本申请主要涉及磁盘驱动器装置及机架。

当在制造过程中测试磁盘驱动器时，本申请的多个方面对于容纳磁盘驱动器具有特别的应用。但是，本申请的多个方面并不限于测试这类设备，而涉及例如在由终端使用者用于储存应用过程中容纳磁盘驱动器的设备及装置。
在磁盘驱动器单元的制造过程中，测试磁盘驱动器单元是必要的，以确保其满足必需的规范。例如，测试磁盘的磁记录表面的缺陷，而且还要测试磁盘驱动器的电子器件。作为测试操作的一部分，磁盘驱动器单元的温度在宽范围之间变化，以确保在温度范围内的磁盘驱动器的性能符合要求。
为了这个目的，磁盘驱动器单元安装在满足特定要求的装置上。例如，该装置必须能可控地改变磁盘驱动器的温度。磁盘驱动器优选地以这种方式安装以衰减振动，以便既衰减从装置进入磁盘驱动器的振动，也衰减由磁盘驱动器的运行引起的传出去到达装置的其余部分的振动。
在申请人的WO-A-01/41148中，公开了一种磁盘驱动器单元支架，其全部公开内容在此引用合并。该支架具有后部和前部。磁盘驱动器安装于前部内用于测试。后部包括风扇和阀装置，以将气体吹过磁盘驱动器。该支架和许多其它这种支架被安装在大型的类似框架的装置中。通过风扇和阀的有选择的运行，磁盘驱动器的温度能在宽范围内可控地变化。为了这个目的，设有热交换器以冷却气体，还设有加热器以随意地加热气体。
通常，在测试操作过程中，在第一步中，通过装置对磁盘驱动器施加轻微的动力和控制连接，然后就实现了所谓的环境测试，在环境测试中驱动器完成所谓的自测试。该第一步骤可用于例如测试磁盘表面的缺陷，以确保在宽温度范围内的运行合乎要求。传统上，磁盘驱动器随后被移到完全分开的装置，在该装置中实现所谓的接口测试。在接口测试中，对磁盘驱动器进行完全的控制连接，以例如全面检查通过驱动器的接口进行的高速数据传输能够在合乎要求的性能下实现。因此，传统上，已有两个独立的测试装置，一个用来实现较简单的环境测试，而另一个用来实现较高要求的接口测试。如将会理解的，在测试过程中必须将磁盘驱动器在两个装置之间转移，这是不方便的而且浪费时间。
通常，通过测量流经磁盘驱动器的气体的温度和利用查表或同类方法计算磁盘驱动器的温度，磁盘驱动器的温度仅间接地得到监控。但是，为了达到所有准确性，需要高速和大流量气体流经磁盘驱动器。那么这意味着需要体形庞大、高功率的风扇，这不符合于最小化装置的尺寸的要求，并且使最小化装置内产生的振动影响更加困难。
许多上面讨论的问题，例如，衰减磁盘驱动器的振动以及控制其温度，也与终端使用者存储应用有关，在该存储应用中，为了使用，终端使用者将一个或多个磁盘驱动器装入存储装置。
发明内容
根据本发明的一个方面，设有磁盘驱动器测试装置，该装置包括：多个间格，每个间格用于容纳将要测试的相应的磁盘驱动器；多个卡槽，每个卡槽用于容纳测试卡，通过测试卡可以测试磁盘驱动器；和多个测试卡，每个测试卡容纳于相应的卡槽内，每个测试卡是环境测试卡或接口测试卡；该卡槽和该测试卡这样设置，以至每个卡槽可以选择地容纳环境测试卡或接口测试卡。
在这个方面，可以使用同样的基本装置以允许多个磁盘驱动器的环境测试和接口测试。实际上，环境测试比接口测试花费更长时间。因此，制造者可以这样设置装置，以至有几个环境测试卡用于每个接口测试卡。环境测试卡可以具有都包括在一个单元内的例如一个或多个风机、通道和电子器件等，该单元可以容易地以接口测试卡交换，该接口测试卡具有处理器和与磁盘驱动器的适当连接，以使磁盘驱动器的接口得到测试。
