首页 / 专利库 / 工业自动化和数控机床 / 精度 / 快速高精度冷镜式露点仪的控制方法

快速高精度冷镜式露点仪的控制方法

阅读:551发布:2023-01-24

专利汇可以提供快速高精度冷镜式露点仪的控制方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种快速高 精度 冷镜式 露点 仪的控制方法,它由露点室、光电检测系统、制冷系统、测温系统和 单片机 控制处理系统组成,本系统采用两种控 制模 式的复合控制:先设置一个 阈值 ,系统实时测量反应霜层厚度的反射光的光 能量 ,计算当前光能量与控制目标值的差值Rx和光能量的变化率ΔRx,若Rx>阈值时,进行模糊处理控制;当误差Rx<阈值时,根据比例积分PI控制规则,然后进行控制处理,控制工作 电流 使光能量达到控制目标值,控制光能量的变化率在允许的范围内,停止比例积分控制,输出露点值。模糊控制能获得良好的瞬态性能,减少系统的平衡时间,能加快测量,但其缺少积分环节,不能消除系统静差,测量带来误差,而比例积分控制,可以消除系统静差提高精度;故把模糊控制与比例积分控制复合应用,既提高了系统的响应速度又提高了系统的测量精度。,下面是快速高精度冷镜式露点仪的控制方法专利的具体信息内容。

1.快速高精度冷镜式露点仪的控制方法,其兼有模糊控制和比例积分控制功能,运用于冷镜式露点仪的快速和高精度测试中,其特征是:首先确定出现粗略露点的光能量与控制目标值的光能量的差值为判断阈值,然后实时采集反映霜层厚度的反射光的光能量,并计算该光能量与控制目标光能量的差值,及差值的变化率,当该差值大于判断阈值时,系统就采用模糊控制模式控制,当该差值小于判断阈值时,系统就采用比例积分控制,其具体步骤如下:
步骤1:确定判断阈值和系统控制目标值,具体为:首先在镜面干燥的情况下,得到一个反射光的初始值Ro,作为系统基准,W1为结露误判系数,W2为系统控制目标系数,将W1×Ro作为判别初略露点的阈值,将W2×Ro作为控制目标值;
步骤2:系统开始测量时,系统实时采集反射光的光能量,并计算当前光能量与控制目标值的差值Rx,由于刚开始制冷,系统远未达到结露,所以这时测得的Rx肯定大于初略露点的阈值W1×Ro,系统处于模糊控制模态;所述的模糊控制是:得到实时采集的反射光与控制目标W2×Ro的差值Rx和该差值Rx的变化率ΔRx,把他们变为模糊值送入到控制器,由模糊规则推理得出输出控制量的模糊集,再将输出量进行逆模糊化处理得到控制量U1(k);其中控制器的算法如下:
U1(K)=K1×R(K)+K2×[R(K)-R(K-1)]
其中K为采样序号,R(K)为采样时刻K输入的偏差值,R(K)和R(K-1)分别为第K次采样时刻输入的偏差值与第K-1次采样时刻输入的偏差值,K1为比例系数,K2为微分系数,K1和K2是控制器通过模糊推理并逆模糊化得到的值,对比例微分控制器进行在线自整定而得,利用偏差的比例和微分环节计算出输出量U1(K);这种控制模式一直保持到R(K)大于模式转换阈值W1×Ro,一旦R(K)小于模式转换阈值W1×Ro时,系统则进入比例积分PI控制模式;
步骤3:当进入比例积分PI控制模式时,此时已经是初略露点的阈值了,然后根据比例积分PI控制器的输出U2(K),使反射光的光能量达到控制目标值;控制光能量的变化率在允许范围内;这时的温度值就是露点;
所述的比例积分PI控制算法如下:
其中Kp、Ki为PI控制器的比例系数和积分系数,取工作经验值,该值一经设置,在系统的控制过程中就不会变化。
2.根据权利要求1所述的快速高精度冷镜式露点仪的控制方法,其特征在于:步骤1中,W2、W1满足关系:0<W2<W1<1的实数。

说明书全文

快速高精度冷镜式露点仪的控制方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种冷镜式露点议测量的控制方法,该方法能能消除控制失调而引起的系统震荡,加快露点的测量,提高测量精度。

