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关键检验特性缺陷率统计装置

阅读:641发布:2021-09-19

专利汇可以提供关键检验特性缺陷率统计装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 属于生产检验技术领域,具体涉及一种关键检验特性 缺陷 率统计装置。与 现有技术 相比较,本发明提出一种关键检验特性缺陷率的统计装置,能够区别对待各类检验特性对产品 质量 波动 影响程度,同时提出了按照工序、产品、型号、单位四个维度进行统计的缺陷率统计装置,以便能更准确评价某单位的产品质量缺陷率情况。本发明的关键检验特性缺陷率统计装置按照失效程度对工序影响程度确定严酷度系数,实现缺陷率统计的加权系数,通过依次计算工序、产品、型号、单位缺陷值,并进行在线展示。,下面是关键检验特性缺陷率统计装置专利的具体信息内容。

1.一种关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述装置包括:工序基础信息采集模、缺陷严酷度计算模块,工序缺陷率算法模块,缺陷率综合分析模块;
所述工序基础信息采集模块用于采集工序基础性信息;
所述缺陷严酷度计算模块用于计算检验特性的严酷度加权系数Ki;
所述工序缺陷率分析模块根据工序基础性信息和严酷度加权系数Ki获得工序缺陷率;
所述缺陷率综合分析模块用于对产品、型号、单位进行综合性分析。
2.如权利要求1所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述工序基础性信息包括:工序名称、工序所属的产品名称、产品所属的型号名称、工序所属的制造单位名称、工序检验特性名称、工序交验产品总数、工序检验特性项目总数、
其中,所述工序检验特性名称,以工序检验特性i标识,同一工序可能存在不同的工序检验特性,用i表示,i=1、2、3、…、n;
所述工序交验产品总数为工序进行检验的所有产品的数量;
所述工序检验特性项目总数为工序含有的检验特性的项目的所有数量;
所述工序检验特性缺陷数Pi为工序检验特性i检验出的所有缺陷数量,i=1、2、3、…、n;
以上工序基础性信息为工序缺陷率分析模块提供输入。
3.如权利要求1所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述缺陷严酷度计算模块用于确认工序检验特性i对应的严酷度加权系数Ki;
严酷度加权系数Ki由该道工序产品P-FMEA过程失效模式表的严酷度分析得出,采用等权系数法,取值1、2、3、4;
以上严酷度加权系数Ki为工序缺陷率分析模块的缺陷总数计算提供输入。
4.如权利要求3所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述工序产品P-FMEA过程失效模式表的严酷度分析得出,是依据GB/T 7826-2012系统可靠性分析技术失效模式和影响分析(FMFA)程序第5.2.8条来获得的。
5.如权利要求3所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述严酷度加权系数Ki的具体介绍如下:
6.如权利要求1所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述工序缺陷率分析模块根据如下方式获得工序缺陷率;
(1)计算该工序的检验特性总数NG;
NG=该道工序交检产品总数×该道工序检验特性项目总数;
(2)计算该工序检验特性的检出的所有缺陷总数DG;
其中,Pi:工序检验特性i检出的缺陷数,i=1、2、3、…、n;
Ki:工序检验特性i对应的严酷度加权系数,Ki=1、2、3、4;
(3)计算该工序的工序缺陷率
7.如权利要求1所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述缺陷率综合分析模块包括:产品缺陷率综合分析单元;
所述产品缺陷率综合分析单元,通过该产品含有的所有工序内的缺陷总数与该产品所有的工序检验特性总数的比值,计算出产品缺陷数值:
其中,Dj表示产品含有的所有工序检验特性检出的缺陷数,j=1、2、3、…、C;
Nj表示产品含有的所有工序检验特性总数,j=1、2、3、…、C;C为产品含有的所有工序数量的最大值。
8.如权利要求1所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述缺陷率综合分析模块包括:型号缺陷率综合分析模单元;
所述型号缺陷率综合分析单元用于通过型号含有的所有产品其工序内的缺陷总数与该型号内所有产品其工序检验特性总数的比值,计算得出型号缺陷值;
其中,Dj表示工序j所有检验特性检出的缺陷数,为区别于工序缺陷率分析模块此处用Dj表示,j=1、2、3、…、X;
Nj表示工序i检验特性总数,j=1、2、3、…、X;
X为型号含有的所有工序数量的最大值。
9.如权利要求1所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述缺陷率综合分析模块包括:单位缺陷率综合分析单元;
所述单位缺陷率综合分析单元用于通过单位含有的所有产品其工序内的缺陷总数与该单位内所有产品其工序检验特性总数的比值,计算得出单位缺陷值;
其中,Dj表示工序j所有检验特性检出的缺陷数,为区别于工序缺陷率分析模块此处用Dj表示,j=1、2、3、…、Q;
Nj表示工序i检验特性总数,j=1、2、3、…、Q;
Q为单位含有的所有工序数量的最大值。
10.如权利要求1所述的关键检验特性缺陷率统计装置,其特征在于,所述关键检验特性缺陷率统计装置还包括在线显示模块,所述在线显示模块用于在获得工序缺陷率、产品缺陷值、型号缺陷值、单位缺陷值之后,对所述工序缺陷率、产品缺陷值、型号缺陷值、单位缺陷值进行在线展示。

