技术领域
[0001] 本
发明属于反应堆控制与保护系统的技术领域，尤其涉及压水堆核电站仪表系统探测器试验处理方法、装置及系统。
背景技术
[0002] 随着核电的发展，多基地电站核仪表RPN系统使用的探测器数量大幅增长，但目前探测器的
质量依赖于厂家的质量报告和现场
基础的
中子源试验，而无法对探测器的性能进行提前的测试与验证；当RPN系统探测器运用至现场出现故障时，将导致
信号异常
波动或导致机组退状态处理。RPN系统所采用的探测器设备属于核电站战略性备件，存放周期较长，
现有技术中无法满足对RPN系统探测器存在的
缺陷提前识别以及可靠性的提前验证。
发明内容
[0003] 有鉴于此，本发明
实施例提供了压水堆核电站仪表系统探测器试验处理方法、装置及系统，以解决现有技术中无法实现对RPN系统探测器存在的缺陷提前识别以及可靠性的提前验证的问题。
[0004] 本发明实施例的第一方面提供了压水堆核电站仪表系统探测器试验处理方法，包括：
[0005] 采集探测器的指标数据；
[0006] 放大并调理所述指标数据；
[0007] 对放大并调理后的所述指标数据进行运算处理，获取试验数据；
[0008] 根据所述试验数据评估所述探测器的性能。
[0009] 本发明实施例的第二方面提供了压水堆核电站仪表系统探测器试验处理装置装置，包括：
[0010]
数据采集单元，用于采集探测器的指标数据；
[0011] 第一
数据处理单元，用于放大并调理所述指标数据；
[0012] 第二数据处理单元，用于对放大并调理后的所述指标数据进行运算处理，获取试验数据；
[0013] 性能评估单元，用于根据所述试验数据评估所述探测器的性能。
[0014] 本发明实施例的第三方面提供了一种探测器试验处理系统，包括：
存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的
计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述探测器试验处理方法的步骤。
[0015] 本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述探测器试验处理方法的步骤。
[0016] 本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本发明实施例通过采集探测器的指标数据，对指标数据进行放大、调理以及运算处理，获取需要的试验数据，并根据试验数据对探测器的性能提前进行评估和验证，克服了无法对探测器的性能进行提前的测试与验证的技术问题；实现了对探测器的一定时间的离线拷机，确保了探测器质量和性能的可靠性，具有较强的易用性与实用性。
附图说明
[0017] 为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018] 图1是本发明实施例提供的压水堆核电站仪表系统探测器试验处理方法的实现流程示意图；
[0019] 图2是本发明实施例提供的源量程高压坪特性曲线示意图；
[0020] 图3是本发明实施例提供的中间量程补偿负高压曲线示意图；
[0021] 图4是本发明实施例提供的中间量程探测器高压坪特性曲线示意图；
[0022] 图5是本发明实施例提供的源量程探测器甄别阈曲线示意图；
[0023] 图6是本发明实施例提供的甄别阈曲线拐点判断探测器性能的流程示意图；
[0024] 图7是本发明实施例提供的探测器试验处理装置的示意图；
[0025] 图8是本发明实施例提供的探测器试验处理系统的示意图。
具体实施方式
[0026] 以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、
电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
[0027] 应当理解，当在本
说明书和所附
权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0028] 还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0029] 还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0030] 为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
[0031] 图1示出了本发明实施例提供的压水堆核电站仪表系统探测器试验处理方法的实现流程示意图，该方法可以应用于压水堆核电站仪表系统探测器的离线验证和拷机，对探测器备件进行提前评估，确认探测器质量的可靠性；如图1所示，该方法可以包括以下步骤：
[0032] 步骤S101，采集探测器的指标数据。
