【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ファインダー光学系に高輝度被写体からの強い光を減光するための減光装置を備えたカメラに関する。

【０００２】

【従来技術とその問題点】従来のカメラでは、被写界に太陽などの高輝度被写体がある場合、レンズに高濃度のフィルターを装着したり、あるいは撮影者自身がサングラスをかけたりして眩しさを防いだり、強い光から目を保護している。

【０００３】しかしながら、このような方法ではファインダー画面全体が暗くなり、ファインダー内の主要被写体に対する良好な視認性を確保することが困難である。

【０００４】本発明の目的は、被写界に高輝度被写体がある場合に、撮影者の目を保護するとともにファインダー内の主要被写体に対して良好な視認性を確保することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】クレーム対応図である図１に対応づけて本発明を説明すると、請求項１の発明は、被写界を複数の測光領域に分割して各測光領域ごとに測光を行う分割測光手段１００と、被写体からの光を撮影者の目へ導く光学系１０２とを備えたカメラに適用される。 そして、分割測光手段１００の光路と異なる光学系１０２の光路中に設けられ、分割測光手段１００の各測光領域に対応する減光領域を有し、光学系１０２を通過する光を各減光領域ごとに減光可能な分割減光手段１０３と、分割測光手段１００の各測光領域の測光出力を所定値と比較し、測光出力が所定値を越える測光領域に対応した減光領域に対して、その減光領域を通過する光を分割減光手段１０３により減光させる制御手段１０
４とを備え、これにより、上記目的を達成する。 また、
請求項２のカメラの分割減光手段１０３Ａは各減光領域ごとの光透過率を可変とし、制御手段１０４Ａによって、分割測光手段１００の各測光領域の測光出力に応じて、各測光領域に対応する分割減光手段１０３Ａの減光領域の光透過率を制御するようにしたものである。

【０００６】

【作用】請求項１のカメラでは、分割測光領域の測光出力が所定値を越えると、その測光領域に対応した減光領域に対してその減光領域を通過する光を減光させる。 これによって、被写界に太陽などの高輝度被写体がある場合に、撮影者の目を保護するとともにファインダー内の主要被写体に対して良好な視認性を確保する。 請求項２
のカメラでは、各測光領域の測光出力に応じて、各測光領域に対応する減光領域の光透過率を制御する。 これによって、被写界に太陽などの高輝度被写体がある場合に、撮影者の目を保護するとともにファインダー内の主要被写体に対して良好な視認性を確保する。

【０００７】

【実施例】

−第１の実施例− 図２は第１の実施例の構成を示す図である。 撮影レンズ１を通過した被写体からの光束はミラー２で反射されて焦点板３上に導かれ、焦点板３上に被写体像、すなわちファインダー像が形成される。 このファインダー像は、
コンデンサレンズ４、ペンタゴナルダハプリズム（以下、単にペンタプリズムと呼ぶ）５および接眼レンズ６
を介して撮影者により観察される。 また、ファインダー像は、ペンタプリズム５により分光されリレーレンズ７
を介してマルチ測光用光電受光素子（以下、単に受光素子と呼ぶ）８の受光面上にも導かれ、この受光面上に被写体の二次像が形成される。

【０００８】さらに、この第１の実施例では、ペンタプリズム５と接眼レンズ６との間に、ファインダー像からの光を減光するためのエレクトロクロミック表示板（以下、単にＥＣ板と呼ぶ）９を設ける。 このＥＣ板９は、
焦点板３上のファインダー画面の視野と同一の大きさを有している。 なお、このＥＣ板９はペンタプリズム５と接眼レンズ６との間に設置されるので、受光素子８による測光に影響を与えることはない。

【０００９】図３は受光素子８の正面図である。 この第１の実施例では、被写界を５つの測光領域に分割して各測光領域ごとに測光を行う。 受光素子８は、これらの測光領域に対応する５つの受光部ＰＤ０〜ＰＤ４に分割され、各受光部ＰＤ０〜ＰＤ４によりそれぞれの測光領域を測光してアナログ光電変換を行う。

