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一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法

阅读:430发布:2020-10-28

专利汇可以提供一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且阶梯状深通孔金属零件由于表面光滑通常呈现 镜面反射 ,在用通常的方法打光采图时往往难以获得清晰可辨的边界图像,从而给基于视觉的无 接触 测量方法带来了较大的困难。本 发明 提出了一种利用底部棒状或点状 光源 、将相机与光源至于零件两侧的照明方式,通过控制光源的探入深度,利用金属零件的加工圆 角 反光,获得了清晰的深孔边界图像,从而较好的解决了此种条件下 图像采集 的难题。,下面是一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法专利的具体信息内容。

1.一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其特征在于,该无接触测量方法具体包括以下步骤:
将待测阶梯状工件(3)至于遮光罩(1)之内;
将工业相机(2)置于待测阶梯状工件(3)尺寸大的一端;
通过3D移动框架光源(4)自待测阶梯状工件(3)尺寸小的一端探入。
2.根据权利要求1所述的一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其特征在于,所述遮光罩(1)的内部为黑色亚光。
3.根据权利要求1所述的一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其特征在于,所述光源(4)内部为发光光纤,外部为透明硬管。
4.根据权利要求1所述的一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其特征在于,为了拍照不同阶梯状工件的内径,需要将光源(4)探入不同的内径深度。
5.根据权利要求1所述的一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其特征在于,所述工业相机(2)采用高分辨率
6.根据权利要求1所述的一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其特征在于,所述工业相机(2)的镜头采用长焦距的镜头或者适应阶梯状工件尺寸口径及工作距离的远心镜头。
7.根据权利要求1所述的一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其特征在于,所述自动调整光源(4)及待测阶梯状工件(3)的位置,而后分别拍照。
8.根据权利要求1所述的一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其特征在于,所述光源(4)呈棒状或者点状。

说明书全文

一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法

技术领域

[0001] 本发明属于金属零件测量技术领域,尤其涉及一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法。

背景技术

[0002] 阶梯状深通孔金属零件由于表面光滑通常呈现镜面反射,在用通常的方法打光采图时往往难以获得清晰可变的边界图像,从而给基于视觉的无接触测量方法带来了较大的困难。

发明内容

[0003] 本发明的目的在于提供一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,其解决了由于阶梯状深通孔金属零件由于表面光滑通常呈现镜面反射,在用通常的方法打光采图时往往难以获得清晰可变的边界图像的问题。
[0004] 本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:
[0005] 一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,该无接触测量方法具体包括以下步骤:
[0006] 将待测阶梯状工件至于遮光罩之内;
[0007] 将工业相机置于待测阶梯状工件尺寸大的一端;
[0008] 通过3D移动框架光源自待测阶梯状工件尺寸小的一端探入。
[0009] 进一步:所述遮光罩的内部为黑色亚光。
[0010] 进一步:所述光源内部为发光光纤,外部为透明硬管。
[0011] 进一步:为了拍照不同阶梯状工件的内径,需要将光源探入不同的内径深度。
[0012] 进一步:所述工业相机采用高分辨率
[0013] 进一步:所述工业相机的镜头采用长焦距的镜头或者适应阶梯状工件尺寸口径及工作距离的远心镜头。
[0014] 进一步:所述自动调整光源及待测阶梯状工件的位置,而后分别拍照。
[0015] 进一步:所述光源呈棒状或者点状。
[0016] 与现有技术相比,本申请所具有的有益效果是:
[0017] 一种利用底部棒状或者点状光源,将相机与光源置于待测阶梯状工件两侧的照明方式,通过控制光源的探入深度,利用待测阶梯状工件的加工圆反光,获得了清晰的深通孔边界图像,从而较好的解决了由于阶梯状深通孔金属零件由于表面光滑通常呈现镜面反射,在用通常的方法打光采图时往往难以获得清晰可变的边界图像的问题。附图说明
[0018] 图1为本发明的光源探入不同深度赵亮不同孔径边界状态图。
[0019] 其中,1、遮光罩;2、工业相机;3、待测阶梯状工件;4、光源。

具体实施方式

[0020] 下面结合附图对本发明做进一步详细描述:
[0021] 如图1所示,一种阶梯状深通孔金属零件多级内径的无接触测量方法,具体包括以下步骤:
[0022] S1:将待测阶梯状工件3至于遮光罩1之内,遮光罩1的内部为黑色亚光,使得遮光罩1上部免受外界杂散光源4干扰。
[0023] S2:将工业相机2置于待测阶梯状工件3尺寸大的一端。
[0024] S3:通过3D移动框架将光源4自待测阶梯状工件3尺寸小的一端探入,保证可以精确的到达指定位置和高度。
[0025] 其中S3中提到的光源4内部为发光光纤,外部为透明硬管,外部优选玻璃管。
[0026] 光源4呈呈棒状或者点状。
[0027] 为了拍照不同阶梯状工件的内径,需要将光源4探入不同的内径深度。
[0028] 其中S2中的工业相机2采用高分辨率,镜头采用长焦距的镜头或者适应阶梯状工件尺寸口径及工作距离的远心镜头。
[0029] 通过3D框架机械装置移动待检测零件调整检测位置与相机的距离以获得清晰大尺寸图像。
[0030] 自动调整光源4及零件的位置,而后分别拍照,得到清晰的轮廓图像。
[0031] 工作原理:一种利用底部棒状或者点状光源4,将相机与光源4置于待测阶梯状工件3两侧的照明方式,通过控制光源4的探入深度,利用待测阶梯状工件3的加工圆角反光,获得了清晰的深通孔边界图像,从而较好的解决了由于阶梯状深通孔金属零件由于表面光滑通常呈现镜面反射,在用通常的方法打光采图时往往难以获得清晰可变的边界图像的问题。
[0032] 需要说明的是,诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0033] 以上所述仅是本申请的具体实施方式,使本领域技术人员能够理解或实现本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
[0034] 应当理解的是,本申请并不局限于上面已经描述的内容,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。
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