说明书全文

关键检验特性缺陷率统计装置

技术领域

[0001] 本发明属于生产检验技术领域,具体涉及一种关键检验特性缺陷率统计装置。

背景技术

[0002] 生产检验特性参数记载着装备从采购、设计、生产、售后等全过程的特性参数信息,是型号生产全系统、全寿命管理的重要基础管理和依据。同时每个阶段的缺陷率是考核产品质量波动的重要指标。各类制造型企业对产品合格率统计均有不同的计算装置。目前比较常规的是借助计算机或是信息系统批量来进行统计通过投产量和最终合格数来统计产品缺陷率。
[0003] 目前统计装置均没有实现对检验特性对该工序影响程度(即严酷度)进行评判,无法辨别出缺陷率的影响程度,往往需求人工进一步搜集并分析缺陷信息。得到的相关按照单一产品维度维度进行统计,无法得到工序、产品、型号、单位四个维度进行统计信息,不能从宏观层面对某单位产品的整体质量波动情况进行评判。

发明内容

[0004] (一)要解决的技术问题
[0005] 本发明要解决的技术问题是:如何提出一种关键检验特性缺陷率的统计装置,能够区别对待各类检验特性对产品质量波动影响程度。
[0006] (二)技术方案
[0007] 为解决上述技术问题,本发明提供一种关键检验特性缺陷率统计装置,所述装置包括:工序基础信息采集模、缺陷严酷度计算模块,工序缺陷率算法模块,缺陷率综合分析模块;
[0008] 所述工序基础信息采集模块用于采集工序基础性信息;
[0009] 所述缺陷严酷度计算模块用于计算检验特性的严酷度加权系数Ki;
[0010] 所述工序缺陷率分析模块根据工序基础性信息和严酷度加权系数Ki获得工序缺陷率;
[0011] 所述缺陷率综合分析模块用于对产品、型号、单位进行综合性分析。
[0012] 其中,所述工序基础性信息包括:工序名称、工序所属的产品名称、产品所属的型号名称、工序所属的制造单位名称、工序检验特性名称、工序交验产品总数、工序检验特性项目总数、
[0013] 其中,所述工序检验特性名称,以工序检验特性i标识,同一工序可能存在不同的工序检验特性,用i表示,i=1、2、3、…、n;
[0014] 所述工序交验产品总数为工序进行检验的所有产品的数量;
[0015] 所述工序检验特性项目总数为工序含有的检验特性的项目的所有数量;
[0016] 所述工序检验特性缺陷数Pi为工序检验特性i检验出的所有缺陷数量,i=1、2、3、…、n;
[0017] 以上工序基础性信息为工序缺陷率分析模块提供输入。
[0018] 其中,所述缺陷严酷度计算模块用于确认工序检验特性i对应的严酷度加权系数Ki;
[0019] 严酷度加权系数Ki由该道工序产品P-FMEA过程失效模式表的严酷度分析得出,采用等权系数法,取值1、2、3、4;
[0020] 以上严酷度加权系数Ki为工序缺陷率分析模块的缺陷总数计算提供输入。
[0021] 其中,所述工序产品P-FMEA过程失效模式表的严酷度分析得出,是依据GB/T 7826-2012系统可靠性分析技术失效模式和影响分析(FMFA)程序第5.2.8条来获得的。
[0022] 其中,所述严酷度加权系数Ki的具体介绍如下:
[0023]
[0024] 其中,所述工序缺陷率分析模块根据如下方式获得工序缺陷率;
[0025] (1)计算该工序的检验特性总数NG;