卡槽、该环境测试卡或各环境测试卡和该接口测试卡或各接口测试卡优选这样设置，以至每个卡槽可以不与其它任何卡槽物理干涉地选择地容纳环境测试卡或接口测试卡，以便每个卡槽都可装入测试卡。以这种方式，所有卡槽都可以在全工时内使用，例如制造都不用必须牺牲两个卡槽以容纳接口测试卡。
在一个实施例中，装置包括至少一个环境测试卡和至少一个接口测试卡。
在优选实施例中，装置包括对应于每个间格的相应卡槽。因此，每个磁盘驱动器都可由其自己专用测试卡进行单独测试。
根据本发明的第二个方面，提供了磁盘驱动器安装装置，该装置包括：框架；磁盘驱动器托架，用于容纳至少一个磁盘驱动器，该磁盘驱动器托架安装于框架上或与框架一体制成；和卡托架，用于容纳至少一个卡，通过该卡，可以测试或运行所述磁盘驱动器，该卡托架可拆卸地容纳于框架内。
这种设置通常将机械元件(特别是磁盘驱动器托架)与电子器件(特别是卡托架，其通常支撑环境测试卡或接口测试卡)分开。当磁盘驱动器托架相对于框架刚性地安装时，这种设置有助于最大限度地降低振动对磁盘驱动器的影响。另一方面，卡托架是可以拆卸的，实践中，这对于保养和升级目的是必要的。
在一实施例中，磁盘驱动器托架构造和设置成容纳多个磁盘驱动器，并且卡托架构造和设置成容纳相应的多个卡。
在一实施例中，磁盘驱动器托架包括能将磁盘驱动器安装于其中的磁盘驱动器安装装置，磁盘驱动器安装装置可从磁盘驱动器托架上拆卸，而不必将磁盘驱动器托架从框架上分离。磁盘驱动器安装装置可以是磁盘驱动器可以插入的类似套筒装置的形式，硬盘驱动器可选择地支撑于硬盘驱动器托盘或承载架上。这个实施例是特别有用的，由于一种类型或构造的磁盘驱动器安装装置可以容易地交换为另一种类型或构造的磁盘驱动器安装装置，以容纳不同类型的磁盘驱动器。
根据本发明的第三个方面，提供了一磁盘驱动器装置，该装置包括：磁盘驱动器托架，用于容纳至少一个磁盘驱动器；和卡托架，其包括至少一个卡和至少一个风机，通过卡可以测试或运行所述磁盘驱动器，风机用于产生将流遍所述磁盘驱动器的风；磁盘驱动器托架和卡托架通过非接触式密封设置起作用地相互连接，以至磁盘驱动器托架和卡托架基本上机械地相互分离，而风可以从卡托架传送进磁盘驱动器托架并流遍所述磁盘驱动器。
在这个方面，要满足两个要求(i)磁盘驱动器托架和卡托架基本上机械地相互分离，然而(ii)热/冷风将能在磁盘驱动器托架和卡托架之间通过。避免了接触密封设置，例如，完全密封磁盘驱动器托架和卡托架之间的连接或任何缝隙的橡胶或类似密封。
实际中，优选地，磁盘驱动器托架和卡托架这样设置，以至至少一些已流经所述磁盘驱动器的气体然后传送回卡托架。
在一优选实施例中，密封设置是这样的，以致在磁盘驱动器托架和卡托架之间存在气缝，并以致使当气体从卡托架传送进磁盘驱动器托架和当气体从磁盘驱动器托架传送进卡托架时，气体经历压降。以这种方式，可拟制气体通过气缝从磁盘驱动器托架和卡托架泄露。可以理解，防止所有的气体通过气缝泄露不是必须的情况，术语“抑制”(inhibit)应作相应的解释。
至少一个卡可以附带至少一个风机，以产生从卡托架传送进磁盘驱动器托架并传遍所述磁盘驱动器的气体。
根据本发明的第四个方面，提供了磁盘驱动器安装装置，该装置包括：间格，用于容纳磁盘驱动器；和温度传感器，其构造并设置成在所述磁盘驱动器的测试或运行过程中直接检测所述磁盘驱动器的温度。