【００１０】図４はＥＣ板９の正面図である。 このＥＣ
板９には上述した５つの測光領域に対応した減光領域が設定され、ＥＣ０〜ＥＣ４は各減光領域のセグメントである。 ＥＣ板９のセグメントＥＣ０は受光部ＰＤ０の測光領域に対応する。 以下同様に、セグメントＥＣ１は受光部ＰＤ１に、セグメントＥＣ２は受光部ＰＤ２に、セグメントＥＣ３は受光部ＰＤ３に、セグメントＥＣ４は受光部ＰＤ４にそれぞれ対応する。

【００１１】ＥＣ板９上の各セグメントＥＣ０〜ＥＣ４
は、後述するＥＣＤドライバーによってそれぞれ独立に駆動可能であり、非駆動時は透明、セグメントＥＣ０〜
ＥＣ４に電圧を印加して駆動すると高濃度となり半透明になる。 これによって、ＥＣ板９は各減光領域を通過するファインダー像からの光を減光することができる。

【００１２】図５は第１の実施例の制御回路の構成を示すブロック図である。 受光素子８の受光部ＰＤ０〜ＰＤ
４のアナログ測光信号は、測光回路１１によりデジタル測光信号Ｐ０〜Ｐ４に変換されてマイクロコンピューター１２へ出力される。 マイクロコンピューター１２は、
測光信号Ｐ０〜Ｐ４の中に予め設定された基準レベルＰ
ｔｈ０を越える高輝度な測光信号が存在する場合、その測光領域に対応するＥＣ板９のセグメントＥＣ０〜ＥＣ
４に電圧を印加させるための電圧印加指令信号を出力する。 ここで、基準レベルＰｔｈ０を例えば１６ＥＶに設定する。

【００１３】ＥＣＤドライバ１３は、電圧印加指令信号を受信したセグメントＥＣ０〜ＥＣ４に駆動電圧を印加し、そのセグメントを高濃度として半透明にする。 これによって、基準レベルＰｔｈ０を越える高輝度な被写体が存在する領域からの光はＥＣ板９により減光される。

【００１４】図６はマイクロコンピューター１２の制御プログラムを示すフローチャートである。 このフローチャートにより、第１の実施例の動作を説明する。 マイクロコンピューター１２は、不図示のレリーズボタンが半押しされるとこの制御プログラムの実行を開始する。 まずステップＳ１において、測光信号Ｐ０〜Ｐ４の番号を示すレジスタｎを０にリセットしてステップＳ２へ進む。 ステップＳ２で、測光回路１１から受光部ＰＤ０の測光信号Ｐ０を入力し、基準レベルＰｔｈ０以上か否かを判別し、基準レベルＰｔｈ０以上であればステップＳ
３へ進み、そうでなければステップＳ４へ進む。 ステップＳ３では、ＥＣ板９のセグメントＥＣ０の電圧印加指令信号をＥＣＤドライバ１３へ出力してステップＳ４へ進む。 ステップＳ４では、レジスタｎが４か否か、すなわちすべての測光信号Ｐ０〜Ｐ４に対する処理を完了したか否かを判別し、完了したらプログラムの実行を終了し、未処理の測光信号があればステップＳ５へ進む。 ステップＳ５ではレジスタｎの値をインクリメントしてステップＳ２へ戻り、次の測光信号に対して上記処理を繰り返す。

【００１５】図７（ａ）は被写界の一部の領域に太陽が存在する場合のファインダー画面を示し、図７（ｂ）はＥＣ板９を動作させてファインダー画面内の太陽が存在する領域からの光を減光した状態を示す。

【００１６】図８（ａ）は被写界の一部の領域に太陽と太陽の光を反射する高輝度被写体が存在する場合のファインダー画面を示し、図８（ｂ）はＥＣ板９を動作させてファインダー画面内の高輝度被写体が存在する領域からの光を減光した状態を示す。

【００１７】このように、分割測光領域の測光出力が所定値を越えると、その測光領域に対応した減光領域のセグメントに対してそのセグメントを通過する被写体像の光を減光させるようにしたので、被写界に太陽などの高輝度被写体があっても、撮影者の目を保護できる上に、
ファインダー内の主要被写体に対して良好な視認性を確保することができる。