[0033] 在本实施例中，探测器设置在压水堆外，通过快速连续地检测监测平均中子通量和中子通量的分布，测量核功率以及核功率分布；所述探测器包括源量程探测器，中间量程探测器和功率量程探测器；源量程探测器是植
硼正比计数器，能在反应堆停闭和电站初始启动时，给出冗余的低通量测量信号；中间量程探测器是植硼补偿电离室，可以给出冗余的中子探测信号；功率量程探测器是六节γ补偿电离室，可以给出四路冗余的六节中子
电流信号和总的平均中子通量电流信号。
[0034] 所述的探测器的指标数据为探测器给出的表征中子通量的脉冲信号和电流信号。
[0035] 进一步的，所述采集探测器的指标数据，包括：
[0036] 采集源量程探测器输出的脉冲信号；
[0037] 采集中间量程探测器或功率量程探测器的电流信号。
[0038] 在本实施例中，源量程探测器可以监测六个量级的
堆芯泄漏中子注量率，因此可以实现1～106cps的脉冲信号的采集；中间量程探测器监测堆芯泄漏中子注量率，功率量程监测功率水平，可以采集的电流信号的量程为10-11～10-3A。
[0039] 步骤S102，放大并调理所述指标数据。
[0040] 在本实施例中，对采集的指标数据进行
信号处理，源量程探测器和中间量程探测器分别使用正比技术管和裂变室，脉冲信号和电流信号不利于长距离传输且抗干扰能
力差，需要对采集的脉冲信号和电流信号进行放大以及调理，并输出
数字量脉冲信号和模拟量信号。
[0041] 进一步的，所述放大并调理所述指标数据，包括：
[0042] 对所述脉冲信号进行放大、整形以及甄别处理；
[0043] 对所述电流信号进行电流-
电压I-V转换以及电压放大处理。
[0044] 在本实施例中，对脉冲信号进行放大，放大电路采集特殊工艺的金属盒屏蔽处理，减少电路的干扰，保证脉冲信号放大的真实性；将放大的脉冲信号进行整形处理，使得脉冲信号的形状更接近与所要求的形状；当源量程探测器工作于低功率阶段时，γ射线对中子通量率的干扰较大，影响中子通量的测量，需要采用甄别阈处理方法，设置合理的甄别
阈值，甄别掉低于该电压阈值的γ干扰脉冲，获取更精确的脉冲信号。中间量程探测器或功率量程探测器收到
热中子信号后产生小电流信号，将电流信号转换成电压信号，并将电压信号进行线性放大，同时采用特殊工艺对放大电路进行屏蔽处理，减少电路噪声的影响，保证信号放大的真实性，经过转换和放大后，每个测量档位可以输出0～10V的标准放大信号。
[0045] 步骤S103，对放大并调理后的所述指标数据进行运算处理，获取试验数据。
[0046] 在本实施例中，对放大并调理后的指标数据进行运算处理包括：源量程探测器计数率的计算、源量程探测器坪特性数据的采集、源量程甄别阈和高压的控制、中间量程探测器电流的计算、中间量程档位选择切换的控制、中间量程坪特性数据的采集以及中间量程探测器高压和补偿高压的控制，从而获取探测器离线验证和拷机所需的试验数据。
[0047] 进一步的，所述对放大并调理后的所述指标数据进行运算处理，获取试验数据，包括：
[0048] 获取源量程探测器脉冲信号的计数率；
[0049] 根据所述计数率与源量程探测器偏置电压计算源量程探测器的坪特性数据和甄别阈数据；
[0050] 根据所述源量程探测器的坪特性数据，控制源量程探测器的工作高压；
[0051] 根据所述源量程的甄别阈数据，调整脉冲甄别值。
[0052] 在本实施例中，脉冲信号与入射粒子所产生的初级电离的离子对的数目成正比，若粒子射程不长，则该粒子的种类、数目和个数可以被探测到，并在甄别电路的配合下，可以把β、γ射线产生的较小的脉冲甄别掉，从而记录α粒子的脉冲信号，对脉冲信号进行放大和整形后计算脉冲信号的计数率，还可以通过转换系数10-11A/cps(1cps表示每秒钟一个计数或计数率为1)将计算的计数率转换成电流。
[0053] 在本实施例中，对于源量程的涂硼正比计数器，主要检测其坪特性曲线和甄别阈曲线，计数率和
电极收集电荷的数量有关；根据所述计数率与源量程探测器偏置电压信号获取源量程探测器的坪特性曲线和甄别阈曲线；在
辐射源照射强度不变以及甄别阈不变的情况下，根据计数率随源量程探测器偏置电压变化得到的曲线为坪特性曲线，如图2所示的偏置电压随计数率变化的坪特性曲线示意图，当偏置电压超过某一值时，计数率迅速增大，当偏置电压继续升高时，计数率随偏置电压的升高略有增大，并且有一个明显的坪区B存在；在坪区B，若计数率仍随偏置电压的升高而略有增大，表现为坪有坡度，可以成为坪斜。
[0054] 在本实施例中，根据源量程探测器的坪特性曲线，可以确定源量程探测器的工作高压，根据图2中的坪特性曲线中的坪区B部分，源量程探测器的工作电压选择在坪区B的前1/3处，如图中可以确定源量程探测器的工作电压为750V。
[0055] 在本实施例中，甄别阈是指为消除由γ射线和噪声脉冲所产生的寄生干扰而在源量程测量通道中设置的可调
