专利汇可以提供一种步进角度激光装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供一种步进 角 度激光装置,包括 激光器 、反射镜M1、反射镜M2、反射镜M3、扫描振镜、旋转台、透镜L1、透镜L2、透镜L3、透镜L4、 荧光 滤波片、色散原件、匹配器、轮询装置、探测器1、探测器2、探测器3、计算机,本发明有机结合高 光谱 分辨成像和扫描激光光学 层析成像 , 光子 利用效率高,具有对样本进行多维度荧光成像的快速高效成像的优点,三维立体的成像 精度 各向同性,成像系统紧凑,使用方便等优点。,下面是一种步进角度激光装置专利的具体信息内容。
1.一种步进角度激光装置,其特征在于:包括激光器、反射镜M1、反射镜M2、反射镜M3、扫描振镜、旋转台、透镜L1、透镜L2、透镜L3、透镜L4、荧光滤波片、色散原件、匹配器、轮询装置、探测器1、探测器2、探测器3、计算机;
所述探测器1、所述探测器2、所述探测器3通过电气电路与所述计算机连接;
所述计算机与所述扫描振镜和所述旋转台连接;
所述匹配器与所述计算机和所述控测器1相连;
所述轮询装置与所述计算机和所述控测器3相连;
所述透镜L3、所述透镜L4、所述荧光滤波片组成一个能选取一个特定波长的成像系统,所述荧光滤波片用于选取特定的波长;
所述匹配器根据计算机的指令,并且根据事先输入的样品的种类进行匹配,其中探测器2为荧光强度探测器,探测器3为吸收强度探测器,此两路光学可根据需求加入或者取消;
结合SLOT投影成像系统和光谱分辨系统,通过系统硬件操控平台,实现吸收/荧光/荧光光谱相关数据采集;其中光路可根据需求增为3号光路或者是减为2号光路;
所述激光器(488纳米,200毫瓦半导体激光器)作为成像的激发光源,在光路中,将激光聚焦到样本上,且通过激光扫描系统(二维扫描振镜2-D Scanning Mirror)做快速二维横向扫描;样本所发出的荧光进入所述光谱分辨系统(色散原件或者光谱仪),进行光谱分辨然后送入到所述探测器(CCD探测器或者阵列探测器或者sCMOS探测器);既可以通过2号光路成像光学收集,送入探测器2进行荧光强度的收集;也可以通过3号光路将吸收光送入探测器3中进行吸收信号收集;
在每个角度的强度/光谱投影图像是由所述激光扫描系统控制进行扫描(x,y)形成;
通过所述旋转台步进角度,重复上述步骤最终得到角度相关的一系列强度投影图像(x,z,θ)/光谱信息投影图像(x,y,λ,θ);
所述激光器发出激光,通过所述反射镜M1,所述反射镜M2将激光打入所述扫描振镜,通过所述扫描振镜的反射再通过所述透镜L1聚焦到位于所述旋转台下的样本上;所述激光通过所述样本吸收后剩余的激光通过探测器3,所述计算机根据指令进行采集;所述激光通过样本后产生的荧光可以通过半透半反镜BS,所述半透半反镜BS将所述荧光的一半经过所述透镜L3,所述荧光滤波片,所述透镜L4打入所述探测器2后,所述计算机根据指令进行采集;
所述荧光的另一半经过所述透镜L2聚焦到所述色散原件进行光谱信号的分辨,再根据所述计算机的指令利用所述探测器1进行光谱信号的采集;
所述计算机发出指令触发所述扫描振镜做快速二维横向扫描,从而对所述样本在每个角度下进行扫描,并得到所述吸收光或者荧光的强度投影图像和光谱分辨信息投影图像;
所述计算机发出指令控制触发旋转台步进角度,重复上述步骤最终得到角度相关的一系列所述吸收光荧光的强度投影图像和光谱分辨信息投影图像;
所述计算机对采集的信息进行数据解构后,再利用多角度的投影信号通过直线投影层析重建成像,最后可得到样本的三维立体强度信息和样本的高光谱三维立体信息;
其中,利用实验装置的硬件操控平台(Labview或者Micromanager编写的硬件控制程序),实现上述扫描控制、旋转台控制、探测器触发、曝光控制、信号采集及存储等功能;外触发信号源与探测器、数据采集卡连接,并通过触发电路与激光扫描系统和旋转台连接;
所述透镜L3、所述透镜L4、所述荧光滤波片组成一个能选取一个特定波长的成像系统,所述荧光滤波片用于选取特定的波长;
所述匹配器根据计算机的指令,并且根据事先输入的样品的种类进行匹配,其中探测器2为荧光强度探测器,探测器3为吸收强度探测器,此两路光学可根据需求加入或者取消;
结合SLOT投影成像系统和光谱分辨系统,通过系统硬件操控平台,实现吸收/荧光/荧光光谱相关数据采集;其中光路可根据需求增为3号光路或者是减为2号光路;
所述激光器(488纳米,200毫瓦半导体激光器)作为成像的激发光源,在光路中,将激光聚焦到样本上,且通过激光扫描系统(二维扫描振镜2-D Scanning Mirror)做快速二维横向扫描;样本所发出的荧光进入所述光谱分辨系统(色散原件或者光谱仪),进行光谱分辨然后送入到所述探测器(CCD探测器或者阵列探测器或者sCMOS探测器);既可以通过2号光路成像光学收集,送入探测器2进行荧光强度的收集;也可以通过3号光路将吸收光送入探测器3中进行吸收信号收集;
在每个角度的强度/光谱投影图像是由所述激光扫描系统控制进行扫描(x,y)形成;
通过所述旋转台步进角度,重复上述步骤最终得到角度相关的一系列强度投影图像(x,z,θ)/光谱信息投影图像(x,y,λ,θ);
所述激光器发出激光,通过所述反射镜M1,所述反射镜M2将激光打入所述扫描振镜,通过所述扫描振镜的反射再通过所述透镜L1聚焦到位于所述旋转台下的样本上;所述激光通过所述样本吸收后剩余的激光通过探测器3,所述计算机根据指令进行采集;所述激光通过样本后产生的荧光可以通过半透半反镜BS,所述半透半反镜BS将所述荧光的一半经过所述透镜L3,所述荧光滤波片,所述透镜L4打入所述探测器2后,所述计算机根据指令进行采集;
所述荧光的另一半经过所述透镜L2聚焦到所述色散原件进行光谱信号的分辨,再根据所述计算机的指令利用所述探测器1进行光谱信号的采集;
所述计算机发出指令触发所述扫描振镜做快速二维横向扫描,从而对所述样本在每个角度下进行扫描,并得到所述吸收光或者荧光的强度投影图像和光谱分辨信息投影图像;
所述计算机发出指令控制触发旋转台步进角度,重复上述步骤最终得到角度相关的一系列所述吸收光荧光的强度投影图像和光谱分辨信息投影图像;
所述计算机对采集的信息进行数据解构后,再利用多角度的投影信号通过直线投影层析重建成像,最后可得到样本的三维立体强度信息和样本的高光谱三维立体信息;
其中,利用实验装置的硬件操控平台(Labview或者Micromanager编写的硬件控制程序),实现上述扫描控制、旋转台控制、探测器触发、曝光控制、信号采集及存储等功能;外触发信号源与探测器、数据采集卡连接,并通过触发电路与激光扫描系统和旋转台连接。
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