【００１８】−第２の実施例− 次に、測光信号レベルに応じてＥＣ板の光透過率を制御する第２の実施例を説明する。 なお、この第２の実施例のカメラの構成は図２に示す構成と同様であり、図示およびその説明を省略する。 また、この第２の実施例における被写界の領域分割は上述した第１の実施例と同様とする。

【００１９】図９は第２の実施例の制御回路の構成を示すブロック図、図１０はＥＣ板の拡大図である。 なお、
図５に示す第１の実施例と同様な機器に対しては同一の符号を付して相違点を中心に説明する。 この第２の実施例のＥＣ板２３は、図１０に示すように、上述した被写界の５分割領域に対応して５つの減光領域ＥＣ１０〜Ｅ
Ｃ１４に分割され、各減光領域はそれぞれ複数のセグメントから構成される。 したがって、このＥＣ板２３の各減光領域は受光素子８の各受光部ＰＤ０〜ＰＤ４にそれぞれ対応する。 マイクロコンピューター２１は、ＥＣＤ
ドライバ２２を制御してＥＣ板２３の各減光領域に含まれる個々のセグメントを駆動可能である。 各セグメントは、第１の実施例と同様に非駆動時にはほぼ透明であり、駆動電圧を印加されると高濃度となって半透明になる。 図１１は、減光領域ＥＣ１０およびＥＣ１１のそれぞれ１／２のセグメントに駆動電圧を印加し、減光領域ＥＣ１０およびＥＣ１１の光透過率を低下させた状態を示す。

【００２０】マイクロコンピューター２２は、各測光信号Ｐ０〜Ｐ４の信号レベルに応じて次のようにランクづけを行う。 この第２の実施例では３つの基準レベルＰｔ
ｈ０、Ｐｔｈ１およびＰｔｈ２を設け、それぞれ１６Ｅ
Ｖ、１８ＥＶ、２０ＥＶを設定する。 そして、各測光信号Ｐ０〜Ｐ４の信号レベルが、 （１）Ｐｔｈ０≦（Ｐ０〜Ｐ４）＜Ｐｔｈ１の範囲にあれば、その測光信号を出力した受光部に対応するＥＣ板２３の減光領域に対して、その減光領域に含まれる１／
３のセグメントを高濃度として減光領域の光透過率を低下させるための電圧印加指令信号を出力する。 （２）Ｐｔｈ１≦（Ｐ０〜Ｐ４）＜Ｐｔｈ２の範囲にあれば、その測光信号を出力した受光部に対応するＥＣ板２３の減光領域に対して、その減光領域に含まれる２／
３のセグメントを高濃度として減光領域の光透過率を低下させるための電圧印加指令信号を出力する。 （３）Ｐｔｈ２≦（Ｐ０〜Ｐ４）の範囲にあれば、その測光信号を出力した受光部に対応するＥＣ板２３の減光領域に対して、その減光領域に含まれるすべてのセグメントを高濃度として減光領域の光透過率を低下させるための電圧印加指令信号を出力する。

【００２１】ＥＣＤドライバ２２は、マイクロコンピューター２１からの電圧印加指令信号にしたがって該当するセグメントに駆動電圧を印加する。 駆動電圧を印加されたセグメントは高濃度となり、減光領域全体の光透過率が低下する。 したがって、駆動電圧を印加するセグメントの数が多ければ多いほど、その減光領域の光透過率が低下する。

【００２２】図１２は、マイクロコンピューター２１の制御プログラムを示すフローチャートである。 このフローチャートにより、第２の実施例の動作を説明する。 マイクロコンピューター２１は、不図示のレリーズボタンが半押しされるとこの制御プログラムの実行を開始する。 まずステップＳ１１において、測光信号Ｐ０〜Ｐ４
の番号を示すレジスタｎを０にリセットしてステップＳ
１２へ進む。 ステップＳ１２で、測光回路１１から受光部ＰＤ０の測光信号Ｐ０を入力し、基準レベルＰｔｈ０
以上か否かを判別し、基準レベルＰｔｈ０以上であればステップＳ１３へ進み、そうでなければステップＳ１８
へ進む。 ステップＳ１３では、測光信号Ｐ０が基準レベルＰｔｈ２以上か否かを判別し、基準レベルＰｔｈ２以上であればステップＳ１４へ進み、そうでなければステップＳ１５へ進む。

