温度测试装置
专利汇可以提供温度测试装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且一种 温度 测试装置，用于感测一个 电路 板上的多个 电子 元件的温度，其包括一个固定框、两个 导轨 、一个滑轨、一个温度感测器、一个驱动装置及一个处理器。所述固定框用于固定 电路板 。所述两个导轨平行设置于固定框上。所述滑轨滑动跨设在所述两个导轨上。所述温度感测器垂直、滑动设置在所述滑轨上，用于感测所述电路板上的多个电子元件的温度。所述驱动装置用于驱动所述滑轨沿所述导轨移动及驱动所述温度感测器沿所述滑轨移动。所述处理器与所述温度感测器及驱动装置电连接，用于记录所述各电子元件的 位置 并据此控制驱动装置。由于在驱动装置及处理器的控制下，温度感测器迅速移动到各电子元件处，进行温度感测，从而快速高效感测各电子元件温度。，下面是温度测试装置专利的具体信息内容。
1.一种温度测试装置，其特征在于包括：
一个用于固定一个电路板的固定框，所述电路板上包括有多个电子元件；
两个设置于固定框上的导轨；
一个滑动跨设在所述两个导轨上的滑轨；
一个垂直、滑动设置在所述滑轨上、用于感测所述多个电子元件的温度的温度感测器；
一个用于驱动所述滑轨沿所述导轨滑动及驱动所述温度感测器沿所述滑轨移动的驱动装置；及
一个用于记录所述多个电子元件的位置并据此控制驱动装置的处理器，所述处理器与所述温度感测器及驱动装置电连接。
2.如权利要求1所述的温度测试装置，其特征在于，所述处理器包括电连接的一个存储模块，一个距离计算模块及一个控制模块，所述存储模块内存储有各个电子元件的位置坐标；所述距离计算模块用于分别计算所述温度感测器到达所述多个电子元件所需移动的距离；所述控制模块用于根据所述距离计算模块的计算结果控制所述驱动装置进行转动。
3.如权利要求2所述的温度测试装置，其特征在于，所述处理器还包括一个温度计算模块，所述温度计算模块用于将所述温度感测器对同一个电子元件的多次温度感测结果进行平均，然后将该平均温度存储在存储模块中，作为该电子元件的实际温度。
4.如权利要求1所述的温度测试装置，其特征在于，所述驱动装置包括第一马达及第二马达，所述第一马达设置在所述滑轨上，用于驱动所述滑轨沿所述导轨移动；所述第二马达设置在所述温度感测器上，用于驱动所述温度感测器沿所述滑轨移动。
5.如权利要求1所述的温度测试装置，其特征在于，所述温度感测器为红外线温度感测器。
温度测试装置
技术领域
背景技术
发明内容
具体实施方式
400的坐标值。可以理解，各个电子元件400的坐标值是在电路板30的布局阶段都已经设置好的，而电路板300与固定框10的相对位置确定，因此，电路板300上的各电子元件400的坐标可预先获得并记录在存储模块71内。所述距离计算模块72计算各电子元件400分别沿X轴方向及Y轴方向与所述原点O之间的距离，所述控制模块73根据所述距离计算模块72的计算结果，使所述第一马达51及第二马达52进行转动，从而带动所述温度感测器
40移动到各电子元件400处，感测各电子元件400的温度，并将各电子元件400的温度存储在所述存储模块71内，循环上述步骤，再次计算各电子元件400的温度，将每个电子元件
400的温度的两次感测数据进行平均，并将该平均温度存储在所述存储模块71内，作为该电子元件400的实际温度。
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