如上所述，磁盘驱动器的温度传统上仅通过测量流经磁盘驱动器的气体的温度，然后计算磁盘驱动器的温度而间接地监控。在该方面，磁盘驱动器的温度可以直接检测。这可获得更准确的磁盘驱动器温度的监控，并因此获得更好的磁盘驱动器的测试和检查。重要地，也意味着可以避免了用于现有技术中的为达到大体积和高速风流的大型风机，节省了空间并也减少了振动。
温度传感器可以通过偏压设置安装，以将温度传感器偏压成与所述磁盘驱动器接触。例如，温度传感器可以安装在弹簧臂上。这有助于克服磁盘驱动器与传感器的任何接触问题，这些问题可能是由于制造公差造成的磁盘驱动器和装置本身的外形尺寸变化引起的。
在一个实施例中，装置包括框架，其形成间格，温度传感器安装于框架。温度传感器可以直接间接地安装于框架上，例如安装在装在框架上的连接器上。使用时，磁盘驱动器连接于连接器(用于传送动力以及控制和数据信号)。因此，这种连接形成基准点，在该基准点，恰当地限定了磁盘驱动器相对于间格的位置，可以理解磁盘驱动器的剩余部分可以在间格内“漂浮”一度或另一些度数，以有助于最大限度地降低振动的影响。因此将温度传感器安装在连接器上，在使用时，使确保温度传感器获得与磁盘驱动器恰当的接触变得更容易。
在另一个实施例中，提供了可拆卸的托盘，磁盘驱动器可以容纳于其中，该托盘能可拆卸地容纳于间格中，以在间格中安装所述磁盘驱动器，温度传感器安装于托盘。在本例中，磁盘驱动器相对于托盘的位置通常被恰当地限定，因此，本实施例也可在使用时，使确保温度传感器获得与磁盘驱动器恰当的接触变得更容易。
在另一个实施例中，装置包括至少两个温度传感器，该温度传感器构造和设置成在所述磁盘驱动器的测试或运行过程中直接检测所述磁盘驱动器的温度，装置包括形成间格的框架，至少一个温度传感器安装于框架，装置包括可拆卸的托盘，磁盘驱动器可以容纳于托盘中，托盘可以可拆卸地容纳于间格中，以将所述磁盘驱动器安装于间格内。利用两个温度传感器，这样能进行磁盘驱动器上不同位置的磁盘驱动器温度的比较。在任何情况下，可以设置多个温度传感器以测量磁盘驱动器上几个不同位置的磁盘驱动器温度。而且，希望在磁盘驱动器上几个不同位置测量不同类型的磁盘驱动器的温度。具有不只一个温度传感器意味着，可以将相同的基本的装置与更宽范围类型的磁盘驱动器一起使用，并仍能在温度测量方面达到良好的准确性。
在刚刚描述的实施例中，托盘可包括多个安装销，该安装销支撑容纳于托盘中的磁盘驱动器，至少一个安装销在其中具有温度传感器。
在一个实施例中，磁盘驱动器容纳于间格中，磁盘驱动器具有内部温度传感器，由此可以根据磁盘驱动器安装装置的温度传感器探测到的温度和由磁盘驱动器的内部温度传感器探测到的温度进行比较。
根据本发明的第五个方面，设有磁盘驱动器安装装置，该装置形成接收器，承载了磁盘驱动器的磁盘驱动器托盘可以容纳于其中，装置具有阻尼材料，该阻尼材料设置成在三个正交方向衰减振动。
装置的优选实施例能衰减从装置外面产生的影响容纳于装置内的磁盘驱动器的振动，并衰减由磁盘驱动器运行引起的振动。实践中，磁盘驱动器刚性地连接于装置，而装置“柔性”安装于如支撑许多这种装置的框架的装置中。
阻尼材料优选与使用时容纳于装置内的磁盘驱动器的旋转轴成角度设置，以便阻尼材料通过阻尼材料的剪断和压缩/拉伸的结合衰减振动。因此，阻尼材料优选不仅以剪断方式或压缩/拉伸方式起作用，这使材料更耐久，并在更宽范围的作用条件下使其作用特性更稳定和可预知。
在一个实施例中，装置具有两个相对的侧壁，至少一个侧壁的外面在其上具有阻尼材料。
在一个实施例中，该至少一个侧壁这样设置，以至所述侧壁的外面与使用时容纳于装置中的磁盘驱动器的旋转轴成一角度。