门槛电压；维持中子通量和偏置电压不变，获取的源量程探测器的计数率和甄别阈之间的关系曲线为甄别阈曲线，根据甄别阈曲线，可以对甄别值进行设定，可以通过电位器进行设定控制，也可以通过信号处理部分的操作面板进行输入设定。
[0056] 进一步的，所述对放大并调理后的所述指标数据进行运算处理，获取试验数据，还包括：
[0057] 计算中间量程探测器的电流信号；
[0058] 根据计算后的电流信号控制电流放大电路中间量程档位的切换。
[0059] 在本实施例中，对中间量程探测器产生的中子电流进行放大和整形，通过
现场可编程门阵列FPGA处理平台，计算电流信号的大小；其中，可以测量的电流范围为10-11A～10-3A，每个档位可以输出0～10V的直流电压信号。经过对输出的直流电压信号的运算处理，可以控制中间量程放大档位的切换。
[0060] 进一步的，所述对放大并调理后的所述指标数据进行运算处理，获取试验数据，还包括：
[0061] 根据所述电流信号和中间量程探测器高压信号，获取中间量程探测器的坪特性曲线和负高压曲线；
[0062] 根据所述中间量程探测器的负高压曲线确定所述中间量程探测器的补偿高压。
[0063] 在本实施例中，对于中间量程的补偿电离室工作在饱和区，中间量程探测器的偏置电压随电流信号的变化曲线为中间量程探测器的坪特性曲线，负高压的幅值随时间的变化曲线为负高压曲线。根据负高压曲线确定中间量程探测器的补偿负高压，如图3所示的中间量程补偿负高压曲线示意图；根据图中的时间参量ΔT和源量程计数率N来确定补偿负高压，其中，T0是机组跳堆或次
临界点的时间(IRC曲线的拐点)，T1是指功率下降达到该中间量程通道P6出现时的时间，两者差值为ΔT＝T1-T0，通过在曲线上读取P6非出现时(即源量程投运时)的源量程计数率N，并按表1中的标准确定补偿负高压。另外，参量ΔT和N的标准分别为10min<ΔT<40min，5000C/S
[0064]
[0065] 表1
[0066] 需要说明的是，若中间量程探测器补偿电压过大，则在停机过程中使中间量程电流下降过快，1/2中间量程中子通量测量值超过定值P6非提早出现，源量程在投运时技术过高，存在跳堆
风险；若中间量程探测器补偿电压不足，则无法将γ射线产生的电流滤除，中间量程电流下降太慢，P6非出现过晚，存在源量程不能按时投运的风险；因此若其中一个参量(ΔT或计数率N)超出标准，则根据表1调整中间量程通道的补偿电压。
[0067] 步骤S104，根据所述试验数据评估所述探测器的性能。
[0068] 在本实施例中，所述的试验数据包括源量程探测器的坪特性曲线，源量程探测器的甄别阈曲线，以及中间量程探测器坪特性曲线；根据试验数据相关的曲线评估探测器的性能，所述探测器的性能包括探测器
探头的灵敏度、老化状态。
[0069] 进一步的，所述根据所述试验数据评估所述探测器的性能，包括：
[0070] 根据所述中间量程探测器的坪特性数据，判断是否需要更换中间量程探测器的探头。
[0071] 在本实施例中，通过中间量程探测器的坪特性曲线判断中间量程探测器的降级程度以及根据降级程度判断是否需要更换探头。如图4所示的中间量程探测器的坪特性曲线，在高压V1至V3之间为坪特性曲线的平坦区，V0为额定电压Vn对应饱和电流的20％所对应的电压值；为了表征坪特性曲线的斜率，定义了参量P，
[0072] 其中，V0代表中间量程探测器的初始灵敏度，V0越高，探头降级程度越大。当坪特性曲线发生较大的
变形，或V0大于70V，表示探头开始降级，需要每三个月通过饱和坪特性曲线监测探头是否老化；若坪特性曲线继续变形，或V0大于140V或P大于6％，则在下次反应堆停堆更换探头。
[0073] 另外，对于功率量程的长电离室和中间量程的补偿电离室的坪特性曲线相似，但对于探头的判断标准不同，若功率量程长电离室的坪特性曲线变形较为严重或V0大于30V时，表示探头开始降级，从而增加探头老化方面检测的
频率，例如每三个月进行一次坪特性曲线的分析；若曲线继续变形或V0大于60V或P大于1.5％，则在下一次反应堆停堆时更换探头。
[0074] 进一步的，所述根据所述试验数据评估所述探测器的性能，还包括：
[0075] 根据所述甄别阈数据评估所述源量程探测器的老化状态。
[0076] 在本发明实施例中，源量程探测器的甄别阈曲线可以灵敏的反映探测器内部气体放大倍数的变化，可以作为评估源量程探测器老化状态的依据。如图5所示的源量程探测器的甄别阈曲线，为便于
跟踪探测器的老化趋势，对探测器平坦区的降级进行定量标识，设置了参量△C，
[0077]
[0078] △C的降级，即△C大于60％时，表明探测器气体放大倍数的变化，进一步反映了探测器的老化情况。
[0079] 另外，根据甄别阈曲线的拐点，也可以辅助判断探测器的老化情况。例如图6所示的利用甄别阈曲线拐点判断探测器老化的