[0026] NG=该道工序交检产品总数×该道工序检验特性项目总数;
[0027] (2)计算该工序检验特性的检出的所有缺陷总数DG;
[0028]
[0029] 其中,Pi:工序检验特性i检出的缺陷数,i=1、2、3、…、n;
[0030] Ki:工序检验特性i对应的严酷度加权系数,Ki=1、2、3、4;
[0031] (3)计算该工序的工序缺陷率
[0032]
[0033] 其中,所述缺陷率综合分析模块包括:产品缺陷率综合分析单元;
[0034] 所述产品缺陷率综合分析单元,通过该产品含有的所有工序内的缺陷总数与该产品所有的工序检验特性总数的比值,计算出产品缺陷数值:
[0035]
[0036] 其中,Dj表示产品含有的所有工序检验特性检出的缺陷数,j=1、2、3、…、C;
[0037] Nj表示产品含有的所有工序检验特性总数,j=1、2、3、…、C;C为产品含有的所有工序数量的最大值。
[0038] 其中,所述缺陷率综合分析模块包括:型号缺陷率综合分析模单元;
[0039] 所述型号缺陷率综合分析单元用于通过型号含有的所有产品其工序内的缺陷总数与该型号内所有产品其工序检验特性总数的比值,计算得出型号缺陷值;
[0040]
[0041] 其中,Dj表示工序j所有检验特性检出的缺陷数,为区别于工序缺陷率分析模块此处用Dj表示,j=1、2、3、…、X;
[0042] Nj表示工序i检验特性总数,j=1、2、3、…、X;
[0043] X为型号含有的所有工序数量的最大值。
[0044] 其中,所述缺陷率综合分析模块包括:单位缺陷率综合分析单元;
[0045] 所述单位缺陷率综合分析单元用于通过单位含有的所有产品其工序内的缺陷总数与该单位内所有产品其工序检验特性总数的比值,计算得出单位缺陷值;
[0046]
[0047] 其中,Dj表示工序j所有检验特性检出的缺陷数,为区别于工序缺陷率分析模块此处用Dj表示,j=1、2、3、…、Q;
[0048] Nj表示工序i检验特性总数,j=1、2、3、…、Q;
[0049] Q为单位含有的所有工序数量的最大值。
[0050] 其中,所述关键检验特性缺陷率统计装置还包括在线显示模块,所述在线显示模块用于在获得工序缺陷率、产品缺陷值、型号缺陷值、单位缺陷值之后,对所述工序缺陷率、产品缺陷值、型号缺陷值、单位缺陷值进行在线展示。
[0051] (三)有益效果
[0052] 与现有技术相比较,本发明提出一种关键检验特性缺陷率的统计装置,能够区别对待各类检验特性对产品质量波动影响程度,同时提出了按照工序、产品、型号、单位四个维度进行统计的缺陷率统计装置,以便能更准确评价某单位的产品质量缺陷率情况。
[0053] 本发明的关键检验特性缺陷率统计装置按照失效程度对工序影响程度确定严酷度系数,实现缺陷率统计的加权系数,通过依次计算工序、产品、型号、单位缺陷值,并进行在线展示。
[0054] 利用本发明提供的缺陷率统计装置,具有以下有益效果:
[0055] 1)该发明在够将工序、产品、型号和单位四个维度缺陷率统计数据同时展示,生产单位不在需要繁琐复杂的人工统计装置,能够实时在线查看产品波动情况并及时处理。
[0056] 2)该发明通过识别重点工序关键检验特性的影响程度,对缺陷值进行加权计算,更能客观评判产品的质量波动情况