在一个实施例中，装置具有两个相对的侧壁，每个所述侧壁这样设置，以至每个所述侧壁的外面与使用时容纳于装置中的磁盘驱动器的旋转轴成一角度，各侧壁在其上设有阻尼材料，该阻尼材料这样设置，以至阻尼材料通过阻尼材料的剪断和压缩/拉伸的结合衰减振动。
装置可以包括可拆卸地安装在装置上的质量块。质量块可以用于调整装置的振动特性，当其可用于将装置的旋转中心移动远离磁盘驱动器的臂的枢接点时，其是特别有用的，而这有助于更有效地衰减振动。具有不同尺寸、形状和/或重量的不同的质量块可以用于不同的磁盘驱动器。
附图说明
现在将利用例子并参照附图对本发明的实施例进行描述，其中：图1表示磁盘驱动器测试装置的一个实施例的立体图；图2表示图1的装置的示意的剖视立体图；图3表示控制卡的示例的立体图，环境测试卡和接口测试卡连接于该控制卡；图4表示一立体图，表示磁盘测试装置的前部与框架连接的实施例；图5表示经过环境测试卡和其中具有一磁盘驱动器的磁盘驱动器安装装置的实施例的一部分的纵向横断面视图；图6A至6D表示其中安装有温度传感器的连接器并且温度传感器与磁盘驱动器接触的实施例的立体图；图7A至7D表示其中安装有温度传感器的磁盘驱动器托盘以及磁盘驱动器托盘与连接器连接的实施例的立体图；和图8A至8C表示大块阻尼材料固定在其上的磁盘驱动器安装装置的实施例的立体图。

首先，参见图1和2，磁盘驱动器测试装置1包括前部2和后部3。在本例中，前部2可拆卸地安装于后部3。可以理解，根据惯例使用术语“前”和“后”，前部2是在使用时磁盘驱动器所在的位置，后部3包括电器器件等，如将在下面进一步讨论的一样。
在所示的例子中，装置1可以在隔开的间格4中容纳最多6个磁盘驱动器，该间格4一个叠另一个地垂直设置。使用时，装置1固定于大型、通常是钢的框架(未示出)上，该框架上具有非常多的这样的装置1，以便于几百或甚至几千个磁盘驱动器可以一次容纳于框架内。在优选的实施例中，用机械手将磁盘驱动器插入装置1和从装置1移除。
现在特别参见图2和3，后部3具有垂直设置的控制卡5，控制卡5具有六组垂直间隔的连接器，连接器形成槽6，各槽6用于容纳相应的测试卡。本例中的测试卡分为两种。第一种是所谓的环境测试卡7，另一种是所谓的接口测试卡8。(在图2中，只示出了环境测试卡7。)各环境测试卡7包括两个离心式鼓风机9、10。这些风机9中的一个是冷风机9，其用于将风吹到使用时安装于间格4中的磁盘驱动器上，该间格4邻近环境测试卡7。第二个风机10是再循环风机10，可以有选择地运行，以改变从磁盘驱动器向后返回到冷风机9的气流。特别地，再循环风机10的运行迫使一部分从磁盘驱动器返回的气体通过卡7的第一风道11输出。从那里，气体流经连接于框架的热交换器(未示出)，以冷却那部分气体。然后，气体通过环境测试卡7的第二管道12返回到冷风机9。再循环风机10的运行速度是变化的，以改变流过磁盘驱动器的气体的整体温度。例如，在一种设置中，再循环风机10的较高转速迫使相对较多的气体通过第一风道11输出，经过热交换器并向后经过第二管道12。这使被迫经过磁盘驱动器的气体相对比较凉或冷。另一方面，再循环风机10的低或零转速意味着很少或没有气体流经热交换器，且因此比较暖的气体被传遍磁盘驱动器。例如电热元件形式的加热器(未示出)可以设置在环境测试卡7的气流通道上，以在必要时能加热气体。这种设置使流遍磁盘驱动器的气体的温度在宽范围之间变化，因此能使磁盘驱动器本身的温度在宽范围之间变化。两个风机9、10的设置消除了例如在申请人的WO-A-01/41148中公开的在阀之上设置风机的需要。而这意味着可以在装置1的每单位高度容纳更多环境测试卡7并因此可容纳更多的磁盘驱动器。