流程图，C表示甄别阈曲线平坦区的老化程度，n表示甄别阈电位器的刻度值；根据甄别阈曲线，判断曲线是否存在拐点，若存在拐点且拐点位于甄别值3之前，则判断拐点是否在甄别值2之前，若拐点在甄别值2之前，且△C(甄别值2至甄别值4)小于60％，则调整甄别值为3，说明源量程通道和探头正常；若拐点在甄别值2之前，且△C(甄别值2至甄别值4)不小于60％，则结合高压坪特性曲线判断出探头老化，需要更换探头，并重新获取甄别阈曲线；若拐点在3之前，不在2之前，△C(甄别值3至甄别值5)不小于60％，则结合高压坪特性曲线判断出探头老化，需要更换探头，并重新获取甄别阈曲线；若拐点在3之前不在2之前，且△C(甄别值3至甄别值5)小于60％，则调整甄别值为4，并在源量程测量SAITB通道漂移可接受的情况下，对源量程测量通道SAITB进行周期性检查；若曲线不存在拐点，且△C(甄别值2至甄别值4)不小于60％，则结合高压坪特性曲线判断出探头老化，需要更换探头，并重新获取甄别阈曲线；若曲线不存在拐点，且△C(甄别值2至甄别值4)小于60％，则将甄别值调整到3，并在SAITB通道漂移可接受的情况下，对SAITB通道进行周期性的检查；若曲线存在拐点，但拐点不在3之前，则更换源量程测量通道SAITB并重新获取甄别阈曲线，并且表明SAITB通道漂移无法接受。
[0080] 进一步的，所述压水堆核电站仪表系统探测器试验处理方法还包括：根据所述试验数据，对信号处理组件进行测试或校准。
[0081] 在本实施例中，根据采集的探测器的指标数据，可以通过数据采集以及处理部分的组件内置的测试电路对信号处理组件进行远程校准或就地测试校准。
[0082] 通过本实施例，采集探测器的指标数据，对指标数据进行放大、调理以及运算处理，获取需要的试验数据，并根据试验数据对探测器的性能提前进行评估和验证，克服了无法对探测器的性能进行提前的测试与验证的技术问题；实现了对探测器的一定时间的离线拷机，确保了探测器质量和性能的可靠性。
[0083] 需要说明的是，本领域技术人员在本发明揭露的技术范围内，可容易想到的其他排序方案也应在本发明的保护范围之内，在此不一一赘述。
[0084] 应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
[0085] 参见图7，是本发明实施例提供的探测器试验处理装置的示意图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。
[0086] 所述压水堆核电站仪表系统探测器试验处理装置包括：
[0087] 数据采集单元71，用于采集探测器的指标数据；
[0088] 第一数据处理单元72，用于放大并调理所述指标数据；
[0089] 第二数据处理单元73，用于对放大并调理后的所述指标数据进行运算处理，获取试验数据；
[0090] 性能评估单元74，用于根据所述试验数据评估所述探测器的性能。
[0091] 进一步的，所述数据采集单元71包括：
[0092] 脉冲信号采集模
块，用于采集源量程探测器输出的脉冲信号；
[0093] 电流信号采集模块，用于采集中间量程探测器或功率量程探测器的电流信号。
[0094] 进一步的，所述第一数据处理单元72包括：
[0095] 脉冲调整电路，用于对所述脉冲信号进行放大、整形以及甄别处理；
[0096] 电流放大电路，用于对所述电流信号进行电流-电压I-V转换以及电压放大处理。
[0097] 进一步的，所述第二数据处理单元73包括：
[0098] 现场可编程门阵列FPGA电路，用于获取源量程探测器脉冲信号的计数率，根据所述计数率与源量程探测器的偏置电压获取源量程探测器的坪特性曲线和甄别阈曲线；还用于计算中间量程探测器的电流信号，根据所述电流信号和中间量程探测器高压信号，获取中间量程探测器的坪特性曲线和负高压曲线。
[0099] 通过本实施例，采集探测器的指标数据，对指标数据进行放大、调理以及运算处理，获取需要的试验数据，并根据试验数据对探测器的性能提前进行评估和验证，克服了无法对探测器的性能进行提前的测试与验证的技术问题；实现了对探测器的一定时间的离线拷机，确保了探测器质量和性能的可靠性。
[0100] 所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述移动终端的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用
硬件的形式实现，也可以采用
软件功能单元的形式实现。另外，各功能模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本
