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一种存储装置的自动出厂检测方法

阅读:1发布:2021-07-07

专利汇可以提供一种存储装置的自动出厂检测方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种存储装置的自动出厂检测方法,包括以下步骤:S1、启动程序后控制台自动列出需要检测的信息简写字符;S2、控制台输入字符后按回车键;S3、判断简写字符是否为q,若是,退出本次检测,若否,执行检测命令并在控制台输出执行结果;S4、重复步骤S2、S3。本发明自动化程度高,运行程序后可以检测CPU、DOM盘、磁盘和网卡等单个 硬件 的信息,也可以进行功能检测创建磁盘组,删除磁盘等并生成检测报告,检测人员根据检测报告对设备进行评估,评估合格即可出厂。,下面是一种存储装置的自动出厂检测方法专利的具体信息内容。

1.一种存储装置的自动出厂检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、启动程序后控制台自动列出需要检测的信息简写字符;
S2、控制台输入字符后按回车键;
S3、判断简写字符是否为q,若是,退出本次检测,若否,执行检测命令并在控制台输出执行结果;
S4、重复步骤S2、S3。
2.根据权利要求1所述的一种存储装置的自动出厂检测方法,其特征在于,检测结束后生成检测报告。
3.根据权利要求1所述的一种存储装置的自动出厂检测方法,其特征在于,所述存储装置包括CPU、DOM盘、磁盘、网卡。
4.根据权利要求1所述的一种存储装置的自动出厂检测方法,其特征在于,所述S1步骤中程序是使用java编写的控制台应用程序,该程序使用时执行java–jar命令。
5.根据权利要求1所述的一种存储装置的自动出厂检测方法,其特征在于,所述检测包括硬件检测项:cpu温度与计算、disk io、led、网卡,以及功能检测项:创建卷组,磁盘组,共享。

说明书全文

一种存储装置的自动出厂检测方法

技术领域

[0001] 本发明涉及存储装置检测领域,具体来说,涉及一种存储装置的自动出厂检测方法。

背景技术

[0002] 随着信息系统规模越来越大,数据量飞速膨胀而且其重要性也日益突出,存储设备从中起着举足轻重的作用,由于功能的不断增加,对存储设备的性能带来了前所未有的挑战。作为存储设备的生产商来说,不仅要使自己的存储设备满足各种功能需求,更重要的是保证产品质量。要做到这些,生产方就必须在存储设备出厂前对设备进行出厂检测,从而保障产品硬件的性能是否达标,各项功能是否可以有效工作。
[0003] 然而现行的出厂检测方法,需要人工进行逐一检测,但其中存在很多问题例如:检测CPU、内存、磁盘的命令指令过长,参数过多。各种功能检测的步骤更是繁琐至极,这样一来不仅大大降低了出厂效率,同时也不可能避免人工操作带来的失误。
[0004] 因此急需一套存储设备自动出厂检测方法来代替人工检测,提高存储设备出厂检测的效率。程序供了高度灵活和可定制的环境,编写的应用程序是独立于平台的同时在源代码和二进制级别,可以在任何地方执行,用其封装原有的指令命令和操作流程,达到自动化检测目的。
[0005] 针对相关技术中的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

