自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统
专利汇可以提供自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型公开了一种自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，它包括：同轴依次设有 光源 、 准直 镜、比色皿、聚焦镜、设有狭缝的入射板、 角 镜，角镜的反射工作面与轴线成一锐角，角镜后的轴线两侧分别放置平面平场全息光栅、阵列探测器，平面平场全息光栅与阵列探测器的接收工作面相对放置，光源发射出的光线依次经过准直镜、比色皿、聚焦镜、入射板上的狭缝而射向角镜并经由角镜的反射工作面反射后射向平面平场全息光栅，平面平场全息光栅将光线色散后形成的平场 光谱 射向阵列探测器的接收工作面，阵列探测器的输出端与检测 信号 处理系统的输入端连接。本实用新型可用于单 波长 探测以及多波长的同时探测，检测准确性高。，下面是自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统专利的具体信息内容。
1.一种自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：它包括光源、准直镜、比色皿、聚焦镜、入射板、角镜、平面平场全息光栅、阵列探测器和检测信号处理系统，其中：
同轴依次设有光源、准直镜、比色皿、聚焦镜、设有狭缝的入射板、角镜，该角镜的反射工作面与轴线成一锐角，该角镜后的轴线两侧分别放置平面平场全息光栅、阵列探测器，该平面平场全息光栅与阵列探测器的接收工作面相对放置，该光源发射出的光线依次经过该准直镜、比色皿、聚焦镜、入射板上的狭缝而射向该角镜并经由该角镜的反射工作面反射后射向该平面平场全息光栅，该平面平场全息光栅将光线色散后形成的平场光谱射向该阵列探测器的接收工作面，该阵列探测器的输出端与该检测信号处理系统的输入端连接。
2.如权利要求1所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述检测信号处理系统包括模拟开关、模数转换器、数据处理器和多个放大器，其中：
各个该放大器的输入端分别与所述阵列探测器上相应的信号输出端连接，各个该放大器的输出端分别与该模拟开关上相应的输入端连接，该模拟开关的输出端经由该模数转换器而与该数据处理器上相应的IO端连接，该模拟开关和模数转换器的控制端分别与该数据处理器上相应的IO端连接。
3.如权利要求2所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述模数转换器为C8051F060芯片。
4.如权利要求1或2所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述光源为石英卤钨灯。
5.如权利要求1或2所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述准直镜为石英透镜。
6.如权利要求1或2所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述比色皿由石英玻璃制成。
7.如权利要求1或2所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述聚焦镜为石英透镜。
8.如权利要求1或2所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述入射板的狭缝为机械刀口狭缝。
9.如权利要求1或2所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述角镜由k9光学玻璃制成。
10.如权利要求1或2所述的自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统，其特征在于：
所述阵列探测器为硅光电二极管阵列。
自动生化分析仪分光光度计用光学检测系统
技术领域
背景技术
203的稳定性是仪器性能的关键。当处于单波长工作情况时，滤光片203可固定不变，但是，由于使用单波长，分析项目的数量受到了限制。然而，如果使用多波长，则光学系统中便需要配有滤光片203的切换机构，这样会使得仪器的结构变得复杂，可靠性下降。如图4所示，光栅式光学系统同轴排列有光源301、准直系统302、单色仪303、聚焦系统304、探测器
305，探测器305与数据处理电路306相连，应用光栅式光学系统的自动生化分析仪一般采用扫描方式工作，其缺点是：第一，因光栅扫描需要一定的时间，故仪器运行速度慢；第二，具有波长重复误差；第三，必须配有光栅扫描机构，从而使仪器的结构变得复杂，可靠性下降；第四，进行不同波长检测时需要进行波长切换，无法实现多波长同时检测，无法利用去除本底的方法去除待检测物质中存在的干扰，降低了临床检测的准确性。
实用新型内容
具体实施方式
103、聚焦镜104、设有狭缝的入射板105、角镜106，该角镜106的反射工作面与轴线Z成一锐角θ，该角镜106后的轴线Z两侧分别放置平面平场全息光栅107、阵列探测器108，该平面平场全息光栅107与阵列探测器108的接收工作面相对放置，该光源101发射出的光线依次经过该准直镜102、比色皿103、聚焦镜104、入射板105上的狭缝而射向该角镜106并经由该角镜106的反射工作面反射后射向该平面平场全息光栅107，该平面平场全息光栅107将光线色散后形成的平场光谱射向该阵列探测器108的接收工作面，以使阵列探测器108探测射入的平场光谱，该阵列探测器108的输出端与该检测信号处理系统109的输入端连接。
1094上相应的IO端连接。
105的狭缝为机械刀口狭缝。角镜106由k9光学玻璃制成，角镜106的反射工作面与轴线Z所成的角度θ大小由平面平场全息光栅107所要求的入射角来确定。
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