环境测试卡本身是已知的。环境测试卡7向相应的磁盘驱动器提供动力和数据连接。磁盘驱动器通过环境测试卡7运行，以实现所谓的自测试，通过自测试，磁盘驱动器可测试其磁记录表面的缺陷，以确保其在允许的公差范围内，并如已提到的那样在宽温度范围内进行。磁盘驱动器的电子器件的一定量的测试也可以通过环境测试卡7实现。
但是，为实现磁盘驱动器的全接口测试，有必要使用接口测试卡8。这可以在装置1中通过将接口测试卡8装入槽6之一来实现。
接口测试卡本身是已知的。在本例中，接口测试卡8和控制卡5的槽6这样设置，以至一个或多个槽6可以装有相应的接口测试卡8，而不会物理干涉任何其他的槽6。换句话说，每个槽6都能根据使用者/制造者的选择，装入一个环境测试卡7或接口测试卡8，以确保装置1的后部内的所有空间得到最大限度的利用。实际中，在如上所述，磁盘驱动器的制造者在一个框架中使用许多装置1的情况下，大多数的装置1只装入环境测试卡7，同时只有一些装置1具有单一的接口测试卡8是可能的。或者，制造者可以设置大多数装置1只装入环境测试卡7，同时一些装置1只装入接口测试卡8。环境测试卡7与接口测试卡8的总比率或以约为50∶1至90∶1左右。
总之，控制卡5和其槽6、环境测试卡7和接口测试卡8这样构造和设置，以至环境测试卡7和接口测试卡8具有相当的尺寸，以便可以根据制造者的选择将环境测试卡7或接口测试卡8装入各槽6。
当安装磁盘驱动器时，一个重要的考虑因素是要最小化振动的影响，无论是在制造过程中测试磁盘驱动器时还是由终端使用者在存储应用中使用时。如前所述，希望能最小化由磁盘驱动器作用于相邻的磁盘驱动器引起的振动的影响(即防止振动“离开”磁盘驱动器)，并防止单个磁盘驱动器受到来自其他部件的振动的影响(即防止振动从外面“进入”磁盘驱动器)。在本装置1的一个示例中，如图4所示，前部2刚性连接于框架的部分20，装置1安装于该框架中。通常，例如在我们的WO-A-01/41148中所公开的优选实施例中，装置1的前部2和后部3相互连接，然后整体安装于框架中。但是，已经发现，前部2与框架的部分20的刚性连接有助于安装于前部2的磁盘驱动器免受振动的影响。
在为装置1的使用寿命而通常将前部2安装于框架20的意义上，要使前部2相对于框架20的安装是半固定的。实际上，希望将前部2与框架的部分20一体地形成。另一方面，考虑到后部3包括电子器件等，希望后部3可以从框架上比较容易地拆卸，以使包括测试卡7、8和控制卡5的后部3的各种元件能由于修理或升级等而替换。因此，在此意义上，在本例中，前部2安装于框架或整体形成于框架，而后部3可拆卸地容纳于框架中。
为了进一步最小化振动的影响，希望能将装置1的前部2和后部3之间的物理接触降低到最少的程度。当然，理想地，前部2和后部3之间仅有的物理接触为测试卡7、8和磁盘驱动器之间的动力和数据连接。另一方面，因为气体从后部3吹进前部2以起到冷却和加热的目的，所以前部2和后部3之间的地方设成气密是必要的。将前部2与后部3之间的物理接触降到最小限度的愿望意味着，希望不在前部2和后部3之间的连接处周围使用例如橡胶管或橡胶密封的机械密封。