[0006] 针对相关技术中的上述技术问题,本发明提出一种存储装置的自动出厂检测方法,能够解决上述相关问题。
[0007] 为实现上述技术目的,本发明的技术方案是这样实现的:一种存储装置的自动出厂检测方法,包括以下步骤:
S1、启动程序后控制台自动列出需要检测的信息简写字符;
S2、控制台输入字符后按回车键;
S3、判断简写字符是否为q,若是,退出本次检测,若否,执行检测命令并在控制台输出执行结果;
S4、重复步骤S2、S3。
[0008] 优选的,检测结束后生成检测报告。
[0009] 优选的,所述存储装置包括CPU、DOM盘、磁盘、网卡。
[0010] 优选的,所述S1步骤中程序是使用java编写的控制台应用程序,该程序使用时执行java–jar命令。
[0011] 优选的,所述检测包括硬件检测项:cpu温度与计算、disk io、led、网卡,以及功能检测项:创建卷组,磁盘组,共享。
[0012] 本发明的有益效果:本发明自动化程度高,运行程序后可以检测CPU、DOM盘、磁盘和网卡等单个硬件的信息,也可以进行功能检测创建磁盘组,删除磁盘等并生成检测报告,检测人员根据检测报告对设备进行评估,评估合格即可出厂。如对某项信息有疑问可以利用本程序进行单一复检,复查结果由控制台输出。附图说明
[0013] 为了更清楚地说明本发明实施例现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0014] 图1是根据本发明实施例所述的一种存储装置的自动出厂检测方法的流程图
[0015] 图2是根据本发明实施例所述的CPU信息图。
[0016] 图3是根据本发明实施例所述的cpu温度检测流程图。
[0017] 图4是根据本发明实施例所述的disk io检测流程图。
[0018] 图5是根据本发明实施例所述的led检测流程图。
[0019] 图6是根据本发明实施例所述的网卡检测流程图。
[0020] 图7是根据本发明实施例所述的创建卷组检测流程图。
[0021] 图8是根据本发明实施例所述的创建磁盘组检测流程图。
[0022] 图9是根据本发明实施例所述的共享检测流程图。

具体实施方式

[0023] 下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0024] 根据本发明实施例所述的一种存储装置的自动出厂检测方法,是基于控制台程序的以下特点实现的:控制台程序是为了兼容DOS程序而设立的,这种程序的执行就好像在一个DOS窗口中执行一样,没有自己的界面。
[0025] 所谓的控制台应用程序,就是能够运行在MS-DOS环境中的程序。控制台应用程序通常没有可视化的界面,只是通过字符串来显示或者监控程序。控制台程序常常被应用在测试、监控等用途,用户往往只关心数据,不在乎界面。
[0026] 本程序的作用就是为用户检测提供方便,不需要知道具体的检测命令,只需要输入简单的字符就能得到设备的检测结果。
[0027] 如图1所示,本发明实施例中具体检测方法包括以下步骤:S1、启动程序后控制台自动列出需要检测的信息简写字符,如下表所示:
命令字符 描述
c Display [C]PU information
o Display system D[O]M information
n Display [N]etwork interface card information
S2、控制台输入字符后按回车键;
S3、判断简写字符是否为q,若是,退出本次检测,若否,执行检测命令并在控制台输出执行结果,如图2所示,为输入c、显示CPU信息的示意图;
S4、重复步骤S2、S3。
[0028] 在本优选实施例中,检测结束后生成检测报告。
[0029] 在本优选实施例中,所述存储装置包括CPU、DOM盘、磁盘、网卡。
[0030] 在本优选实施例中,所述S1步骤中程序是使用java编写的控制台应用程序,该程序使用时执行java–jar命令。
[0031] 在本优选实施例中,所述检测包括硬件检测项:cpu温度与计算、disk io、led、网卡,以及功能检测项:创建卷组,磁盘组,共享。
[0032] 如图3所示,在本优选实施例中,cpu温度检测流程为:开始,开启多个测试进程,lm-sensors侦测CPU温度,结束。
[0033] 如图4所示,在本优选实施例中,disk io检测流程为:开始,创建二进制串,写入磁盘,读取数据进行对比,结束。
[0034] 如图5所示,在本优选实施例中,led检测流程为:开始,开启SCSI Enclosure Services协议,发送led对应二进制串,依次点亮led,结束。
[0035] 如图6所示,在本优选实施例中,网卡检测流程为:开始,创建多个测试数据报文,通过网卡发送数据报文,抓包检测报文正确性,检测传输速率,结束。
[0036] 如图7所示,在本优选实施例中,创建卷组检测流程为:开始,选择两个分区创建卷组,写入文件验证文件完整性,结束。
[0037] 如图8所示,在本优选实施例中,创建磁盘组检测流程为:开始,扫描可用磁盘创建磁盘组,写入超大文本验证完整性,结束。
[0038] 如图9所示,在本优选实施例中,共享检测流程为:开始,指定共享磁盘开启共享,模拟多客户端获取共享文件,对比获取结果,结束。
[0039] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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