)
专利不同法律状态数据分布状况:有效专利(2726)、无效专利(1793)、实质审查(395)、失效专利(100)、公开(10)
该领域主要的发明人有:毛智彪(176)、俞柳江(168)、范荣伟(167)、鲍宇(160)、黄晓橹(141)、倪棋梁(140)、田志(134)、徐强(107)、朱天志(93)、顾经纶(91)
详细地址:中国 上海市 浦东新区 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568 号 201210
专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
---|---|---|
发明授权 | 一种通过STI刻蚀工艺改善HDP填充缺陷的方法 | CN114497089B |
发明授权 | 缺陷源检测方法 | CN116468712B |
发明公开 | 检测WAT异常针痕的方法及系统 | CN120339209A |
发明授权 | 一种检查光刻工艺微小失焦的方法 | CN114156194B |
发明授权 | 一种横向扩散金属氧化物半导体的子电路模型构建方法 | CN114117971B |
发明公开 | 电迁移测试结构及测试方法 | CN120261449A |
发明授权 | 版图图形边缘分割方法 | CN115629518B |
发明授权 | 基于派工规则的自适应铜化学机械抛光设备智能排程控制方法 | CN115555981B |
发明授权 | 一种阈值电压的测量方法及其系统 | CN114089147B |
发明公开 | 一种WAT测试结构 | CN119993959A |
排名 | 企业名称 | 专利 |
---|---|---|
1 | 上海华力微电子有限公司 | 7425 |
排名 | 发明人 | 专利 |
---|---|---|
1 | 毛智彪 | 176 |
2 | 俞柳江 | 168 |
3 | 范荣伟 | 167 |
4 | 鲍宇 | 160 |
5 | 黄晓橹 | 141 |
6 | 倪棋梁 | 140 |
7 | 田志 | 134 |
8 | 徐强 | 107 |
9 | 朱天志 | 93 |
10 | 顾经纶 | 91 |
排名 | 企业名称 | 专利 |
---|---|---|
1 | 上海思微知识产权代理事务所 | 3172 |
2 | 上海申新律师事务所 | 1220 |
3 | 上海天辰知识产权代理事务所 | 1058 |
4 | 上海新天专利代理有限公司 | 908 |
5 | 上海思捷知识产权代理有限公司 | 465 |
6 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 435 |
7 | 上海专利商标事务所有限公司 | 96 |
8 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 62 |
9 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 7 |
10 | 隆天知识产权代理有限公司 | 1 |
排名 | 代理人 | 专利 |
---|---|---|
1 | 吴世华 | 1070 |
2 | 智云 | 1044 |
3 | 王敏杰 | 907 |
4 | 陆花 | 875 |
5 | 陈慧弘 | 540 |
6 | 曹廷廷 | 532 |
7 | 竺路玲 | 503 |
8 | 林彦之 | 426 |
9 | 王宏婧 | 407 |
10 | 俞涤炯 | 397 |