背景技术

[0002] 冷镜式露点仪是一种典型的光电型露点仪,它有露点室、光电检测系统、制冷系统、测温系统和单片机控制处理系统组成。其测量原理为:被测气体通过露点室的冷凝镜,在单片机控制处理系统和光电检测系统配合下,通过等压制冷,使气体中的汽逐渐到达饱和,这时冷镜上会有霜或露,当冷镜上霜层或露层达到一定厚度,从霜层逃逸的水分子等于从样气中凝结的水分子到达动态平衡,并保持一段时间时的值,就是露点值。然后通过测温系统测出露点温度值,然后根据露点值通过换算得到样气中的水汽含量,目前市面上大多数是PID控制等,其中PID调节为固定比例、积分和微分系数的调节方式,由于在整个测试中,系数值固定,所以调节系统适应能较差,测量过程类似阻尼振动波形,反复振荡造成测量时间延长,甚至可能无法达到稳定状态而没有读数值。

发明内容

[0003] 为了克服以上问题,本发明提供一种快速高精度露点仪的控制方法,对现有冷镜式露点仪的控制方法做了极大改进,减少了系统振荡,加快了测试速度,提高了鲁棒性,并提高了测量的精度。
[0004] 本发明技术方案及原理:
[0005] 本发明提供的高精度冷镜式露点仪,包括露点室、光电检测系统、测温系统、制冷系统、单片机控制处理系统及输入输出系统。光洁镜面位于半导体制冷器上面,控制器通过D/A变换为电流,从而控制镜面温度。本系统采用两种控制模式的复合控制:先设置一个阈值,系统实时测量反应霜层厚度的反射光的光能量,计算当前光能量与控制目标值的差值Rx和光能量的变化率ΔRx,若Rx>阈值时,进行模糊处理控制;当误差Rx<阈值时,根据比例积分PI控制规则,然后进行控制处理,控制工作电流使光能量达到控制目标值,控制光能量的变化率在允许的范围内,停止比例积分控制,输出露点值。模糊控制能获得良好的瞬态性能,减少系统的平衡时间,但其缺少积分环节,不能消除系统静差,测量带来误差,而比例积分控制,以消除系统静差提高精度;故把模糊控制与比例积分控制复合应用,既提高了系统的响应速度又提高了系统的精度。详细方案如下:
[0006] 步骤1:首先在镜面干燥的情况下,得到一个反射光的初始值Ro,作为系统基准,W1为结露误判系数,W2为系统控制目标系数,将W1×Ro作为判别初略露点的阈值,将W2×Ro作为控制目标值,0<W2<W1<1的实数。
[0007] 步骤2:系统开始测量时,系统实时采集反射光的光能量,并计算当前光能量与控制目标值的差值Rx,由于刚开始制冷,系统远未达到结露,所以这时测得的Rx肯定大于初略露点的阈值W1×Ro,系统处于模糊控制模态。
[0008] 步骤3:在模糊控制状态,得到实时采集的反射光与控制目标W2×Ro的差值Rx和该差值Rx的变化率ΔRx,把他们变为模糊值送入到模糊控制器,由模糊规则推理得出输出控制量的模糊集,再将输出量进行逆模糊化处理得到清晰的控制量U1(k);其中模糊控制器的算法如下:
[0009] U1(K)=K1×R(K)+K2×[R(K)-R(K-1)]
[0010] 其中K为采样序号,R(K)为采样时刻K输入的偏差值,R(K)和R(K-1)分别为第K次采样时刻输入的偏差值与第K-1次采样时刻输入的偏差值,K1为比例系数,K2为微分系数,K1和K2是控制器通过模糊推理并逆模糊化得到的值,对比例微分控制器进行在线自整定而得,利用偏差的比例和微分环节计算出输出量U1(K);这种控制模式一直保持到R(K)大于模式转换阈值W1×Ro,一旦R(K)小于模式转换阈值W1×Ro时,系统则进入比例积分PI控制模式。
[0011] 步骤4:当进入比例积分PI控制模式时,此时已经是初略露点的阈值了,这时系统非常接近平衡状态了,然后根据比例积分PI控制器的输出U2(K),使反射光的光能量达到控制目标值;控制光能量的变化率在允许范围内;这时的温度值就是露点;
[0012] 所述的比例积分PI控制算法如下:
[0013]
[0014] 其中Kp、Ki为PI控制器的比例系数和积分系数
[0015] 采用此控制方法,提高了系统的响应速度,减少了振荡,也提高了测量精度。附图说明
[0016] 下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0017] 图1为本发明的冷镜式露点仪的测量装置示意图
[0018] 图2为本方法控制流程图示意图