【００２３】測光信号Ｐ０が基準レベルＰｔｈ２以上のときは、ステップＳ１４で受光素子８の受光部ＰＤ０に対応するＥＣ板２３の減光領域ＥＣ１０内のすべてのセグメントの電圧印加指令信号をＥＣＤドライバ２２へ出力する。 一方、ステップＳ１５では、測光信号Ｐ０の信号レベルがＰｔｈ２＞Ｐ０≧Ｐｔｈ１の範囲にあるか否かを判別し、範囲内にあればステップＳ１６へ進み、そうでなければステップＳ１７へ進む。 測光信号Ｐ０のレベルがＰｔｈ２＞Ｐ０≧Ｐｔｈ１のときは、ステップＳ
１６で受光素子８の受光部ＰＤ０に対応するＥＣ板２３
の減光領域ＥＣ１０内の２／３のセグメントの電圧印加指令信号をＥＣＤドライバ２２へ出力する。 一方、測光信号Ｐ０が基準レベルＰｔｈ１よりも小さいときは、ステップＳ１７で受光素子８の受光部ＰＤ０に対応するＥ
Ｃ板２３の減光領域ＥＣ１０内の１／３のセグメントの電圧印加指令信号をＥＣＤドライバ２２へ出力する。

【００２４】ステップＳ１４またはＳ１６またはＳ１７
で電圧印加指令信号を出力したら、ステップＳ１８でレジスタｎの値が４か、すなわちすべての測光信号Ｐ０〜
Ｐ４に対して上記処理を完了したか否かを判別し、処理を完了したらプログラムの実行を終了し、そうでなければステップＳ１９へ進む。 ステップＳ１９では、レジスタｎの値をインクリメントしてステップＳ１２へ戻り、
次の測光信号に対して上述した処理を繰り返す。

【００２５】このように、各測光領域に対応する減光領域内の複数のセグメントの内、減光動作をさせるセグメントの数を各測光領域の測光出力に応じて変え、減光領域の光透過率を制御するようにしたので、被写界に太陽などの高輝度被写体があっても、撮影者の目を保護できる上に、ファインダー内の主要被写体に対して良好な視認性を確保することができる。

【００２６】なお、上述した各実施例では測光信号が基準レベルＰｔｈ０＝１６ＥＶ以上の時にエレクトロクロミック表示板の減光動作を行うようにしたが、減光動作を行うか否かを判断する基準レベルは上記実施例に限定されない。 例えば、減光動作を行うか否かを判断する基準レベルを複数個設け、撮影者が任意に切り換えるようにしてもよい。

【００２７】また、上述した第２の実施例では３つの基準レベルに基づいて測光信号を判定し、エレクトロクロミック表示板を制御したが、２つまたは４つ以上の基準レベルを設けて測光信号を判定し、その判定結果に応じてエレクトロクロミック表示板を制御するようにしてもよい。

【００２８】さらに、上記第２の実施例では、測光信号の判定結果に応じて駆動電圧を印加して高濃度にするセグメントの数を変えたが、測光信号のレベルに応じてエレクトロクロミック表示板に印加する駆動電圧値を連続的に変えて減光領域の光透過率を制御するようにしてもよい。

【００２９】マルチ測光用光電受光素子およびエレクトロクロミック表示板の分割数および分割形態は上記実施例に限定されない。 また、マルチ測光用光電受光素子の設置場所は上述した実施例に限定されず、例えばカメラの下部（底）に設置し、ミラー２を通過した光束をサブミラーを用いて下部に設置された受光素子へ導いてもよい。 この場合には、エレクトロクロミック表示板の設置位置は上述した実施例の位置に限定されず、焦点板付近など、ミラーから接眼レンズまでの光路中ならばどこに配置してもよい。

