代理专利文献:43457,涉及专利:33607件
覆盖主要的IPC大类包括:H01(8940)、G01(2826)、G06(2289)、H04(1633)、G03(1577)、H02(1273)、A61(1058)、E04(908)、F16(791)、B60(662)
专利类型分布状况:发明公开(20164)、实用新型(9694)、外观设计(3234)、发明申请(515)
专利不同法律状态数据分布状况:有效专利(12567)、失效专利(10796)、无效专利(7562)、实质审查(2119)、公开(563)
涉及到的主要客户:上海华力微电子有限公司(3175)、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司(2745)、上海华虹宏力半导体制造有限公司(2458)、上海电机学院(2094)、上海微电子装备有限公司(1671)、联合汽车电子有限公司(1554)、武汉新芯集成电路制造有限公司(996)、上海宏力半导体制造有限公司(957)、上海微电子装备(集团)股份有限公司(922)、昆山市周市惠宏服装厂(889)
涉及到的主要发明人:解吉平(889)、严卫忠(349)、不公告发明人(231)、施晓旦(213)、倪雪明(199)、姚建平(199)、梁菊明(199)、蒋建业(199)、龚菊明(194)、杨光军(144)
发明专利授权成功率:50%
| 专利类型 | 专利名称 | 文献号 | 
|---|---|---|
| 发明公开 | 沟槽型MOS结构及其形成方法、掩模板图形结构 | CN120882053A | 
| 发明公开 | 一种测试样品及其制备方法、电性测试方法 | CN120870797A | 
| 发明公开 | 将电子元件自基板上移除的方法及其制造发光二极管显示器的方法 | CN120857739A | 
| 发明公开 | 夹持装置及研磨机台 | CN120839667A | 
| 发明授权 | 叠层电容器及其制作方法、存储设备 | CN116169130B | 
| 发明授权 | 晶圆测试系统及测试方法 | CN115360114B | 
| 发明公开 | 加工系统、加工方法及品检方法 | CN120827241A | 
| 发明授权 | 半导体器件及其制造方法 | CN115732503B | 
| 发明公开 | 半导体结构及其制备方法 | CN120824292A | 
| 发明公开 | 阻变存储器的测试方法 | CN120823870A | 
| 排名 | 企业名称 | 专利 | 
|---|---|---|
| 1 | 上海华力微电子有限公司 | 3175 | 
| 2 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 2745 | 
| 3 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 2458 | 
| 4 | 上海电机学院 | 2094 | 
| 5 | 上海微电子装备有限公司 | 1671 | 
| 6 | 联合汽车电子有限公司 | 1554 | 
| 7 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 996 | 
| 8 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 957 | 
| 9 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 922 | 
| 10 | 昆山市周市惠宏服装厂 | 889 | 
| 排名 | 发明人 | 专利 | 
|---|---|---|
| 1 | 解吉平 | 889 | 
| 2 | 严卫忠 | 349 | 
| 3 | 不公告发明人 | 231 | 
| 4 | 施晓旦 | 213 | 
| 5 | 倪雪明 | 199 | 
| 6 | 姚建平 | 199 | 
| 7 | 梁菊明 | 199 | 
| 8 | 蒋建业 | 199 | 
| 9 | 龚菊明 | 194 | 
| 10 | 杨光军 | 144 |