现在特别参见图5，表示了环境测试卡7的一部分，该环境测试卡7通过数据和动力连接30连接于磁盘驱动器31。本例中的磁盘驱动器31支撑于磁盘驱动器托盘或托架32内，而磁盘驱动器托盘或托架32容纳于磁盘驱动器安装装置33内(其示例将在下面进一步讨论)，而磁盘驱动器安装装置33安装于装置1的前部2内。使用时，冷风机9迫使气体从环境测试卡7吹进磁盘驱动器安装装置33，吹遍磁盘驱动器31，从那气体返回(可选地，通过管道11、12和热交换器)环境测试卡7，从环境测试卡7气体能被再循环遍磁盘驱动器31，如图5中粗箭头所示。为了将前部2和后部3之间的物理接触降低到最小限度，非接触密封35用于密封气流。
在本例中，非接触密封35通过将环境测试卡7的前部36与磁盘驱动器安装装置33的后部37交迭，以在其间留下气缝38来实现。进一步，该交迭这样设置，以至气体离开环境测试卡7的前部36，然后进入磁盘驱动器安装装置33，其遇到扩大的横截面积(位于图5的A位置)并因此经历了压降。同样地，当气体离开磁盘驱动器安装装置33然后返回环境测试卡7时，其又遇到了较大横截面面积(由B示出)，并因此又经历了压降。在每种情况下，压降有利于抵制气体的泄露，并因此在不设置必须是接触密封的密封的情况下，提供了有效的密封。
事实是磁盘驱动器用于增多的变化范围的条件。例如，要求磁盘驱动器用于宽的温度范围。例如，磁盘驱动器为用于公路车辆而安装于各种系统中，以提供地图或导航的存储和数字音乐文件等的存储等。众所周知，公路车辆通常经受很低温度和非常高的温度。因此，对于制造者，能在宽的温度范围内测试磁盘驱动器，并且更特别地，能更准确地知道在测试过程中磁盘驱动器本身的温度，是愈来愈重要了。如上所述，通常在测试过程中，仅通过测量流经磁盘驱动器的气体温度，然后根据该测量值推断磁盘驱动器的温度，间接地监控磁盘驱动器的温度。在本装置的优选实施例中，直接测量磁盘驱动器31的温度。
现在参见图6A至6D，在一种可能的设置中，在装置1的前部2内，温度传感器40安装在物理连接器41上，磁盘驱动器托架32连接于该物理连接器41。在优选实施例中，温度传感器40安装于悬臂回力弹簧臂42的自由端。该弹簧安装向内朝向磁盘驱动器31偏压温度传感器40，并因此有助于确保与磁盘驱动器31有良好的物理接触，而不管由制造公差或类似原因引起的磁盘驱动器31的尺寸及位置的变化。而且，弹簧安装还有助于最大限度地减小振动的影响。在所示的例子中，温度传感器40由光滑的、半圆形塑料帽43覆盖，塑料帽43有助于防止当在其托架内的磁盘驱动器31被移进或移出磁盘驱动器安装装置33时，对磁盘驱动器31的表面的刮擦或其它损坏。特别如图6B和6C所示，磁盘驱动器托架32在侧壁45上具有孔44，以使温度传感器40突进入磁盘驱动器托架32的架体内，以便能如图6D所示与磁盘驱动器31的侧壁接触。可以理解，优选地，将温度传感器40安装在这样的位置，以使其屏蔽于流经磁盘驱动器31的气体。
现在参见图7A至7D，作为一种选择或附加，温度传感器50可以安装在一个或多个通常设置在磁盘驱动器托架32内的磁盘驱动器定位销51里。通常，存在四个这种销51，使用时，这些销被容纳在相应的根据标准设置在磁盘驱动器31的下表面的安装孔53内。温度传感器50在定位销51内的安装也表示温度传感器50屏蔽于流经磁盘驱动器31的气体。托架32在其后表面设有数据连接器54，使用时，数据连接器54与物理连接器41上的相应的数据连接器55啮合，使用时托架32连接于物理连接器4，以便来自温度传感器50的信号能够传送到环境测试卡7。
