专利汇可以提供一种生箔机收卷张力控制系统和控制方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种生箔机收卷张 力 控制系统,包括用于收卷生箔并测量实际收卷 张力 和实际收卷速度收卷装置以及 控制器 ,所述控制器包括:张力比较单元,其用于计算实际收卷张力和张力预设值的差值得到张力差值;参数更新单元,其根据张力差值计算张力调整参数和速度调整参数;张力控制单元,其根据张力差值和张力调整参数并计算收卷装置的速度参考值;速度比较单元,其用于计算速度参考值和实际收卷速度的差值得到速度差值;速度控制单元,其根据速度差值和速度调整参数调整收卷装置的收卷速度;本发明利用参数更新模 块 与PID控制器进行结合,使得PID参数能够随系统工况改变而自适应变化,达到最佳控制效果。,下面是一种生箔机收卷张力控制系统和控制方法专利的具体信息内容。
1.一种生箔机收卷张力控制系统,其特征在于:包括用于收卷生箔并测量实际收卷张力和实际收卷速度的收卷装置(100),以及控制器,所述控制器包括:
张力比较单元(200),其用于计算实际收卷张力和张力预设值的差值得到张力差值;
参数更新单元(300),其根据张力差值计算张力调整参数和速度调整参数;
张力控制单元(400),其根据张力差值和张力调整参数并计算收卷装置的速度参考值;
速度比较单元(500),其用于计算速度参考值和实际收卷速度的差值得到速度差值;
速度控制单元(600),其根据速度差值和速度调整参数调整收卷装置的收卷速度。
2.根据权利要求1所述的生箔机收卷张力控制系统,其特征在于:所述收卷装置(100)包括台架(130)、固设于台架上且用于测量生箔的实际收卷张力的张力测量组件(110)以及用于测量生箔的实际收卷速度的收卷组件(120)。
3.根据权利要求2所述的生箔机收卷张力控制系统,其特征在于:所述张力测量组件包括支撑座(111)、与支撑座以可转动方式连接的测量滚轮(112)以及固设于支撑座底部的压力传感器(113),所述压力传感器远离支撑座的一端与台架(130)固定连接,所述压力传感器两侧对称设置有辅助辊(114),所述辅助辊与台架上表面固定连接。
4.根据权利要求2所述的生箔机收卷张力控制系统,其特征在于:所述收卷组件包括收卷辊(121)、带动收卷辊转动的收卷电机(122)以及测量收卷电机的实际收卷速度的速度测量装置(123)。
5.一种如权利要求1-4中任一项所述的生箔机收卷张力控制系统的控制方法,包括以下步骤:
步骤一:设置生箔的收卷速度为V1,设置张力预设值Fref,测量生箔收卷时的实际收卷张力Ffdbk,计算实际收卷张力与张力预设值的差值的绝对值,得到张力差值ΔF=|Ffdbk-Fref|;
步骤二:参数更新单元通过量子粒子群算法并根据张力差值ΔF计算张力调整参数和速度调整参数;
步骤三:张力控制单元通过张力调整参数和张力差值ΔF计算速度参考值Vref,测量生箔收卷时的实际收卷速度Vfdbk,计算实际收卷速度与速度参考值的差值的绝对值,得到速度差值ΔV=|Vfdbk-Vref|;
步骤四:速度控制单元根据速度差值ΔV和速度调整参数计算更新收卷速度Vnew,控制收卷电机,使更新收卷速度作为新的收卷速度V1=Vnew。
6.根据权利要求5所述的生箔机收卷张力控制系统的控制方法,其特征在于:张力控制单元和速度控制单元使用PID控制器进行调节;
张力控制单元进行控制时: Kp1为第一比例系
数,Ki1为第一积分系数,Kd1为第一微分参数;
速度控制单元进行控制时: Kp2为第二比例系
数,Ki2为第二积分系数,Kd2为第二微分参数。
7.根据权利要求6所述的生箔机收卷张力控制系统的控制方法,其特征在于:所述参数更新单元通过量子粒子群算法并根据张力差值ΔF计算得到的张力调整参数为本调整周期内的第一比例系数1Kp1、第一积分系数Ki1以及第一微分参数Kd1,张力控制单元计算速度参考值时将上个控制周期内的第一比例系数Kp1、第一积分系数Ki1以及第一微分参数Kd1依次更新为本调整周期内的第一比例系数Kp1、第一积分系数Ki1以及第一微分参数Kd1;所述参数更新单元通过量子粒子群算法并根据速度差值ΔF计算得到的速度调整参数为本调整周期内的第二比例系数Kp2、第二积分系数Ki2以及第二微分参数Kd2,速度控制单元计算更新收卷速度时将上个控制周期内的第二比例系数Kp2、第二积分系数Ki2以及第二微分参数Kd2依次更新为本调整周期内的第二比例系数Kp2、第二积分系数Ki2以及第二微分参数Kd2。
8.根据权利要求7所述的生箔机收卷张力控制系统的控制方法,其特征在于:所述参数更新模块对张力调整参数和速度调整参数进行更新时包括以下步骤:
第一步:设定张力控制单元PID控制器以及速度控制单元PID控制器的比例系数、积分系数以及微分参数的稳态范围,设定种群数量、迭代次数以及适应度值,并对粒子的位置进行初始化。
第二步:张力差值ΔF对时间求积分后作为误差性能指标;
第三步:把每个粒子的参数赋值给两个PID控制器中比例系数、积分系数以及微分参数中,得到相应的误差性能指标,同时不断地进行粒子的迭代,最后选取粒子中误差性能指标最小的粒子作为最优粒子,同时将最优粒子的参数赋值给两个PID控制器中比例系数、积分系数以及微分参数。
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