【００３０】上述した各実施例ではエレクトロクロミック表示板を用いて焦点板からの強い光を減光するようにしたが、液晶表示素子や光学的なフィルタあるいはシャッターなどにより減光するようにしてもよい。

【００３１】上述した各実施例では１眼レフカメラを例に上げて説明したが、２眼レフカメラに対しても本発明を適用できる。 また、シャッター方式はフォーカルプレーンシャッターでもレンズシャッターでもよい。

【００３２】以上の実施例の構成において、マルチ測光用光電受光素子８が分割測光手段を、焦点板３が焦点板を、ミラー２、コンデンサレンズ４、ペンタゴナルダハプリズム５および接眼レンズ６が光学系を、エレクトロクロミック表示板９，２３が分割減光手段を、マイクロコンピューター１２，２１およびＥＣＤドライバ１３，
２２が制御手段をそれぞれ構成する。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように請求項１の発明によれば、分割測光手段の光路とは異なる光路中であって、
且つファインダー光学系の光路中に分割測光手段の各測光領域に対応する減光領域を有する分割減光手段を設け、分割測光領域の測光出力が所定値を越えると、その測光領域に対応した減光領域に対してその減光領域を通過する光を減光させるようにしたので、被写界に太陽などの高輝度被写体があっても、撮影者の目を保護できる上に、ファインダー内の主要被写体に対して良好な視認性を確保することができる。 また、本発明によれば、分割測光手段の光路とは異なる光路中に減光手段を設けたので、減光手段が減光しても測光値に影響を与えることがなく、正確な測光出力を得ることができる。 また、請求項２の発明によれば、各測光領域の測光出力に応じて、各測光領域に対応する減光領域の光透過率を制御するようにしたので、被写界に太陽などの高輝度被写体があっても、撮影者の目を保護できる上に、ファインダー内の主要被写体に対して良好な視認性を確保することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】クレーム対応図。

【図２】第１の実施例の構成を示す図。

【図３】マルチ測光用光電受光素子の正面図。

【図４】エレクトロクロミック表示板の正面図。

【図５】第１の実施例の制御回路の構成を示すブロック図。

【図６】第１実施例のマイクロコンピューターの制御プログラムを示すフローチャート。

【図７】（ａ）は被写界の一部の領域に太陽が存在する場合のファインダー画面を示す図、（ｂ）はエレクトロクロミック表示板を動作させてファインダー画面内の太陽が存在する領域からの光を減光した状態を示す図。

【図８】（ａ）は被写界の一部の領域に太陽と太陽の光を反射する高輝度被写体が存在する場合のファインダー画面を示す図、（ｂ）はエレクトロクロミック表示板を動作させてファインダー画面内の高輝度被写体が存在する領域からの光を減光した状態を示す図。

【図９】第２の実施例の制御回路の構成を示すブロック図。

【図１０】エレクトロクロミック表示板の拡大図。

【図１１】エレクトロクロミック表示板の一部の減光領域内の１／２のセグメントに駆動電圧を印加し、それらの減光領域の光透過率を低下させた状態を示す図。

【図１２】第２の実施例のマイクロコンピューターの制御プログラムを示すフローチャート。

【符号の説明】

１ 撮影レンズ ２ ミラー ３ 焦点板 ４ コンデンサレンズ ５ ペンタゴナルダハプリズム（ペンタプリズム） ６ 接眼レンズ ７ リレーレンズ ８ マルチ測光用光電受光素子（受光素子） ９，２３ エレクトロクロミック表示板（ＥＣ板） １１ 測光回路 １２，２１ マイクロコンピューター １３，２２ ＥＣＤドライバ １００ 分割測光手段 １０２ 光学系 １０３，１０３Ａ 分割減光手段 １０４，１０４Ａ 制御手段 ＰＤ０〜ＰＤ４ 受光部 ＥＣ０〜ＥＣ４ セグメント ＥＣ１０〜ＥＣ１４ 減光領域 Ｐ０〜Ｐ４ 測光信号

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大沢 圭司 東京都千代田区丸の内３丁目２番３号 株 式会社ニコン内