瓷砖尺寸检测设备
专利汇可以提供瓷砖尺寸检测设备专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型涉及瓷砖尺寸检测设备，它是由检测箱、同步皮带、位移 传感器 和 光源 制成，详细结构见 说明书 。本实用新型制备简便，测量准确， 稳定性 好，效率高，该仪器测量代替人工测量。本实用新型用于瓷砖尺寸检测，测定瓷砖长度、宽度、厚度、边直度、 角 直度、表面平整度等。，下面是瓷砖尺寸检测设备专利的具体信息内容。
1.瓷砖尺寸检测设备，其特征在于它是由密闭的测量箱(11)、同步皮带(10)位移传感器(12)和光源(6)制成，测量箱置于同步皮带上方，测量箱与同步皮带之间放入被测瓷砖(8)和光源(6)，其中，测量箱将平面反射镜(3)、(4)、(5)镜头(2)和线阵CCD传感器(1)密封，线阵CCD传感器位于测量箱左侧，镜头(2)在测量箱的左上方，平面反射镜(3)、(4)分别位于测量箱右上方、右下方，测量箱底部的进光口由平面透镜(7)密封，平面透镜(7)对应测量箱位置安装平面反射镜(5)平面反射镜安在测量箱内，平面反射镜(3)、(4)、(5)均有一个角度，同步皮带(10)输送瓷砖(8)，旋转编码器(9)驱动在同步皮带轴上；同步测量，用移动传感器(12)均布在被测瓷砖的上面，以测量瓷砖的厚度和表面平整度。
瓷砖尺寸检测设备
技术领域
背景技术
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的不足之处，而提供一种制备简便，使用效果较好的瓷砖尺寸检测设备。
本实用新型目的可以通过如下措施来实现：瓷砖尺寸检测设备是由密闭的测量箱、同步皮带、位移传感器和光源制成，测量箱置于同步皮带上方，测量箱与同步皮带之间放入被测瓷砖和光源，其中，测量箱将平面反射镜、镜头和线阵CCD传感器密封，线阵CCD传感器位于测量箱左侧，镜头在测量箱的左上方，二个平面反射镜分别位于测量箱右上方、右下方，测量箱底部的进光口由平面透镜密封，平面透镜对应测量箱位置，安装平面反射镜，平面反射镜安在测量箱内，平面反射镜均有一个角度，同步皮带运输瓷砖，旋转编码器驱动在同步皮带轴上；同步测量，用移动传感器均布在被测量瓷砖的上面，以测量瓷砖的厚度和表面平整度。
本实用新型相比现有技术采用人工测量瓷砖的尺寸，具有如下优点：本实用新型采用机器视觉的方法，检测瓷砖的长度、宽度、厚度、边直度、角直度、表面平整度等几项指标，系统根据每块瓷砖的实际尺寸，并将瓷砖分为不同的等级，以便后工序的工作，同时，大大提高了测量的准确度、稳定性以及效率，降低成本，增加经济效益。
附图说明
图1：本实用新型瓷砖尺寸检测设备图2：本实用新型瓷砖尺寸检测设备的使用状态图中：1、线阵CCD传感器 2、镜头 3、4、5、平面反射镜 6、光源 7、平面透镜 8、瓷砖 9、旋转编码器 10、同步皮带 11、测量箱12、位移传感器具体实施方式下面列举一个实施例，对本发明加以进一步说明。但本实用新型不只限于该实施例。
实施例1本实用新型采用高像素点的线阵CCD(电荷耦合器件)1，镜头2采用固定焦距镜头，为减少设备的体积，增加光学器件的机械稳定性，系统采用一组平面反射镜延长物距。CCD1、镜头2和平面反射镜组3、4、5被密封在一个测量箱内，以减少外界灰尘和光线对测量的干扰。LED或者荧光光源安置在测量箱底部，测量箱进光窗口的宽度可调，并且进光窗口有透光性高的平面透镜7密闭。测量箱11作为一个组件，便于现场安装。光源的角度、平面反射镜组的反射角度以及像距都可调。
本实用新型采用一组位移传感器，以测量瓷砖的厚度和表面平整度，传感器均布于瓷砖上部。
瓷砖的输送采用同步皮带输送。CCD测量方向与沿输送方向垂直，即横向尺寸。纵向的位移采用旋转编码器测量，并且编码器的输出脉冲触发CCD的测量，使两个方向测量保持同步。
检测设备的基本原理图：如图所示，瓷砖8由同步皮带10输送，光源6的光线经瓷砖8表面反射进入测量箱11内部。测量箱进光口由平面透镜7密闭。光线经平面反射5、4和3，水平进入镜头2，然后CCD传感器1上成像。旋转编码器9用于测量输送位移，并触发CCD传感器1的测量。
本实用新型测量部件由线阵CCD、位移传感器12和旋转编码器9组成，密闭的测量箱11将反射镜组3、4、5、镜头2和CCD传感器1密封，反射镜组成用于增加物距，光源采用LED光源或者荧光光源。同步测量，用移动传感器12均布在被测量瓷砖的上面，以测量瓷砖的厚度和表面平整度。
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