光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法
专利汇可以提供光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，涉及一种测量涂层厚度的方法。为了解决目前采用测量涂层厚度的方法对测量的材料特性具有局限性的问题。采用脉冲加热设备在两种不同的脉冲强度下对被测涂层结构构件进行加热，并使用红外热像仪在相同 采样 频率 fs下采集被测涂层结构构件表面的热图序列T1(x,y,N)和T2(x,y,N)；将获得的两个热图序列相减，求得热波 信号 △T=T2(x,y,N)-T1(x,y,N)；对所有 像素 点的热波信号与采集 帧 数之间的关系进行线性拟合，得到△T(x,y,N)=aN+b；根据获得的a和b，结合公式求出被测涂层结构构件的涂层厚度ec。它用于测量涂层结构构件的涂层厚度。，下面是光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法专利的具体信息内容。
1.光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，其特征在于，
步骤一：采用脉冲加热设备在脉冲强度Q1下对被测涂层结构构件（1）进行加热，同时使用红外热像仪（3）在采样频率fs下采集被测涂层结构构件（1）表面的热图序列T1(x,y,N)，其中x×y为红外热像仪像素点数，N为采集的图像帧数；
步骤二：采用脉冲加热设备在脉冲强度Q2下对被测涂层结构构件（1）进行加热，同时使用红外热像仪（3）在采样频率fs下采集被测涂层结构构件（1）表面的热图序列T2(x,y,N)；
步骤三：将获得的热图序列T2(x,y,N)和热图序列T1(x,y,N)相减，获得热波信号△T=T2(x,y,N)-T1(x,y,N)；
步骤四：对所有像素点的热波信号△T(x,y,N)与采集帧数N之间的关系进行线性拟合，得到△T(x,y,N)=aN+b；
步骤五：根据步骤四获得的a和b，结合公式 求出被测涂层结构构件（1）的涂层厚度ec，其中αc为涂层的热扩散系数。
2.根据权利要求1所述的光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，其特征在于，所述脉冲加热设备为高能闪光灯（2）。
3.根据权利要求1所述的光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，其特征在于，所述步骤三、步骤四和步骤五均采用嵌入计算机4的软件来实现。
光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法
技术领域
背景技术
发明内容
具体实施方式
2
和Q2=9.5kW/m 对被测试件进行热激励，得到热图序列T1(x,y,N)和T2(x,y,N)。将T2(x,y,N)与T1(x,y,N)相减可得△T(x,y,N)。
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