具体实施方式

[0057] 为使本发明的目的、内容、和优点更加清楚,下面结合实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。
[0058] 为解决现有技术问题,本发明提供一种关键检验特性缺陷率统计装置,所述装置包括:工序基础信息采集模块、缺陷严酷度计算模块,工序缺陷率算法模块,缺陷率综合分析模块;
[0059] 所述工序基础信息采集模块用于采集工序基础性信息;
[0060] 所述缺陷严酷度计算模块用于计算检验特性的严酷度加权系数Ki;
[0061] 所述工序缺陷率分析模块根据工序基础性信息和严酷度加权系数Ki获得工序缺陷率;
[0062] 所述缺陷率综合分析模块用于对产品、型号、单位进行综合性分析。
[0063] 其中,所述工序基础性信息包括:工序名称、工序所属的产品名称、产品所属的型号名称、工序所属的制造单位名称、工序检验特性名称、工序交验产品总数、工序检验特性项目总数、
[0064] 其中,所述工序检验特性名称,以工序检验特性i标识,同一工序可能存在不同的工序检验特性,用i表示,i=1、2、3、…、n;
[0065] 所述工序交验产品总数为工序进行检验的所有产品的数量;
[0066] 所述工序检验特性项目总数为工序含有的检验特性的项目的所有数量;
[0067] 所述工序检验特性缺陷数Pi为工序检验特性i检验出的所有缺陷数量,i=1、2、3、…、n;
[0068] 以上工序基础性信息为工序缺陷率分析模块提供输入。
[0069] 其中,所述缺陷严酷度计算模块用于确认工序检验特性i对应的严酷度加权系数Ki;
[0070] 严酷度加权系数Ki由该道工序产品P-FMEA过程失效模式表的严酷度分析得出(依据GB/T 7826-2012系统可靠性分析技术失效模式和影响分析(FMFA)程序第5.2.8条),采用等权系数法,取值1、2、3、4;
[0071] 以上严酷度加权系数Ki为工序缺陷率分析模块的缺陷总数计算提供输入。
[0072] 其中,所述工序产品P-FMEA过程失效模式表的严酷度分析得出,是依据GB/T 7826-2012系统可靠性分析技术失效模式和影响分析(FMFA)程序第5.2.8条来获得的。
[0073] 其中,所述严酷度加权系数Ki的具体介绍如下:
[0074]
[0075]
[0076] 其中,所述工序缺陷率分析模块根据如下方式获得工序缺陷率;
[0077] (1)计算该工序的检验特性总数NG;
[0078] NG=该道工序交检产品总数×该道工序检验特性项目总数;
[0079] (2)计算该工序检验特性的检出的所有缺陷总数DG;
[0080]
[0081] 其中,Pi:工序检验特性i检出的缺陷数,i=1、2、3、…、n;
[0082] Ki:工序检验特性i对应的严酷度加权系数,Ki=1、2、3、4;
[0083] (3)计算该工序的工序缺陷率
[0084]
[0085] 其中,所述缺陷率综合分析模块包括:产品缺陷率综合分析单元;
[0086] 所述产品缺陷率综合分析单元,通过该产品含有的所有工序内的缺陷总数与该产品所有的工序检验特性总数的比值,计算出产品缺陷数值:
[0087]
[0088] 其中,Dj表示产品含有的所有工序检验特性检出的缺陷数,j=1、2、3、…、C;
[0089] Nj表示产品含有的所有工序检验特性总数,j=1、2、3、…、C;C为产品含有的所有工序数量的最大值。
[0090] 其中,所述缺陷率综合分析模块包括:型号缺陷率综合分析模单元;
[0091] 所述型号缺陷率综合分析单元用于通过型号含有的所有产品其工序内的缺陷总数与该型号内所有产品其工序检验特性总数的比值,计算得出型号缺陷值;
[0092]
[0093] 其中,Dj表示工序j所有检验特性检出的缺陷数,为区别于工序缺陷率分析模块此处用Dj表示,j=1、2、3、…、X;
[0094] Nj表示工序i检验特性总数,为区别于工序缺陷率分析模块此处用Nj表示,j=1、2、3、…、X;
[0095] X为型号含有的所有工序数量的最大值。
[0096] 其中,所述缺陷率综合分析模块包括:单位缺陷率综合分析单元;
[0097] 所述单位缺陷率综合分析单元用于通过单位含有的所有产品其工序内的缺陷总数与该单位内所有产品其工序检验特性总数的比值,计算得出单位缺陷值;
[0098]
[0099] 其中,Dj表示工序j所有检验特性检出的缺陷数,为区别于工序缺陷率分析模块此处用Dj表示,j=1、2、3、…、Q;
[0100] Nj表示工序i检验特性总数,为区别于工序缺陷率分析模块此处用Nj表示,j=1、2、3、…、Q;
[0101] Q为单位含有的所有工序数量的最大值。
[0102] 其中,所述关键检验特性缺陷率统计装置还包括在线显示模块,所述在线显示模块用于在获得工序缺陷率、产品缺陷值、型号缺陷值、单位缺陷值之后,对所述工序缺陷率、产品缺陷值、型号缺陷值、单位缺陷值进行在线展示。
[0103] 以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。
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