申请的保护范围。上述移动终端中模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0101] 图8是本发明一实施例提供的探测器试验处理系统的示意图。如图8所示，该实施例的探测器试验处理系统8包括：处理器80、存储器81以及存储在所述存储器81中并可在所述处理器80上运行的计算机程序82。所述处理器80执行所述计算机程序82时实现上述各个压水堆核电站仪表系统探测器试验处理方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤101至104。或者，所述处理器80执行所述计算机程序82时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图7所示模块71至74的功能。
[0102] 示例性的，所述计算机程序82可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器81中，并由所述处理器80执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序82在所述探测器试验处理系统8中的执行过程。
[0103] 所述探测器试验处理系统8可包括，但不仅限于，处理器80、存储器81。本领域技术人员可以理解，图8仅仅是探测器试验处理系统8的示例，并不构成对探测器试验处理系统8的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述探测器试验处理系统8还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
[0104] 所称处理器80可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、
数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、
专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他
可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是
微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
[0105] 所述存储器81可以是所述探测器试验处理系统8的内部存储单元，例如探测器试验处理系统8的
硬盘或内存。所述存储器81也可以是所述探测器试验处理系统8的外部存储设备，例如所述探测器试验处理系统8上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器81还可以既包括所述探测器试验处理系统8的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器81用于存储所述计算机程序以及所述探测器试验处理系统8所需的其他程序和数据。所述存储器81还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
[0106] 所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0107] 在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
[0108] 本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及
算法步骤，能够以
电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
[0109] 在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些
接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0110] 所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0111] 另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
[0112] 所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、
只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、
随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和
专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。
[0113] 以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行
修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。
