修正楔形滤波器散射的方法、装置和相关设备
专利汇可以提供修正楔形滤波器散射的方法、装置和相关设备专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种修正楔形 滤波器 散射的方法、装置和相关计算机 断层 扫描设备。该修正楔形滤波器散射的方法包括：计算楔形滤波器的散射δ0在空气扫描情况下被接收到的输出δAirScan；计算所述楔形滤波器的散射δ0在扫描对象时被接收到的输出δObjectScan；根据δAirScan和δObjectScan修正所述对象的原始数据r。本发明的修正楔形滤波器散射的方法、装置和相关 计算机断层扫描 设备显著改善在被扫描对象或病人的边缘的图像 质量 ，并且能方便地实施于系统校准、数据预处理和图像重建流程中。在双能扫描中，本发明的效果尤为明显。，下面是修正楔形滤波器散射的方法、装置和相关设备专利的具体信息内容。
1.一种修正楔形滤波器散射的方法(100)，包括：
计算楔形滤波器的散射δ0在空气扫描情况下被接收到的输出δAirScan；
计算所述楔形滤波器的散射δ0在扫描对象时被接收到的输出δObjectScan；
根据δAirScan和δObjectScan修正所述对象的原始数据r。
2.如权利要求1所述的方法，其特征是，所述根据δAirScan和δObjectScan修正所述对象的原始数据r是根据下式修正所述对象的原始数据r：
r＝r+δObjectScan-δAirScan。
3.如权利要求1所述的方法，其特征是，所述计算楔形滤波器的散射δ0在空气扫描情况下的输出δAirScan包括：
计算所述楔形滤波器的散射δ0；
测量成像系统的冲击响应H(n2)，其中n2是以探测器单元为单位的冲击响应宽度；
根据下式计算δAirScan：
δAirScan＝H(n2)*δ0，其中“*”是卷积运算符。
4.如权利要求1所述的方法，其特征是，所述计算所述楔形滤波器的散射δ0在扫描对象时的输出δObjectScan包括：
计算所述楔形滤波器的散射δ0；
测量成像系统的冲击响应H(n2)，其中n2是以探测器单元为单位的冲击响应宽度；
确定对象对X射线的吸收曲线C；
根据下式计算δObjectScan：
δObjectScan＝H(n2)*{δ0·C}。
5.如权利要求4所述的方法，其特征是，所述吸收曲线C＝exp(-A)，其中exp()是指数函数，A是用矩阵形式表示的所述对象的衰减系数。
6.一种修正楔形滤波器散射的装置(200)，包括：
第一计算单元(202)，其计算楔形滤波器的散射δ0在空气扫描情况下被接收到的输出δAirScan；
第二计算单元(204)，其计算所述楔形滤波器的散射δ0在扫描对象时被接收到的输出δObjectScan；
修正单元(206)，其根据δAirScan和δObjectScan修正所述对象的原始数据r。
7.如权利要求6所述的装置(200)，其特征是，所述修正单元(206)根据下式修正所述对象的原始数据r：
r＝r+δObjectScan-δAirScan。
8.如权利要求6所述的装置(200)，其特征是，所述第一计算单元(202)包括：
第三计算单元(208)，其计算所述楔形滤波器的散射δ0；
测量单元(210)，其测量成像系统的冲击响应H(n2)，其中n2是以探测器单元为单位的冲击响应宽度；
第四计算单元(212)，其根据下式计算δAirScan：
δAirScan＝H(n2)*δ0，其中“*”是卷积运算符。
9.如权利要求6所述的装置(200)，其特征是，所述第二计算单元(204)包括：
第三计算单元(208)，其计算所述楔形滤波器的散射δ0；
测量单元(210)，其测量成像系统的冲击响应H(n2)，其中n2是以探测器单元为单位的冲击响应宽度；
确定单元(214)，其确定对象对X射线的吸收曲线C；
第五计算单元(216)，其根据下式计算δObjectScan：
δObjectScan＝H(n2)*{δ0·C}。
10.如权利要求9所述的装置(200)，其特征是，所述吸收曲线C＝exp(-A)，其中exp()是指数函数，A是用矩阵形式表示的所述对象的衰减系数。
11.一种计算机断层扫描设备，包括如权利要求6至10中任一项所述的装置。
修正楔形滤波器散射的方法、装置和相关设备
技术领域
背景技术
发明内容
具体实施方式
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