在几个不同的点具有接触磁盘驱动器31的几个传感器40是有益处的。实际上，由于磁盘驱动器31内的局部热效应，磁盘驱动器31的温度在磁盘驱动器31的不同位置是不同的。在几个点测量温度具有益处，磁盘驱动器31的温度可以在其整个表面上测绘，以给出遍及磁盘驱动器31的更准确的温度读数和温度变化。因此，温度传感器40、50可以安装在前部2内的几个位置上和托架32的一个或多个定位销51内和/或其它地方。
而且，现在许多磁盘驱动器具有其内部温度传感器，当终端使用者在存储应用中使用磁盘驱动器时，使用这些温度传感器。因此，在一个例子中，通过使用驱动器自身的内部温度传感可以获得磁盘驱动器31的温度的额外测量值。该值可以与由一个或多个外部温度传感器40、50测量的温度进行比较。
设置几个直接接触的温度传感器40、50的进一步益处是，温度传感器40、50的不同的多个可以与不同的驱动器一起使用，可以理解，不同的驱动器具有不同的温度特性，以至一个驱动器在一个特定位置温度最高，而不同类型的驱动器在可能是在不同的位置是温度最高的。
如上所述，在优选的装置1中，磁盘驱动器31支撑于磁盘驱动器托架32中。托架32的使用便于磁盘驱动器31的自动机械操作。磁盘驱动器托架的各种例子公开于例如申请人的WO-A-03/021597、WO-A-03/021598、PCT/GB2004/002505(等同于美国申请NO.10/866074)和PCT/GB2004/003812，其全部公开内容在此作为引用并入。
如上所述，磁盘驱动器托架32插入磁盘驱动器安装装置33，磁盘驱动器安装装置33安装在装置1的前部2内。优选的磁盘驱动器安装装置33非常清楚地表示在图8A和8B中。安装装置33具有通常的类似套筒形式并形成矩形横截面的间格60，在其托架32内的磁盘驱动器31插入该间格内。安装装置33具有纵向的外侧壁61，外侧壁61通常与容纳在安装装置33中的磁盘驱动器31的旋转轴R形成角度。优选的侧壁61具有通常的三角形横截面形状。这种倾斜提供了刚性的侧壁61，其能更好地抗振。与轴线R所成的角度可以是在例如30°至60°的范围之间，但最好是45°。
为了更进一步减少振动，阻尼材料62可以加在侧壁61上。在示例中，提供了四个可能的阻尼材料62的位置，一种是位于各侧壁61的各端上。阻尼材料62的外形与侧壁61的外形相对应，并且同样是倾斜的，以便具有通常的三角形横截面形状(虽然顶点可能如所示的被切去)。阻尼材料62的这种倾斜意味着该材料能更好地在三个正交的方向衰减振动。而且，也意味着阻尼材料62不会仅以偏离方式或压缩/拉伸的方式运行，这提高了材料的振动阻尼特性。
优选的安装装置33进一步的特征是，可能增加质量块63，例如一个或多个金属配重。一个或多个质量块63可以安装于一个或两个长侧壁61。可以设定质量块63的重量、尺寸和位置，以便“调整”安装装置33的振动动力特性，以最大限度降低对磁盘驱动器31的振动影响。例如，可以安装一个或多个质量块63，以将安装装置33的旋转的有效中心移动远离安装在安装装置33中的磁盘驱动器31的读/写头的枢轴柱。倘若不同类型的磁盘驱动器具有其枢接在不同位置的读/定头，那么可以将不同的质量块63安装在安装装置33上的可能的不同位置，以优选用于特定磁盘驱动器31的安装装置33的特性。
本发明的实施例已特别参照示例进行了描述。但是，可以理解，在本发明的范围内对所述的例子进行改变和修改。而且，随后的权利要求完全地或原则地涉及设备或装置。可以理解，相应的方法也在本发明的范围之内。