具体实施方式

[0019] 以下结合附图和具体实施例进一步说明本发明
[0020] 本发明提供的快速高精度冷镜式露点仪,其结构意如图1所示。包括露点室、光电检测系统、测温系统、制冷系统、单片机控制处理系统等。其中露点室包括由发光二极管1、光敏二极管2和镜面3组成的光电检测单元、铂电阻4和制冷单元5;测量电路由光电检测电路6、测温电路7组成;控制电路由控制器9和制冷驱动电路8组成;测量电路分别与露点室的光电检测单元、铂电阻4和控制器9连接;控制电路分别与控制器和制冷单元5连接;
[0021] 本发明首先在镜面干燥的情况下,得到一个反射光的初始值Ro,作为系统基准,W为结露误判系数,W2为系统控制目标系数,将W1×Ro作为判别初略露点的阈值,将W2×Ro作为控制目标值,0<W2<W1<1的实数,一般取W2=0.60,W1=0.65。
[0022] 系统开始测量时,系统实时采集反射光的光能量,并计算当前光能量与控制目标值的差值Rx,由于刚开始制冷,系统远未达到结露,所以这时测得的Rx肯定大于初略露点的阈值W1×Ro,系统处于模糊控制模态。
[0023] 在模糊控制状态,得到实时采集的反射光与控制目标W2×Ro的差值Rx和该差值Rx的变化率ΔRx,把他们变为模糊值送入到模糊控制器,由模糊规则推理得出输出控制量的模糊集,再将输出量进行逆模糊化处理得到控制量U1(k);其中模糊控制器的算法如下:
[0024] U1(K)=K1×R(K)+K2×[R(K)-R(K-1)]
[0025] 其中K为采样序号,R(K)为采样时刻K输入的偏差值,R(K)和R(K-1)分别为第K次采样时刻输入的偏差值与第K-1次采样时刻输入的偏差值,K1为比例系数,K2为微分系数,K1和K2是控制器通过模糊推理并逆模糊化得到的值,对比例微分控制器进行在线自整定而得,利用偏差的比例和微分环节计算出输出量U1(K),利用U1(K)电压控制制冷温度值,使反应霜层厚度的反射光逼近控制目标值。这种控制模式一直保持到R(K)大于模式转换阈值W1×Ro,一旦R(K)小于模式转换阈值W1×Ro时,系统则进入比例积分PI控制模式。
[0026] R(K)小于模式转换阈值W1×Ro时,系统则进入比例积分PI控制模式,此时已经是初略露点的阈值了,表示已经接近平衡状态,此时控制器转变为比例积分控制方式,然后根据比例积分控制,控制器输出U2(K),使反射光的光能量ΔRx达到控制目标值(<W2×Ro);控制光能量的变化率在允许范围内(<0.01%);这时的温度值就是露点;
[0027] 所述的比例积分PI控制算法如下:
[0028]
[0029] 其中Kp、Ki为PI控制器的比例系数和积分系数,取工作经验值,该值一经设置,在系统的控制过程中就不会变化。
相关专利内容
标题 发布/更新时间 阅读量
高精度水平板 2020-05-12 235
高精度滤芯 2020-05-11 307
高精度V槽 2020-05-11 349
高精度磨床 2020-05-11 940
高精度模具 2020-05-11 149
高精度割刀 2020-05-11 822
一种高精度冷拔钢管的制造方法 2020-05-11 591
h型高精度量筒 2020-05-12 42
精度检测仪 2020-05-11 781
高精度铰刀 2020-05-11 882
高效检索全球专利

专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。

我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。

申请试用

分析报告

专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。

申请试用

QQ群二维码
意见反馈